Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "pomiary elementów RLC" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-2 z 2
    Tytuł:
    Ograniczenia wirtualnego miernika RLC zrealizowanego na układzie AD9533
    The limitations of virtual RLC meter based on AD5933 circuit
    Autorzy:
    Hoja, J.
    Kiwilszo, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/268034.pdf
    Data publikacji:
    2008
    Wydawca:
    Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
    Tematy:
    pomiar impedancji
    pomiary elementów RLC
    cyfrowe przetwarzanie sygnału
    impedance measurement
    RLC measurement
    digital signal processing
    Opis:
    W artykule przedstawiono wirtualny miernik elementów RLC, zrealizowany w oparciu o mikrosystem AD5933. Mikrosystem wyznacza parametry impedancyjne elementów imierzonych, wykorzystując CPS do obliczenia składowych j ortogonalnych sygnałów pomiarowych. Przeprowadzone badania mikrosystemu, w konfiguracji zalecanej przez producenta, wykazały niekorzystny wpływ jego rezystancji wyjściowej na błąd pomiaru impedancji. Dlatego opracowano i zrealizowano miernik oparty na dwóch układach AD5933 eliminujący cykl kalibracyjny i ograniczający wpływ rezystancji wyjściowej.
    This paper presents virtual RLC meter based on AD5933 system. System measures impedance parameters of measured circuit using digital signal processing algorithms for calculating orthogonal components of measurement signals. Tests led in application suggested by manufacturer showed influence of its output resistance on impedance measurement accuracy. To avoid mentioned deficiencies we designed and built meted based on two AD5933 circuits.
    Źródło:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2008, 25; 67-70
    1425-5766
    2353-1290
    Pojawia się w:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Ograniczenia wirtualnego miernika impedancji opartego na karcie akwizycji danych
    The limitations of virtual impedance meter based on a data acquisition card
    Autorzy:
    Hoja, J.
    Lentka, G.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/152316.pdf
    Data publikacji:
    2007
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    pomiar impedancji
    pomiary elementów RLC
    karta akwizycji danych
    cyfrowe przetwarzanie sygnałów
    impedance measurement
    RLC measurement
    data acquisition card
    digital signal processing
    Opis:
    W artykule przedstawiono wirtualny miernik parametrów elementów RLC, zrealizowany w oparciu o komputer PC z zainstalowaną kartą akwizycji danych (PCI-6040E) wyposażoną w przetworniki a/c i c/a. Analizowano właściwości metrologiczne miernika zależne od parametrów zastosowanej karty. Przeprowadzono badania symulacyjne błędu pomiaru pojemności uwzględniające rozdzielczość i częstotliwość próbkowania przetwornika a/c oraz jego czas konwersji wpływający na przesunięcie fazowe pomiędzy próbkowanymi na przemian sygnałami pomiarowymi. Analizowano także wpływ przecieku widma na dokładność pomiaru, spowodowanego nie spełnieniem warunku zbierania próbek w całkowitej liczbie okresów sygnału pomiarowego.
    The paper presents virtual meter of impedance parameters of RLC elements based on personal computer with installed data acquisition card (PCI-6040E) equipped with AD and DA converters. The metrological properties of the instruments depending on the parameters of the used card have been analysed. Simulation tests of the capacitance measurement error have been performed taking into account the resolution and sampling frequency of the AD converter and the conversion time influencing the phase shift between measurement signals which are sampled sequentially. The influence of the spectral leakage caused by missed condition of collecting samples in the integer number of periods of measurement signal on the measurement accuracy has been also analysed.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 657-660
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-2 z 2

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies