Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "reliability growth" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-7 z 7
Tytuł:
Modeling of software fault detection and correction processes with fault dependency
Modelowanie procesów wykrywania i korekcji błędów oprogramowania z założeniem wzajemnej zależności błędów
Autorzy:
Peng, R.
Zhai, Q.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/301155.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
zależność błędów
niejednorodny proces Poissona
model wzrostu niezawodności oprogramowania
procesy detekcji i korekcji błędów oprogramowania
fault dependency
non-homogeneous Poisson process (NHPP)
software reliability growth model (SRGM)
software fault detection and correction processes
Opis:
Software reliability modeling has undergone a continuous evolution over the past three decades to adapt to various and everchanging software testing environments. In existing models, immediate fault removal and fault independency are two basic and commonly used assumptions. Recently, models combining fault detection process (FDP) and fault correction process (FCP) were proposed to alleviate the immediate fault removal assumption. In this paper, we extend such a methodology by proposing a modeling framework for the FDP and FCP incorporating fault dependency. Faults are classified as leading faults and dependent faults and the FCPs for both types of faults are explicitly modeled. Several paired models considering different assumptions for debugging lags are proposed for the combined FDP and FCP. The applicability of the proposed models are illustrated using real testing data. In addition, the optimal software release policy under this framework is studied.
Modelowanie niezawodności oprogramowania w ciągu ostatnich trzech dekad ulegało ciągłej ewolucji, pozwalającej dostosować je do różnych, stale zmieniających się środowisk testowych. W przypadku istniejących modeli, dwoma podstawowymi i powszechnie stosowanymi założeniami jest natychmiastowe usunięcie błędu oraz brak zależności między błędami. Ostatnio, badacze zaproponowali modele, które łagodzą pierwsze z tych założeń, łącząc proces wykrywania błędów (FDP) z procesem ich korekcji (FCP). W niniejszym artykule, rozszerzono tę metodologię, proponując paradygmat modelowania dla zintegrowanych procesów FDP i FCP uwzględniający zależności między błędami. W paradygmacie tym, błędy klasyfikuje się jako błędy nadrzędne i błędy zależne, a procesy FCP dla obu typów błędów są modelowane oddzielnie. Zaproponowano kilka połączonych w pary modeli rozważających różne założenia dotyczące opóźnień debugowania w procesach łączących detekcję i korekcję błędów. Możliwość zastosowania proponowanych modeli przedstawiono na przykładzie rzeczywistych danych testowych. Dodatkowo badano optymalną politykę aktualizacji oprogramowania, jaką można prowadzić w ramach proponowanego paradygmatu.
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2017, 19, 3; 467-475
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Bayesowski model wzrostu niezawodności oparty na dynamicznych parametrach rozkładu
Bayesian reliability growth model based on dynamic distribution parameters
Autorzy:
Tao, Y.
Zhang, Y. A.
Chen, X.
Ming, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/301037.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
statystyka populacji niejednorodnej
model monotoniczny
Bayes
model przyrostu niezawodności
rozkład wykładniczy
non-homo geneous population statistics
monotone model
reliability growth model
exponential distribution
Opis:
W artykule przestudiowano metody analizy statystycznej na różnych etapach wzrostu niezawodności w oparciu o model monotoniczny. Zamodelowano zmiany jakim dynamiczne parametry rozkładu podlegają podczas badań. Podano bayesowskie modele wzrostu niezawodności dla licznych etapów wzrostu niezawodności. Na koniec metodę zweryfikowano w oparciu o przykład praktyczny.
In this paper we study the statistical analysis methods at different stages of reliability growth based on the monotone model. The changes of dynamic distribution parameters during test are modeled. Bayesian reliability growth models for multiple stages of reliability growth are given. Finally the method is validated by a practical example.
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2010, 2; 13-16
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Model badania potwierdzającego niezawodność dla dwumianowych systemów o rosnącej niezawodności
Reliability demonstration test model for binomial systems with reliability growth
Autorzy:
Wu, X.
Liu, Q.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/301072.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
system dwumianowy
badanie potwierdzające
dyskretny model wzrostu niezawodności
binomial system
demonstration test
discrete reliability growth model
Opis:
Wiele złożonych systemów inżynieryjnych przechodzi proces wzrostu niezawodności w kolejnych etapach badań. Większość istniejących modeli badań potwierdzających niezawodność nie uwzględnia jednak wzrostu niezawodności. W niniejszym artykule przedstawiono model badania niezawodności dla systemów dwumianowych o 2 etapach testowych, który bierze pod uwagę możliwy wzrost niezawodności. Określono wskaźniki prawdopodobieństwa dla różnych możliwych sytuacji oraz wyprowadzono statystyczne reguły decyzyjne. Podany przykład ilustruje względnie niższe ryzyko decyzyjne proponowanego modelu w stosunku do tego, jakie niosą klasyczne modele badań.
Many complex engineering systems experience reliability growth in successive test stages. In most existing reliability demonstration test models, reliability growth is not incorporated. In this paper, for binomial systems with 2 test stages, a reliability demonstration test model is presented that takes possible reliability growth into consideration. Likelihood ratios are defi ned for various possible situations, and statistical decision rules are derived. With a given example, the relative lower decision risk of the proposed model is illustrated by comparison with that of classical demonstration test models.
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2010, 2; 55-58
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Ocena wzrostu niezawodności w bezzałogowym statku latającym podczas kolejnych faz badania w locie
Reliability growth estimation for unmanned aerial vechicle during flight-testing phases
Autorzy:
Yu, Y.
Cui, W.
Song, B.
Wang, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/301049.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
niezawodność
wzrost niezawodności
badanie wzrostu niezawodności
metoda bayesowska
reliability
reliability growth
reliability growth testing
Bayesian method
Opis:
Samoloty muszą być testowane w locie podczas procesu ich opracowywania i dla zapewnienia niezawodności powinny przejść, podczas faz badania w locie, proces wzrostu niezawodności obejmujący kolejne etapy: testowania, poszukiwania ukrytego uszkodzenia, udoskonalania i ponownego testowania. Jednakże z powodu złożonej budowy samolotów i wysokich kosztów badań w locie, badania wzrostu niezawodności z reguły przeprowadza się na małych próbkach. Trudno jest zatem ocenić wzrost niezawodności w kolejnych fazach badań w locie. W niniejszej pracy do estymacji wzrostu niezawodności zastosowano metodę bayesowską dla dwumianowego wzrostu niezawodności opartą na rozkładzie a priori Dirichleta oraz obliczono parametry rozkładu a posteriori wykorzystując metodę symulacji Markov-Chain Monte Carlo. Metodę zastosowano w kolejnych fazach badań w locie bezzałogowego statku latającego (Unmanned Aerial Vehicle), a użyty przykład pokazuje, iż metoda oparta na rozkładzie a priori Dirichleta może skrócić czas badań w locie. Parametry rozkładu a priori łatwo jest potwierdzić na podstawie uprzednio znanych informacji. Proponowana metoda nadaje się do oceny badań wzrostu niezawodności podczas kolejnych etapów badań w locie.
It is necessary for airplanes to be fl ight-tested during the development process, and they should pass the testing/failurefi nding/improvement/re-testing reliability growth process during the fl ight-testing phases to ensure its reliability. However, due to airplane complexity and the high costs of fl ight-testing, the reliability growth testing is usually done with small samples. It is thus diffi cult to estimate the reliability growth during the fl ight-testing phases. In this paper, Bayesian method for binomial reliability growth based on the Dirichlet prior distribution is applied to reliability growth estimation, and the parameters of the posterior distribution are calculated by using the simulation method of Markov-Chain Monte Carlo. The method is applied to the Unmanned Aerial Vehicle test fl ight phases, and the example shows that the method based on the Dirichlet prior distribution can save the fl ight-testing time. It is easy to confi rm the parameters of the prior distribution by using the prior information. The proposed method is suitable for reliability growth testing estimation during fl ight-testing stages.
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2010, 2; 43-47
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Early estimating the number of errors encountered during program testing
Autorzy:
Konopacki, J.
Worwa, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/305979.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
Tematy:
software testing
software reliability
program correctness
reliability growth model
Opis:
An approach to estimate the number of errors encountered during the program testing process is proposed in the paper. Considerations are based on some program reliability growth model which is constructed for assumed scheme of program testing process. In this model the program under the testing is characterized by means of so-called characteristic matrix and the program testing process is determined by means of so-called testing strategy. The formula for determining the mean value of the predicted number of errors encountered during the program testing is obtained. This formula can be used if the characteristic matrix and the testing strategy are known. Formula for estimating this value when the program characteristic matrix is not known are also proposed in the paper.
Źródło:
Biuletyn Instytutu Systemów Informatycznych; 2009, 3; 53-57
1508-4183
Pojawia się w:
Biuletyn Instytutu Systemów Informatycznych
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Podejście nieparametryczne do modelowania przyrostu niezawodności złożonych systemów naprawialnych
A non-parametric approach for modelling reliability growth of complex repairable systems
Autorzy:
Jiang, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/301677.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
rozwój produktu
przyrost niezawodności
skuteczność działań naprawczych
średni czas pomiędzy uszkodzeniami
MTBF
product development
reliability growth
effectiveness corrective action
Opis:
W złożonym systemie naprawialnym, przyczyny uszkodzeń zidentyfikowane przez program do badania przyrostu niezawodności nie zawsze są usuwalne. Duże wyzwanie stanowi ocena niezawodności systemu na podstawie obserwacji z badań oraz działań naprawczych. Niniejszy artykuł przedstawia nieparametryczną metodę oceny niezawodności systemu. Proponowane podejście uwzględnia informacje o częściowej skuteczności działań naprawczych. Wykorzystanie tych częściowych informacji pozwala na zrewidowanie obserwowanego zestawu danych oraz późniejsze włączenie ich do modelu rozkładu. Średni czas pomiędzy uszkodzeniami (MTBF) ocenia się na podstawie dopasowanego modelu. Proponowane podejście zilustrowano przykładem.
For a complex repairable system, the identifi ed failure modes during a reliability growth test program are not always fi xable. It is a challenging issue to estimate the reliability of the system based on the test observations and corrective actions. This paper presents a non-parametric approach for evaluating the system reliability. The proposed approach incorporates partial information about the effectiveness of corrective actions. Using the partial information, the observed data set is revised, which is then fi tted into a distribution model. The MTBF is estimated based on the fi tted model. The proposed approach is illustrated by an example.
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2009, 3; 78-81
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
A discrete-time software reliability-growth model and its application for predicting the number of errors encountered during program testing
Autorzy:
Worwa, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/970102.pdf
Data publikacji:
2005
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Badań Systemowych PAN
Tematy:
testowanie oprogramowania
niezawodność oprogramowania
software testing
software reliability
software reliability-growth model
Opis:
An approach to evaluate the number of errors encountered during the program testing process is proposed in the paper. Considerations are based on some program reliability-growth model, constructed for an assumed scheme of the program testing process. In this model the program under testing is characterized by means of the so-called characteristic matrix and the program testing process is determined by means of so-called testing strategy. The formula for determining the mean value of the predicted number of errors encountered during the program testing is obtained. This formula can be used if the characteristic matrix and the testing strategy are known. Formulae for evaluating this value when the program characteristic matrix is not known are also proposed.
Źródło:
Control and Cybernetics; 2005, 34, 2; 589-606
0324-8569
Pojawia się w:
Control and Cybernetics
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-7 z 7

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies