- Tytuł:
-
Profile optyczne powłok lakierowych - analiza i zastosowania przemysłowe
Optical profiles of paint coatings and finishes - analysis and industrial applications - Autorzy:
- Więckowski, T.
- Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/159663.pdf
- Data publikacji:
- 2008
- Wydawca:
- Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
- Tematy:
-
powłoka lakierowana
profil optyczny - Opis:
-
Samochodowe powłoki lakierowe nie tylko chronią ale i zdobią. Lśniąca, jednolita w odbiorze wizualnym powłoka lakierowa w eleganckim kolorze świadczy również o wysokiej jakości produktu, nadaje mu luksusowy charakter. Te własności wizualne, opisywane do tej pory dość dowolnie i subiektywnie, możemy dziś wyrazić liczbami. Oprócz barwy i połysku, których skale i systemy funkcjonują już od dawna, przemysł samochodowy i współpracujące z nim laboratoria technologiczne i kontroli jakości opracowały standardy oceny struktury powłok lakierowych. Ich pomiar i ocena polega na skanowaniu profili optycznych powłok oraz analizie zdolności odwzorowywania obrazów przez powłoki lakierowe. Niniejsze opracowanie stanowi wprowadzenie do tych zagadnień na przykładzie rozwiązań wiodącego producenta oprzyrządowania - niemieckiej firmy BYK Gardner GmbH.
The paint finish of a car has two main requirements: protect the surface underneath and enhance the quality and appearance of the overall product. Eye catching finishes should not only have a beautiful and rich color, but look like a mirror: high gloss and perfectly smooth. These properties should of course not diminish over time. A range of measuring instruments has been developed in order to express the appearance phenomena in digital terms. In addition, the measured data can be used for trouble shooting to improve the quality. The obtained so-called structure spectrum supports process and material engineering to optimize material properties and application parameters. This paper is based on BYK-Gardner GmbH technical information data sheets - i.e. it is coming from the most advanced technology source in the field. - Źródło:
-
Prace Instytutu Elektrotechniki; 2008, 239; 179-187
0032-6216 - Pojawia się w:
- Prace Instytutu Elektrotechniki
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł