Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "przetwornik czas-cyfra" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Zastosowanie układów FPGA w konstrukcji przepływomierzy ultradźwiękowych
Application of FPGA devices to ultrasonic flowmeter
Autorzy:
Zaworski, Ł.
Kowalski, M.
Zieliński, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/156070.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
przepływomierz ultradźwiękowy
przetwornik czas-cyfra
układ programowalny
pomiar czasu
ultrasonic flowmeter
time-to-digital converter
programmable logic device
time measurement
Opis:
Przepływomierze ultradźwiękowe mierzące różnicę czasu przelotu impulsu przez medium stanowią jedną z dwóch najbardziej rozpowszechnionych grup przepływomierzy. W artykule tym została przedstawiona konstrukcja systemu pomiaru odcinka czasu zaimplementowanego w strukturze programowalnej FPGA jak również metoda kalibracji i wyznaczenia rozdzielczości przetwornika czas/cyfra w trakcie pomiaru. Takie rozwiązanie zapewnia niewrażliwość układu na czynniki zewnętrzne (temperatura), oraz skrócenie czasu pomiaru, a tym samym redukcję poboru energii, co jest atutem przy zasilaniu bateryjnym.
The ultrasonic flowmeter market is the fastest-growing market in any flowmeter type, and transit-time flowmeters have the largest share in that market. One of the fundamental parts of a transit-time ultrasonic flowmeter is a time measurement circuit, often implemented in CMOS ASIC. This paper describes an application of a low-power FPGA device to the transit-time flowmeter time measurement circuit. The main problem discussed in this work is calibration of a delay line in TDC implemented in a FPGA device. The time- and resource-consuming code density testing is undesirable for mass production devices. In this paper a fast and simple method for calibration is proposed. The method is based on measurement of the clock period length [5] and analysis of the data; therefore, it does not require implementation of any additional circuits in the device. A resolution of TDC is estimated by (2), when I_T is the largest state of a decoder in measurement series, and T_0 is clock period. The method uncertainty is larger than that of the code density test, but the method requires virtually no resources and takes less time - under certain conditions the calibration can be performed simultaneously with the measurement. At the end the measurement results and the conclusions are presented.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 12, 12; 1511-1514
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Metoda autonomicznej korekcji błędu nieliniowości przetwornika czas-cyfra opartego na różnicowej linii opóźniającej
An autonomous nonlinearity error correction method for a vernier delay line based time-to-digital converter
Autorzy:
Czoków, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/158168.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
noniuszowa linia opóźniająca
różnicowa linia opóźniająca
kalibracja
błąd nieliniowości
przetwornik czas-cyfra
vernier delay line
calibration
nonlinearity error
time-to-digital converter
Opis:
W artykule zaprezentowano nową metodę autonomicznej układowej korekcji błędu nieliniowości przetwornika czas-cyfra opartego na noniuszowej linii opóźniającej. Wyniki symulacji pokazały, że możliwe jest zmniejszenie błędów nieliniowości o rząd wielkości. W symulacji Monte Carlo dla szesnastokomórkowej linii noniuszowej zaprojektowanej w technologii CMOS 0.35 m i średnim opóźnieniu komórki wynoszącym 10 ps, otrzymano błędy nieliniowości sumacyjnej INL mniejsze niż 1 ps.
The paper presents a new autonomous nonlinearity error correction method for vernier delay line (VDL, Fig. 1) based time-to-digital converter (TDC). The described VDL consists of flip-flops and two delay chains. The first chain is composed of voltage controlled delay buffers (Fig. 3a) and the second one utilizes digitally controlled shunt capacitor scheme (Fig. 3b). In order to accomplish nonlin-earity correction both delay chains in VDL are first set to the same delay using voltage controlled buffers, then the delays of buffers in both chains are compared with use of flip-flops and adjusted with shunt capacitor controlled buffers. Finally, once more the voltage controlled buffers are used to increase VDL delay and achieve the needed LSB. The simulations show that nonlinearity error reduction by an order of magnitude is possible with this method. Monte Carlo simulations performed with 16 stages VDL (CMOS 0.35 m) indicate that integral nonlinearity (INL) error can be less than 1 ps (Fig. 4b). Some predictions about max INL error based on time model are also presented. Moreover, nonmonotonic VDL can also be corrected, which improves attainable resolution. In opposition to the previously proposed VDL calibration methods[1, 3, 4, 5, 6], there is no need for either implementing accurate signal sources or generating a large number of uncorrelated time events like in the code density method.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 10, 10; 1205-1208
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies