Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "sine fitting" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-4 z 4
    Tytuł:
    DSPIC - Based impedance measuring instrument
    Autorzy:
    Santos, J.
    Ramos, P. M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/220477.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    impedance measurement
    dsPIC
    ADC
    sine-fitting
    Opis:
    An implemented impedance measuring instrument is described in this paper. The device uses a dsPIC (Digital Signal Peripheral Interface Controller) as a processing unit, and a DDS (Direct Digital Synthesizer) to stimulate the measurement circuit composed by the reference impedance and the unknown impedance. The voltages across the impedances are amplified by programmable gain instrumentation amplifiers and then digitized by analog to digital converters. The impedance is measured by applying a seven-parameter sine-fitting algorithm to estimate the sine signal parameters. The dsPIC communicates through RS-232 or USB with a computer, where the measurement results can be analyzed. The device also has an LCD to display the measurement results.
    Źródło:
    Metrology and Measurement Systems; 2011, 18, 2; 185-198
    0860-8229
    Pojawia się w:
    Metrology and Measurement Systems
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Accurate Frequency Estimation Based On Three-Parameter Sine-Fitting With Three FFT Samples
    Autorzy:
    Liu, X.
    Ren, Y.
    Chu, C.
    Fang, W.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/220451.pdf
    Data publikacji:
    2015
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    frequency estimation
    CRLB
    three-parameter sine-fitting
    RMSE
    golden section
    Opis:
    This paper presents a simple DFT-based golden section searching algorithm (DGSSA) for the single tone frequency estimation. Because of truncation and discreteness in signal samples, Fast Fourier Transform (FFT) and Discrete Fourier Transform (DFT) are inevitable to cause the spectrum leakage and fence effect which lead to a low estimation accuracy. This method can improve the estimation accuracy under conditions of a low signal-to-noise ratio (SNR) and a low resolution. This method firstly uses three FFT samples to determine the frequency searching scope, then – besides the frequency – the estimated values of amplitude, phase and dc component are obtained by minimizing the least square (LS) fitting error of three-parameter sine fitting. By setting reasonable stop conditions or the number of iterations, the accurate frequency estimation can be realized. The accuracy of this method, when applied to observed single-tone sinusoid samples corrupted by white Gaussian noise, is investigated by different methods with respect to the unbiased Cramer-Rao Low Bound (CRLB). The simulation results show that the root mean square error (RMSE) of the frequency estimation curve is consistent with the tendency of CRLB as SNR increases, even in the case of a small number of samples. The average RMSE of the frequency estimation is less than 1.5 times the CRLB with SNR = 20 dB and N = 512.
    Źródło:
    Metrology and Measurement Systems; 2015, 22, 3; 403-416
    0860-8229
    Pojawia się w:
    Metrology and Measurement Systems
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Precision of the Sinefitting-Based Total Harmonic Distortion Estimator
    Autorzy:
    Alegria, F. C.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/220913.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    Total Harmonic Distortion
    noise
    sine wave fitting
    Opis:
    An analytical expression for the standard deviation of Total Harmonic Distortion (THD) estimation is derived. It applies to the case where the estimator uses sine fitting. It is shown that, in common circumstances, it is inversely proportional to the actual value of THD, the signal-to-noise ratio and the square root of the number of samples. The proposed expression is validated both with numerical simulations and an experimental setup using a Monte Carlo procedure.
    Źródło:
    Metrology and Measurement Systems; 2016, 23, 1; 37-46
    0860-8229
    Pojawia się w:
    Metrology and Measurement Systems
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Szacowanie niepewności aparaturowej w algorytmicznych pomiarach impedancji metodą Monte Carlo
    Estimation of the instrument uncertainty in an algorithmic impedance measurements by Monte Carlo method
    Autorzy:
    Augustyn, J.
    Misiowiec, G.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/156589.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    algorytmy pomiarowe
    dopasowanie do sinusoidy
    dopasowanie do elipsy
    analiza głównych składowych
    pomiary składowych impedancji
    metoda Monte Carlo
    budżet niepewności
    measurement algorithms
    sine fitting
    ellipse fitting
    principal component analysis
    measurement of impedance components
    Monte Carlo method
    uncertainty budget
    Opis:
    W artykule przedstawiono ocenę niepewności aparaturowej pomiaru modułu i kąta fazowego impedancji za pomocą algorytmu dopasowania do sinusoidy oraz dwóch wersji algorytmu dopasowania do elipsy - klasycznej i zmodyfikowanej o algorytm analizy składowych głównych. Metodą Monte Carlo wyznaczono budżety niepewności dla badanych algorytmów oraz macierze niepewności. Wykazano, że podstawowym źródłem niepewności aparaturowej jest błąd wzmocnienia - dla modułu impedancji i szum wejściowy - dla kąta fazowego.
    An estimation of the instrument uncertainty of magnitude and phase angle measurement of impedance by using sine fitting algorithm, and the two versions of ellipse-fitting algorithm – the classical and the modified by algorithm of principal component analysis (PCA) is presented in the paper. In the sine fitting algorithm, based on LMS method, the values of orthogonal components of voltage and current (3) are used to calculate the impedance components |Z| and , from Eq. (4). In the classical ellipse fitting algorithm, based on the determined value of the parameter vector a (Eq. (6)), the impedance components are calculated from Eq. (7). In the modified ellipse fitting algorithm, the measuring system is supplemented by an additional acquisition channel of the generator signal. The classical ellipse fitting algorithm is then preceded by a fitting to the plane algorithm, using the method of principal components analysis [7]. Histograms in Figs. 1 and 2 show relative measurement errors impedance components obtained by the Monte Carlo method. Uncertainty budgets were determined for the tested algorithms as well as the uncertainty matrices. In the Tabs. 2 and 3 are shown the contributions to the standard uncertainty of the various uncertainty sources. It has been shown that the basic source of the uncertainty is the gain error - for the magnitude of impedance, and the input noise - for the phase angle. Components values of the combined standard uncertainty of impedance values estimation and the shape of probability distribution depend on the form of a processing algorithm.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 6, 6; 395-397
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-4 z 4

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies