Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "scanning probe" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-10 z 10
    Tytuł:
    ARMScope – the versatile platform for scanning probe microscopy systems
    Autorzy:
    Świadkowski, Bartosz
    Piasecki, Tomasz
    Rudek, Maciej
    Świątkowski, Michał
    Gajewski, Krzysztof
    Majstrzyk, Wojciech
    Babij, Michał
    Dzierka, Andrzej
    Gotszalk, Teodor
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/221551.pdf
    Data publikacji:
    2020
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    Scanning probe microscopy
    AFM
    Kelvin Probe force microscopy
    scanning tunnelling microscopy
    Opis:
    Scanning probe microscopy (SPM) since its invention in the 80’s became very popular in examination of many different sample parameters, both in university and industry. This was the effect of bringing this technology closer to the operator. Although the ease of use opened a possibility for measurements without high labour requirement, a quantitative analysis is still a limitation in Scanning Probe Microscopes available on the market. Based on experience of Nano-metrology Group, SPM still can be considered as a tool for quantitative examination of thermal, electrical and mechanical surface parameters. In this work we present an ARMScope platform as a versatile SPM controller that is proved to be useful in a variety of applications: from atomic-resolution STM (Scanning Tunnelling Microscopy) to Multi-resonance KPFM (Kelvin Probe force microscopy) to commercial SEMs (Scanning electron microscopes).
    Źródło:
    Metrology and Measurement Systems; 2020, 27, 1; 119-130
    0860-8229
    Pojawia się w:
    Metrology and Measurement Systems
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Probe radius correction methods - review and comparison of existing methods
    Autorzy:
    Rak, A.
    Woźniak, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/385250.pdf
    Data publikacji:
    2009
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
    Tematy:
    coordinate measuring machine (CMM)
    scanning probe
    probe tip radius correction
    Opis:
    Scanning technology has been becoming more common then ever. Scanning offers new and effective possibilities of measurement. Nowadays planning, production and assembling without high accurate metrology is impossible. Measurement of small, curved elements became much easier with great development of mechanical components of measure machines, such as: guideways, transducers, bearings, servomechanisms. All this improvement made possible to collect with good accuracy points in high density. Algorithms, and computer software were greatly improved as well. Especially, many efforts were put on probe radius correction algorithms development. In this paper a review and a comparison of probe radius correction methods are shown.
    Źródło:
    Journal of Automation Mobile Robotics and Intelligent Systems; 2009, 3, 4; 169-171
    1897-8649
    2080-2145
    Pojawia się w:
    Journal of Automation Mobile Robotics and Intelligent Systems
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Model kinetyczny przetwornika pasywnych głowic skaningowych CMM
    Kinetic model of CMM scanning passive probe transducer
    Autorzy:
    Krajewski, G.
    Woźniak, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/155447.pdf
    Data publikacji:
    2010
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    głowica skanująca
    współrzędnościowa maszyna pomiarowa
    CMM
    scanning probe
    coordinate measuring machine
    Opis:
    W artykule przedstawiono analizę teoretyczną budowy przetwornika głowic skaningowych pasywnych stosowanych do pomiarów w technice współrzędnościowej. W efekcie podjętych prac autorzy otrzymali wstępny model dynamiczny pracy głowic, który może posłużć do kompensacji ich błędów powstałych na skutek zwiększenia prędkości pomiarowej.
    Scanning probes, also known as measuring probes, are one of the most often used equipment of coordinate measuring machines (CMM) owing to ability of collecting large number of measuring points as well as taking fast measurements. High speed of measurements and high accuracy of the measuring system are two critical parameters deciding about the machine effectiveness. Dynamics is the most significant factor limiting the measurement accuracy. In most investigations of scanning CMM there is not separated the probing system performance from other sources of the machine errors, so the true error influenced by the probing system is not profoundly determined. This paper presents the scanning probe model regardless of the machine links. The worked out model allows for better understanding of the probing process with higher speed and optimising the measuring process. The future works will aim at proposing optimisation algorithms and applying them to the probing system as well as obtaining improvement in the accuracy.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 1, 1; 50-51
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Problemy związane z korekcją promienia końcówki pomiarowej podczas skaningowych pomiarów współrzędnościowych
    Difficulties with the corrected measured point determination in coordinate metrology
    Autorzy:
    Woźniak, A.
    Mayer, M.
    Cote, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/153572.pdf
    Data publikacji:
    2007
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    Współrzędnościowa Maszyna Pomiarowa
    WMP
    sonda głowica skaningowa
    korekcja promienia końcówki
    Coordinate Measuring Machine
    CMM
    scanning probe
    probe radius compensation
    Opis:
    W artykule przedstawiono analizy teoretyczne i badania doświadczalne potwierdzające, że korekcja promienia końcówki pomiarowej może być istotnym źródłem błędów podczas saningowych pomiarów przeprowadzanych na maszynach współrzędnościowych. Przedstawiono wyniki pomiarów przykładowego elementu na maszynie Mitutoyo LEGEX 910 CMM wyposażonej w sondę skaningową MPP-300, ze wskazaniem mechanizmów złej korekcji promienia końcówki pomiarowej.
    Paper discusses an understanding for the compensation of the probe ball radius in a scanning process carried out by coordinate measuring machines (CMM). According to some initial trials of scanning measurement using the stylus tip radius correction built-in the CMM software, it was found, as will be shown in the paper, that the indigenous CMM software do not compensate the stylus tip radius well. As a result, the information about the real shape of the measured reatures can be distored. The difficulties with the corrected measured point determination will be demonstrate no the basis of tests were carried out on a Mitutoyo LEGEX 910 CMM equipped with a MPP-300 scanning probe.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 485-488
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Analysis of the electrolytically polished skeletal dentures surfaces using various nano- and microscopic technologies
    Autorzy:
    Dąbrowa, Tomasz
    Majstrzyk, Wojciech
    Tamulewicz, Magdalena
    Piasecki, Tomasz
    Kunicki, Piotr
    Więckiewicz, Włodzimierz
    Gotszalk, Teodor
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/306706.pdf
    Data publikacji:
    2019
    Wydawca:
    Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
    Tematy:
    chropowatość powierzchni
    skaningowa mikroskopia elektronowa
    proteza ruchoma
    mikroskopia skaningowa
    surface roughness
    scanning electron microscopy
    removable partial denture
    scanning probe microscopy
    optical profilometry
    Opis:
    The surface roughness of the dental restorations is significant to the denture plaque adhesion. Methods: In this work, we present the complex analysis of the electropolished CoCrW alloy remanium® star (Dentaurum, Germany) samples with laserengraved fiducial marks performed using complementary set of micro- and nanoscopic techniques: optical profilometry (OP), atomic force microscopy (AFM), scanning electron microscopy (SEM) and focused ion beam (FIB) milling. Results: Both mean and RMS roughness of the samples were reduced by electopolishing process, however, the results obtained using OP and AFM exhibited some discrepancies. This was caused by the relatively high local protruding defects developed on the processed surface. The cross-sections of the protrusions were made to analyze the cause of their formation as the EDS elemental content maps revealed that their composition was uniform. We also analyzed the local roughness in the smaller areas free from the defects. Conclusions: In that case, both OP and AFM techniques delivered the same results. Analysis of results showed that various methods used for the surface roughness evaluation have to be used simultaneously to obtain complete and true analysis of the technological CoCrW samples.
    Źródło:
    Acta of Bioengineering and Biomechanics; 2019, 21, 4; 123-129
    1509-409X
    2450-6303
    Pojawia się w:
    Acta of Bioengineering and Biomechanics
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Interferometer-based scanning probe microscope for high-speed, long-range, traceable measurements
    Mikroskop z sondą skanującą na bazie interferometru do szybkich spójnych pomiarów małych przemieszczeń o dużym zakresie
    Autorzy:
    Vorbringer-Dorozhovets, N.
    Manske, E.
    Jäger, G.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/153193.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    nanopositioning and nanomeasuring machine
    metrological scanning probe microscope
    SPM
    AFM
    maszyna nanopozycjonująca i nanopomiarowa
    metrologiczny mikroskop z sondą skanującą
    Opis:
    The specialty of the metrological SPM-head is the combined deflection detection system for simultaneous acquisition of bending, torsion and position of the cantilever with one measuring beam. The deflection system comprises a beam deflection and an interferometer in such a way that measurements of the cantilever displacement are traceable to the SI unit metre. Integrated into a NPM machine scans with a resolution of 0.1 nm over a range of 25 mm × 25 mm are possible.
    W artykule przedstawiono wyniki dotyczące opracowanej i zrealizowanej w Ilmenau University of Technology (Niemcy) maszyny Nano-pozycjonującej (NPM), która zapewnia nanometrową rozdzielczość oraz niepewność 3D pozycjonowania oraz pomiaru w zakresie 25 mm × 25 mm × 5 mm. Jednym ze składowych elementów tej maszyny, od którego zależą jej własności metrologiczne, jest mikroskop z sondą skanującą (SPM) na bazie interferometru, którego koncepcję przedstawiono na (rys. 1). Wykonana według tej koncepcji głowica metrologicznego SPM została zintegrowana z NPM maszyny (rys. 2). Osobliwością głowicy SPM jest system dla jednoczesnej akwizycji ugięcia, skręcania i pozycji belki wspornikowej tylko z jednej wiązki światła (rys. 1). Zostały wykonane badania dokładności pozycjonowania i pomiaru przy różnych szybkościach skanowania obiektu badanego od 1 µm/s do 1 mm/s. Przykładowe wyniki skanowania przedstawiono na rys. 3, 4. W celu wyznaczania jakości tych wyników oraz kalibracji SPM został wykorzystany zestaw wzorców wysokości skokowych z Physikalisch-Technische Bundesanstalt – PTB (rys. 6), oraz wykonane w specjalny sposób wzorce testowych wskaźników odniesienia rozstawionych na stosunkowo dużych odległościach (rys. 7). Uzyskane z SPM wyniki pomiarów wzorców wysokości oraz niepewności tych wyników wykazały bardzo dobrą zbieżność z wartościami wielkości tych wzorców (tab. 1). Wyznaczona powtarzalność wyników jest na poziomie poniżej 0.2 nm. Bardzo dobre wyniki uzyskano przy pomiarach testowych wskaźników odniesienia, powtarzalność wyników pomiaru centrów współrzędnych wskaźników wynosi poniżej 5 nm (tab. 2).
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 2, 2; 69-72
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Analiza obrazów powierzchni w mikroskopii bliskich oddziaływań
    Surface Image Analysis in Scanning Probe Microscopy
    Autorzy:
    Jóźwiak, G.
    Gotszalk, T.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/155430.pdf
    Data publikacji:
    2010
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    mikroskopia bliskich oddziaływań
    analiza topografii powierzchni
    analiza motywów 3D
    scanning probe microscopy
    surface analysis
    3D motif analysis
    Opis:
    W pracy przedstawiono wybrane metody analizy powierzchni (ISO 25178) wskazując na rodzaj informacji, jaką można za pomocą danej metody uzyskać. Opisywane algorytmy i procedury zostały zaimplementowane w opracowanym w Wydziałowym Zakładzie Metrologii Mikro- i Nanostruktur Politechniki Wrocławskiej programie TOPOGRAF. W pracy zaprezentowano przykładowe wyniki działania zaimplementowanych algorytmów i procedur.
    Progress in the scanning probe microscopy makes it become a much more common tool. In the paper the principle of operation of the scanning probe microscope is presented. It is emphasized that the measurement result is an image of the investigated surface. Two groups of parameters connected with lateral properties of the tested surface image are introduced. The first group of parameters is connected with the image autocorrelation function and two dimensional Fourier transform. The texture aspect ratio and surface autocorrelation length (Fig. 1) are given as examples of the autocorrelation parameters. The second group of parameters is related to the so called 3D motif analysis. At the first stage of this analysis the image is segmented by means of the watershed segmentations algorithm. At the second stage the statistics connected with the shape and dimensions of the segments are calculated. The segmentation algorithm as well as the parameters describing shape and dimensions of segments (Fig 2) are presented in the paper. Due to the quantum nature of the micro- and nano-world, the uncertainty of products of the micro and nanotechnology will always be greater than that of products of the conventional technology. For this reason there is strong demand for flexible techniques capable of handling this increased uncertainty. The 3D motif analysis is very well suited to meet this challenge, since it enables the extension of the basic set of the parameters describing segments. Therefore the segment parameters might be adapted to the function of the investigated nanostructures. The images presented in the paper were obtained by means of the TOPOGRAF software that is developed at the Division of Micro- and Nanostructures Metrology.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 1, 1; 46-47
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    The method of obtaining the spectral characteristics of the scanning probe microscope
    Sposób uzyskania charakterystyki widmowej sondy skanującej mikroskopu
    Autorzy:
    Kataieva, Mariia
    Kvasnikov, Vladimir
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/2174702.pdf
    Data publikacji:
    2021
    Wydawca:
    Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
    Tematy:
    nano-measurement
    digital signal processing
    scanning probe microscope
    Fourier transform
    nano-pomiar
    cyfrowe przetwarzanie sygnału
    mikroskop z sondą skanującą
    transformata Fouriera
    Opis:
    The article discusses methods and algorithms for digital processing and filtering when carrying out nano-measurements using a scanning probe microscope. The paper discusses frequency methods for improving images, in particular, the use of the Fourier transforms with various filtering methods to improve the quality of the resulting image. Stable computational algorithms have been developed for transforming discrete signals based on the Fourier transform. Methods for the interpretation of the numerical results of the discrete Fourier transform in such packages as Matlab, MathCad, Matematica are presented. It is proposed to use a window transform, developed based on the Fourier transform, which makes it possible to single out the informative features of the signal and to reduce the influence of the destabilizing factors that arise when processing signals from a scanning gold microscope in real conditions.
    W artykule omówiono metody i algorytmy cyfrowego przetwarzania i filtracji podczas nano-pomiarów z wykorzystaniem mikroskopu z sondą skanującą. Badane są metody korekcji częstotliwości obrazu, w szczególności wykorzystanie transformaty Fouriera z różnymi metodami filtracji w celu poprawy jakości otrzymanego obrazu. Opracowano stabilne algorytmy obliczeniowe do konwersji sygnałów dyskretnych na podstawie transformaty Fouriera. Przedstawiono metody interpretacji numerycznych wyników dyskretnej transformaty Fouriera w takich pakietach jak Matlab, MathCad, Matematica. Proponuje się zastosowanie transformacji okienkowej opracowanej na podstawie transformaty Fouriera, która pozwala wyodrębnić charakterystykę informacyjną sygnału i zmniejszyć wpływ czynników destabilizujących występujących podczas przetwarzania sygnału z mikroskopu z sondą skanującą w warunkach rzeczywistych.
    Źródło:
    Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2021, 11, 2; 52--55
    2083-0157
    2391-6761
    Pojawia się w:
    Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Digital contact potential probe in studying the deformation of dielectric materials
    Miernik cyfrowy do pomiarów kontaktowej różnicy potencjałów przeznaczony do kontroli deformacji materiałów dielektrycznych
    Autorzy:
    Pantsialeyeu, Konstantsin
    Zharin, Anatoly
    Gusev, Oleg
    Vorobey, Roman
    Tyavlovsky, Andrey
    Tyavlovsky, Konstantin
    Svistun, Aliaksandr
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1841341.pdf
    Data publikacji:
    2020
    Wydawca:
    Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
    Tematy:
    surface charge distribution
    contact potential difference
    Scanning Kelvin Probe
    dielectric material
    rozkład ładunku powierzchniowego
    kontaktowa różnica potencjałów
    skanująca sonda Kelvina
    materiał dielektryczny
    Opis:
    The paper reviews theresults of a study on the surface electrostatic chargesof dielectrics obtained using the contact potential difference (CPD) technique. Initially,the CPD technique was only applied to the study of metal and semiconductor surfaces. The conventional CPD measurement technique requires full compensation of the measured potential that, in thecase of dielectrics, could reach very high values. Such high potentials are hardto compensate. Therefore, the conventional CPD method is rarely applied inthe study of dielectric materials. Some important improvements recently made to the CPD measurementtechnique removedthe need for compensation.The new method, which does not require compensation, has been implementedin the form of a digital Kelvin probe.The paper describes the principlesof the non-compensation CPD measurement technique which was developedfor mapping the electrostatic surface charge space distribution acrossa wide range of potential values. The study was performed on polymers suchas low-density polyethylene (LDPE) and polytetrafluoroethylene (PTFE).
    W artykule przedstawiono wyniki badań rozkładu wymuszonych ładunków na powierzchni dielektryków metodą kontaktowej różnicy potencjałów (angl. CPD). Wcześniej metoda CPD była stosowana jedynie do badań powierzchni metali lub półprzewodników. Trudności stosowania metody CPD w stosunku do dielektryków wynikają z konieczności całkowitej kompensacji potencjału powierzchniowego, wartość którego może być wysoka. W praktyce taka kompensacjamoże być utrudniona. W związku z tym metoda CPD nie jest stosowana do badań dielektryków. Ostatnio do technikipomiarów metodą CPD wprowadzono szereg udoskonaleń, które wyeliminowały konieczność całkowitej kompensacji mierzonych wartości. Nowa metoda, która nie wymaga kompensacji, została zrealizowana w postacicyfrowej sondy Kelvina. W artykule przeanalizowano zasady działania sondy nie wymagającej kompensacji oraz jej zastosowanie do określenia rozkładu ładunku na powierzchni dielektryków w szerokim zakresie wartości potencjału. Badania przeprowadzono na materiałach polimerowych, takich jak polietylen o małej gęstości (LDPE) i politetrafluoroetylen (PTFE).
    Źródło:
    Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2020, 10, 4; 57-60
    2083-0157
    2391-6761
    Pojawia się w:
    Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Digital contact potential probe in studying the deformation of dielectric materials
    Miernik cyfrowy do pomiarów kontaktowej różnicy potencjałów przeznaczony do kontroli deformacji materiałów dielektrycznych
    Autorzy:
    Pantsialeyeu, Konstantsin
    Zharin, Anatoly
    Gusev, Oleg
    Vorobey, Roman
    Tyavlovsky, Andrey
    Tyavlovsky, Konstantin
    Svistun, Aliaksandr
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1841377.pdf
    Data publikacji:
    2020
    Wydawca:
    Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
    Tematy:
    surface charge distribution
    contact potential difference
    Scanning Kelvin Probe
    dielectric material
    rozkład ładunku powierzchniowego
    kontaktowa różnica potencjałów
    skanująca sonda Kelvina
    materiał dielektryczny
    Opis:
    The paper reviews theresults of a study on the surface electrostatic chargesof dielectrics obtained using the contact potential difference (CPD) technique. Initially,the CPD technique was only applied to the study of metal and semiconductor surfaces. The conventional CPD measurement technique requires full compensation of the measured potential that, in thecase of dielectrics, could reach very high values. Such high potentials are hardto compensate. Therefore, the conventional CPD method is rarely applied inthe study of dielectric materials. Some important improvements recently made to the CPD measurementtechnique removedthe need for compensation.The new method, which does not require compensation, has been implementedin the form of a digital Kelvin probe.The paper describes the principlesof the non-compensation CPD measurement technique which was developedfor mapping the electrostatic surface charge space distribution acrossa wide range of potential values. The study was performed on polymers suchas low-density polyethylene (LDPE) and polytetrafluoroethylene (PTFE).
    W artykule przedstawiono wyniki badań rozkładu wymuszonych ładunków na powierzchni dielektryków metodą kontaktowej różnicy potencjałów (angl. CPD). Wcześniej metoda CPD była stosowana jedynie do badań powierzchni metali lub półprzewodników. Trudności stosowania metody CPD w stosunku do dielektryków wynikają z konieczności całkowitej kompensacji potencjału powierzchniowego, wartość którego może być wysoka. W praktyce taka kompensacjamoże być utrudniona. W związku z tym metoda CPD nie jest stosowana do badań dielektryków. Ostatnio do technikipomiarów metodą CPD wprowadzono szereg udoskonaleń, które wyeliminowały konieczność całkowitej kompensacji mierzonych wartości. Nowa metoda, która nie wymaga kompensacji, została zrealizowana w postacicyfrowej sondy Kelvina. W artykule przeanalizowano zasady działania sondy nie wymagającej kompensacji oraz jej zastosowanie do określenia rozkładu ładunku na powierzchni dielektryków w szerokim zakresie wartości potencjału. Badania przeprowadzono na materiałach polimerowych, takich jak polietylen o małej gęstości (LDPE) i politetrafluoroetylen (PTFE).
    Źródło:
    Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2020, 10, 4; 57-60
    2083-0157
    2391-6761
    Pojawia się w:
    Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-10 z 10

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies