Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "sigma-delta ADC" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-5 z 5
Tytuł:
The advantage of using MAX 1407 S-D ADC as a Data Acquisition tool
Akwizycja danych przy wykorzystaniu modułu S-D ADC zawartego w układzie MAX 1407
Autorzy:
Kurytnik, I.
Borowik, B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/157960.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
konwerter analogowo-cyfrowy
Σ-∆ ADC
sigma-delta ADC
systemy pozyskiwania danych
mikrokontroler
analog-digital converter
microcontroller
PICmicro
Opis:
The Σ-Δ (Analog Digital Converter) is presented as a tool for the Data Acquisition. Given are mathematical formulas for determining the quantization error and the Effective Number of Bits. Also given are schematic diagrams of the Σ-Δ modulator. Finally the implementation of the Σ-Δ Analog Digital Converter - the device MAX 1407 is shortly described. The schematic diagram with the application circuit using the mentioned device is presented and described.
W pracy przedstawiono wykorzystanie konwertera analogowo-cyfrowego Σ-Δ (Analog Digital Converter) jako narzędzia pozyskiwania danych w zestawie pomiarowym. Objaśniona jest metodologia pomiaru przy zastosowaniu Σ-Δ. Podane są schematy ideowe modulatora Σ-Δ. Opisany jest rozpatrywany zestaw pomiarowy, zawierający mikrokontroler PIC16F628 oraz układ 16-bitowy Multichannel DAS (Data Acquisition System) MAX1407.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 12, 12; 73-75
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Sampling Jitter in Audio A/D Converters
Autorzy:
Kulka, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/177046.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
analog-to-digital converter
ADC
successive approximation register (SAR)
sigma-delta ADC
sample-and-hold circuit
DT sigma delta modulator
CT sigma delta modulator
time jitter
aperture jitter
clock jitter
periodic clock jitter
signal-to-noise ratio (SNR)
Opis:
This paper provides an overview of the effects of timing jitter in audio sampling analog-to-digital converters (ADCs), i.e. PCM (conventional or Nyquist sampling) ADCs and sigma-delta (ΣΔ) ADCs. Jitter in a digital audio is often defined as short- term fluctuations of the sampling instants of a digital signal from their ideal positions in time. The influence of the jitter increases particularly with the improvements in both resolution and sampling rate of today’s audio ADCs. At higher frequencies of the input signals the sampling jitter becomes a dominant factor in limiting the ADCs performance in terms of signal-to-noise ratio (SNR) and dynamic range (DR).
Źródło:
Archives of Acoustics; 2011, 36, 4; 831-849
0137-5075
Pojawia się w:
Archives of Acoustics
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Advances in Digitization of Microphones and Loudspeakers
Autorzy:
Kulka, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/177402.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
electret condenser microphone
digital microphone
CMOS-MEMS digital microphone
digital microphone array
sigma-delta ADC/DAC
digital loudspeaker
CMOS-MEMS digital loudspeaker
digital loudspeaker array
Opis:
The development of digital microphones and loudspeakers adds new and interesting possibilities of their applications in different fields, extended from industrial, medical to consumer audio markets. One of the rapidly growing field of applications is mobile multimedia, such as mobile phones, digital cameras, laptop and desktop PCs, etc. The advances have also been made in digital audio, particularly in direct digital transduction, so it is now possible to create the all-digital audio recording and reproduction chains potentially having several advantages over existing analog systems.
Źródło:
Archives of Acoustics; 2011, 36, 2; 419-436
0137-5075
Pojawia się w:
Archives of Acoustics
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
VHDL-Ams Model of the Integrated Membrane Micro-Accelerometer with Delta-Sigma (Δσ) Analog-To-Digital Converter for Schematic Design Level
Autorzy:
Golovatyj, А.
Teslyuk, V.
Kryvyy, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/411400.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Oddział w Lublinie PAN
Tematy:
Micro-Electro-Mechanical Systems (MEMS)
micromechanical sensitive element
integrated membrane micro-accelerometer
delta-sigma modulation
pulse width modulation (PWM)
delta-sigma analog-todigital converter (ADC)
one bit digital-to-analog converter (DAC)
VHDL-AMS hardware description language
hAMSter software
schemotechnical design level
Opis:
VHDL-Ams model of integrated membrane type micro-accelerometer with delta-sigma (ΔΣ) analog-to-digital converter for schematic design level was developed. It allows simulating movement of the sensitive element working weigh from the applied acceleration, differential capacitor and original signal capacity change, signal digitizing with the help of DeltaSigma ADC with defined micro-accelerometer structural parameters, and analyzze an integrated device at the schemotechnical design level.
Źródło:
ECONTECHMOD : An International Quarterly Journal on Economics of Technology and Modelling Processes; 2015, 4, 2; 65-70
2084-5715
Pojawia się w:
ECONTECHMOD : An International Quarterly Journal on Economics of Technology and Modelling Processes
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Estimating the noise-related error in continuous-time integrator-based ADCs
Autorzy:
Gosselin, P.
Koukab, A.
Kayal, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/398023.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
noise
white noise
flicker noise
error
accuracy
standard deviation
variance
integrator-based ADC
incremental
Sigma-Delta
szum
szum biały
fliker-szum
błąd
dokładność
odchylenie standardowe
wariancja
ADC
Opis:
From first-order incremental ΣΔ converters to controlled-oscillator-based converters, many ADC architectures are based on the continuous-time integration of the input signal. However, the accuracy of such converters cannot be properly estimated without establishing the impact of noise. In fact, noise is also integrated, resulting in a random error that is added to the measured value. Since drifting phenomena may make simulations and practical measurements unable to ensure longterm reliability of the converters, a theoretical tool is required. This paper presents a solution to compute the standard deviation of the noise-generated error in continuous-time integrator-based ADCs, under the assumption that a previous measure is used to calibrate the system. In addition to produce a realistic case, this assumption allows to handle a theoretical issue that made the problem not properly solvable. The theory is developed, the equations are solved in the cases of pure white noise, pure flicker noise and low-pass filtered white noise, and the implementation issues implied by the provided formulas are addressed.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2016, 7, 2; 54-59
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-5 z 5

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies