Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "phase shift interferometry" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Generation of Large-area Arrays of Aperiodic Functional Micro/nano Structures Using Phase Shift Interferometry
Autorzy:
Pearly Princess, J.
Alfred Kirubaraj, A.
Christina Sophia, S.
Senith, S.
Jino Ramson, S. R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2055275.pdf
Data publikacji:
2022
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
laser interference lithography
LIL
pattern structures
periodic patterns
aperiodic patterns
phase shift interferometry
PSI
Opis:
Phase shift interferometry (PSI) derived from interference technique as greater surface characterization technique based on the interference information recorded during a controlled phase shift. This research shows the development of micro/nano structures using phase shift interferometry. (PSI) is the process of developing the complex pattern structure using variable phase angle between two or more beams aligned to obtain functional aperiodic arrays. We have designed and modelled the PSI and simulated through MATLAB in 2D and 3D pattern structures. The PSI was performed in two process analysis. First, without PSI referring normal interference technique. Second, with PSI referring position of laser beams in quadrant-based alignment. The obtained results show the minimum feature structure was measured as 12 nm. This feature size developed under phase shift interferometry (PSI) produces minimum feature size compared to the existing interferometry technique. This study gives the promising increased fabrication area could develop large area arrays structures.
Źródło:
International Journal of Electronics and Telecommunications; 2022, 68, 1; 91--96
2300-1933
Pojawia się w:
International Journal of Electronics and Telecommunications
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Two-step dual-wavelength interferometry for surface relief retrieval
Autorzy:
Kmet, Arkady B.
Muravsky, Leonid I.
Voronyak, Taras I.
Stasyshyn, Ihor V.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/173569.pdf
Data publikacji:
2019
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
dual-wavelength interferometry
two-step phase shifting interferometry
blind phase shift
surface relief retrieval
areal surface roughness
areal waviness
phase map
Opis:
The new two-step dual-wavelength interferometry method that uses only two pairs of interferograms for surface relief retrieval is proposed. In this method, two interferograms in each pair are differed only by an arbitrary phase shift of a reference wave. The method allows using only one out-of-plane shift of a reference wave to record each second interferogram in both pairs, since arbitrary phase shifts between interferograms in each pair can be defined by calculation of the correlation coefficient between two interferograms. This method can extract separately areal surface roughness and areal waviness phase maps from a phase map of the total surface relief and reduce errors produced during the surface relief retrieving. Computer simulation and experimental verification have confirmed the reliability of the proposed method.
Źródło:
Optica Applicata; 2019, 49, 2; 331-343
0078-5466
1899-7015
Pojawia się w:
Optica Applicata
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies