Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "oscylator pierścieniowy" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-4 z 4
    Tytuł:
    Mikrokomputer Raspberry Pi jako sterownik systemu pomiarowego
    Raspberry Pi as a measurement system control unit
    Autorzy:
    Michalak, S.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/154761.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    Raspberry Pi
    oscylator pierścieniowy
    FPGA
    ring oscillator
    Opis:
    W artykule przedstawiono system pomiarowy, w którym nadrzędną rolę sprawuje mały, cieszący się coraz większą popularnością, mikrokomputer edukacyjny Raspberry Pi. System zaprojektowany został do wizualizacji rozkładu temperatury wewnątrz struktury układu reprogramowalnego FPGA, na podstawie dokonanych pomiarów częstotliwości oscylatorów pierścieniowych zaimplementowanych wewnątrz układu. Sterowanie procesem pomiarowym, akwizycja danych i prezentacja wyników nadzorowana jest przez mikrokomputer Raspberry Pi.
    In this paper the system based on Raspberry Pi, a popular educational microcomputer [1] is described. In this system, a programmable FPGA Spartan-3 XC3S200 [5] device was tested. The Raspberry Pi worked as a control unit for the whole system (Fig. 1). A part of the system was implemented inside the tested structure (Fig. 2). It was an array of ring oscillators (Fig. 3), as temperature sensors, with a structure for controlling the ring oscillators. Simple ring oscillators are often implemented in FPGA devices. They are used both as a single element or an array of sensors for measuring the chip temperature [2, 3, 4]. The frequency of the activated sensor was measured outside by an oscilloscope (SCPI command was used). The frequency was dependent on temperature. The sensors can be located in different areas of a chip [6, 7]. In case of the tested device 36 sensors were used, but generally it depends on a tested device [8, 9]. The Raspberry Pi controlled the measurement process via an SPI serial interface. The results were collected from the oscilloscope via a UART/RS232 serial interface. The relation between frequency and temperature (Fig. 4) as well as 2D visualizations (Fig. 5) were made using Gnuplot and Scilab. The results should visualize the temperature distribution inside the device, but first right calibration of sensors should be made. The location of elements inside the FPGA sensor is of great significance [10], so in the case of an array of sensors, each ring oscillator should be analyzed and calibrated independently.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 8, 8; 649-651
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Wpływ miejsca lokowania bramek na częstotliwość oscylatora pierścieniowego
    Influence of the gate location on the ring oscillator frequency
    Autorzy:
    Michalak, S.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/151480.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    oscylator pierścieniowy
    czas propagacji
    FPGA
    ring oscillator
    propagation delay
    Opis:
    W artykule przedstawiono wyniki analizy zmian częstotliwości oscylatora pierścieniowego, uzyskane poprzez zmianę miejsca lokowania pojedynczych bramek w różnych częściach struktury reprogramowalnej. Przeprowadzono symulacje komputerowe oraz wykonano badania eksperymentalne układu oscylatora pierścieniowego złożonego z N inwerterów, dla kilku wariantów rozmieszczenia bramek i wykorzystania linii połączeniowych pomiędzy obszarami CLBs. Układ oscylatora implementowano w strukturze FPGA (Spartan-3).
    This paper presents the results of investigations how the inverter location in the area of a reconfigurable FPGA chip influence the properties of a ring oscillator. Ring oscillators are very often implemented in FPGA structures, even in the very advanced projects. They are used both as a single element or an array of sensors for measuring the chip temperature and thermal verification on reconfigurable systems [1, 2], as well as for measuring the propagation delay on the internal wires of the FPGA chip [3, 4]. In our investigation the ring oscillator composed of 11 inverters was implemented in the Spartan-3 structure (Fig. 1). There were performed simulations and experiments. We tested whether and how the location of the single inverter and the delay of lines influenced the ring oscillator frequency (Figs. 2 and 3). The properties of different connections between CLBs in the FPGA structure are described (Figs. 4 and 5). The ring oscillator was located in different areas of the chip to minimize or specially increase the length of lines between the inverters (Figs. 6, 7 and 8). The simulation and experiment results are presented in Tab. 1 and discussed. In conclusion we can state that when one wants to use a ring oscillator as a sensor and to analyze the frequency or delay times, there should be considered not only the influence of temperature or voltage supply of the chip core [8] but also the location of the sensor. In the case of an array of sensors, each ring oscillator should be analyzed and calibrated independently.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 7, 7; 444-446
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Badanie właściwości oscylatora pierścieniowego w temperaturze 77 K
    Examination of a ring oscillator at 77 K
    Autorzy:
    Michalak, S.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/156547.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    oscylator pierścieniowy
    CPLD
    ciekły azot
    czas propagacji
    ring oscillator
    liquid nitrogen
    propagation delay
    Opis:
    W artykule przedstawiono wyniki eksperymentów, w których testowano działanie oscylatora pierścieniowego zaimplementowanego w układach reprogramowalnych. Analizowano właściwości opóźniające inwerterów zaprogramowanych w strukturze CPLD układów XC2C32 (Xilinx). W temperaturze otoczenia (300 K) i w temperaturze ciekłego azotu (77 K), badano zdolność do generacji drgań, stałość częstotliwości oscylatora (na podstawie pomiarów średniookresowych), wpływ zmian napięcia zasilania na częstotliwość oscylacji.
    In this paper the results of experiments with a ring oscillator implemented in programmable devices (XC2C32 Xilinx) are presented. The examined devices were immersed in a Dewar flask (Fig. 1) with liquid nitrogen. It was found out that the ring oscillator (composed of 11 gates) (Fig. 2) still worked properly in such low temperature. According to the theory of silicon semiconductors, the activity of carriers increases in low temperatures, so there was expected decrease in the propagation delay for every gate and increase in the oscillation frequency. The output frequency was measured and the average propagation time for inverters was calculated. The results at 77 K (temperature of liquid nitrogen) were compared with those at 300 K (room temperature) (Tab. 1). The output frequency characteristics versus the supply voltage for the examined devices were measured and drawn (Figs. 3 and 4). The quadric polynominal functions which fit these non-linear characteristics were proposed. The relative change of the oscillation frequency versus the supply voltage is shown in Fig. 5. The frequency sensitivity depends both on supply voltage and temperature. The relative sensitivity (normalized) in relation to the voltage at 300 K and 77 K is presented in Fig. 6. Based on the results from 24-hour measurements (86400 samples were collected) the frequency stability was determined. The average value and standard deviation value were calculated (Tab. 2) but first and foremost there was calculated and plotted the Allan deviation (Fig. 7).
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2012, R. 58, nr 7, 7; 681-683
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    A digital true random number generator implemented in different Xilinx FPGAs
    Cyfrowy generator ciągów losowych zaimplementowany w układach FPGA firmy Xilinx
    Autorzy:
    Matuszewski, Ł.
    Jessa, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/154959.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    true random number generator
    ring oscillator
    auxiliary source of randomness
    cryptography
    field programmable gate array (FPGA)
    układy FPGA
    generator losowy
    oscylator pierścieniowy
    kryptografia
    Opis:
    In cryptography we often require sequences of numbers with unpredictable elements. Such sequences cannot be produced by purely deterministic systems. A novel method for producing true randomness and increasing the randomness of a combined TRNG using ring oscillators is described. In this paper we show that the proposed method provides similar results for generators implemented using different technologies offered by Xilinx. Thus, the proposed generator can be implemented in different FPGAs with other elements of a cryptographic system.
    W kryptografii często wymaga się ciągów liczb złożonych z nieprzewidywalnych elementów. Takie sekwencje nie mogą być wytwarzane w systemach czysto deterministycznych. Inżynierowie muszą opracować źródła losowości, których właściwości muszą być ocenione i potwierdzone przez niezależne badania, przynajmniej doświadczalnie. W artykule pokazano, że proponowana metoda wytwarzania losowości jest stabilna pod względem technologicznym. Uzyskano bardzo zbliżone rezultaty dla generatorów losowych zrealizowanych w strukturach FPGA (Field Programmable Gate Array) wykonanych w różnych technologiach jakie oferuje firma Xilinx. W żadnym przypadku nie korzystano z manualnego rozmieszczania elementów w matrycy FPGA, aby uzyskać lepsze rezultaty. Położenie poszczególnych składników zależało tylko od oprogramowania dostarczanego przez producenta. Zatem proponowany generator może być implementowany w różnych układach FPGA razem z innymi elementami systemu kryptograficznego.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2013, R. 59, nr 8, 8; 742-744
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-4 z 4

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies