Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "pattern sensitive faults" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-3 z 3
    Tytuł:
    Analysis of multibackground memory testing techniques
    Autorzy:
    Mrozek, I.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/907769.pdf
    Data publikacji:
    2010
    Wydawca:
    Uniwersytet Zielonogórski. Oficyna Wydawnicza
    Tematy:
    testowanie RAM
    błąd wzoru
    test krokowy
    RAM testing
    pattern sensitive faults
    march tests
    multibackground testing
    Opis:
    March tests are widely used in the process of RAM testing. This family of tests is very efficient in the case of simple faults such as stuck-at or transition faults. In the case of a complex fault model-such as pattern sensitive faults-their efficiency is not sufficient. Therefore we have to use other techniques to increase fault coverage for complex faults. Multibackground memory testing is one of such techniques. In this case a selected March test is run many times. Each time it is run with new initial conditions. One of the conditions which we can change is the initial memory background. In this paper we compare the efficiency of multibackground tests based on four different algorithms of background generation.
    Źródło:
    International Journal of Applied Mathematics and Computer Science; 2010, 20, 1; 191-205
    1641-876X
    2083-8492
    Pojawia się w:
    International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Techniki wykrywania uszkodzeń pamięci z wykorzystaniem stopni swobody testów krokowych
    Memory faults detection techniques with use of degrees of freedom in march tests
    Autorzy:
    Sokół, B.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/341181.pdf
    Data publikacji:
    2008
    Wydawca:
    Politechnika Białostocka. Oficyna Wydawnicza Politechniki Białostockiej
    Tematy:
    testowanie pamięci
    testy krokowe
    uszkodzenia PSF
    stopnie swobody
    memory testing
    march tests
    pattern sensitive faults (PSF)
    degrees of freedom
    Opis:
    Publikacja zawiera opis wybranych metod i technik wykrywania uszkodzeń pamięci z wykorzystaniem stopni swobody transparentnych testów krokowych. Główna uwaga została skupiona na uszkodzeniach uwarunkowanych zawartością typu Pattern Sensitive Faults (PSF) jako najtrudniejszych do wykrycia. Zaproponowane wykorzystanie stopni swobody testów krokowych przejawia się możliwością efektywnego przeprowadzenia transparentnego testowania i wykrywania uszkodzeń typu PSF przez proste testy krokowe i bazuje na możliwści wielokrotnego uruchomienia testu przy zmianach warunków początkowych (porządku adresowania) dla każdego uruchomienia. Wykorzystane i zaproponowane metody umożliwiają generowanie pełnych sekwencji adresowych oraz pozwalają na optymalny wybór adresów startowych przy wielokrotnym uruchomieniu testów krokowych. W pierwszej części pracy przedstawiona została problematyka testowania pamięci oraz stopnie swobody testów krokowych. Druga część pracy zawiera opis zaproponowanych rozwiązań wraz z wynikami wybranych eksperymentów.
    Publication shows the description of selected methods and techniques for memory faults detection with use of degrees of freedom inherent to transparent March tests. This paper deals with Pattern Sensitive Faults (PSF) as the most difficult to detect. Proposed techniques of use of degrees of freedom in March testing manifest itself in effective transparent memory testing and PSF faults detection with use of simple March tests, based on the possibility of multiple run of test with different initial conditions like address order for each run. Proposed methods allow us to choose in an optimal way starting addresses for multiple March tests run. In the first part of this publication, memory testing problems, testing principles and degrees of freedom were presented. Second part of this publication shows the description of proposed solutions with selected results.
    Źródło:
    Zeszyty Naukowe Politechniki Białostockiej. Informatyka; 2008, 3; 129-144
    1644-0331
    Pojawia się w:
    Zeszyty Naukowe Politechniki Białostockiej. Informatyka
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Address sequences and backgrounds with different Hamming distances for multiple run March tests
    Autorzy:
    Yarmolik, S.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/907905.pdf
    Data publikacji:
    2008
    Wydawca:
    Uniwersytet Zielonogórski. Oficyna Wydawnicza
    Tematy:
    pamięć o dostępie swobodnym
    testowanie pamięci
    adres pamięci
    kod Graya
    odległość Hamminga
    random-access memory (RAM)
    memory testing
    March memory test
    neighbourhood pattern sensitive faults
    memory address
    memory background
    Gray code
    hamming distance
    Opis:
    It is widely known that pattern sensitive faults are the most difficult faults to detect during the RAM testing process. One of the techniques which can be used for effective detection of this kind of faults is the multi-background test technique. According to this technique, multiple-run memory test execution is done. In this case, to achieve a high fault coverage, the structure of the consecutive memory backgrounds and the address sequence are very important. This paper defines requirements which have to be taken into account in the background and address sequence selection process. A set of backgrounds which satisfied those requirements guarantee us to achieve a very high fault coverage for multi-background memory testing.
    Źródło:
    International Journal of Applied Mathematics and Computer Science; 2008, 18, 3; 329-339
    1641-876X
    2083-8492
    Pojawia się w:
    International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-3 z 3

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies