Temat: optical profilometer - Katalog OPAC zbiorów

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Application of optical profilometry in the analysis of the destruction process of renovation organic coatings for the automotive industry
Zastosowanie profilometrii optycznej w analizie procesu destrukcji renowacyjnych powłok organicznych dla przemysłu motoryzacyjnego
Autorzy:: Gauda, Konrad
Pasierbiewicz, Kamil
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/408805.pdf
Data publikacji:: 2019
Wydawca:: Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
Tematy:: optical profilometer
organic coating
automotive
profilometr optyczny
powłoka organiczna
motoryzacja
Opis:: The article concerns the evaluation of the possibility of using the optical profilometry method in the analysis of the destruction process of acrylic coatings exposed at a climate station in an industrial-urban atmosphere. It was found that the observed changes do not allow to clearly assess the durability of the tested coatings. It seems that the method used may play a supporting role in assessing the quality of the coatings because the surface maps show the number and size of pores in the coating. Therefore, this method can be used, for example, to help determine the optimal parameters of the coating process (e.g. spray pressure).
Artykuł dotyczy oceny możliwości wykorzystania metody profilometrii optycznej w analizie procesu destrukcji renowacyjnych powłok akrylowych przeznaczonych dla przemysłu motoryzacyjnego eksponowanych na stacji klimatycznej w atmosferze przemysłowo-miejskiej. Stwierdzono, że zaobserwowane zmiany nie pozwalają jednoznacznie ocenić trwałości badanych powłok. Wydaje się, że zastosowana metoda może odgrywać rolę pomocniczą w ocenie jakości powłok, ponieważ mapy powierzchni wyraźnie pokazują liczbę i wielkość porów w powłoce. Można więc zastosować tę metodę przykładowo jako wspomagającą ustalenie optymalnych parametrów procesu nakładania powłok (np. ciśnienia natrysku).
Źródło:: Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2019, 9, 4; 22-25
2083-0157
2391-6761
Pojawia się w:: Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Wpływ natężenia oświetlenia w profilometrze optycznym na wyniki pomiarów struktury geometrycznej powierzchni
Influence of light intensity in optical profilometer on measurement results of surface topography
Autorzy:: Dzierwa, A.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/270714.pdf
Data publikacji:: 2017
Wydawca:: Centralny Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Aparatury Badawczej i Dydaktycznej, COBRABiD
Tematy:: profilometr optyczny
struktura geometryczna powierzchni
natężenie oświetlenia
optical profilometer
surface topography
light intensity
Opis:: W pracy badano wpływ doboru natężenia oświetlenia na wyniki pomiarów parametrów struktury geometrycznej powierzchni, jak również wpływ tegoż natężenia na liczbę punktów niezmierzonych z wy korzystaniem interferometru światła białego Talysurf CCI Lite. Badaniu poddano powierzchnie próbek: anizotropowe, izotropowe oraz mieszane. Natężenie oświetlenia zmieniano w zakresie od 10 do 90%, każdorazowo co 5%. Określono wpływ zmiany natężenia oświetlenia na jakość pomiaru oraz na zmianę wartości parametrów struktury geometrycznej powierzchni. Parametr Smr oraz parametry z grupy cech są najbardziej wrażliwe na zmianę natężenia oświetlenia, nawet jeśli liczba punktów niezmierzonych nie przekracza 10%.
Ten isotropic, anisotropic and mixed surface topographies were analysed. Surface measurements were made using white light interferometer Talysurf CCI Lite. All surfaces were measured with different light intensity. Light intensity was changed in the range of 10%-90% every time at 5%. Parameters from ISO 25178 group were calculated. Parameters were calculated using the software Talymap Gold, version 6.0. Influence of light intensity on the change of surface topography parameters was analysed. The functional parameter Smr and feature parameters are the most sensitive to light intensity even if number of non-measured points was smaller than 10%.
Źródło:: Aparatura Badawcza i Dydaktyczna; 2017, 22, 4; 227-235
2392-1765
Pojawia się w:: Aparatura Badawcza i Dydaktyczna
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Informacja

Wyszukujesz frazę "optical profilometer" wg kryterium: Temat

Źródło danych

Dostawca treści

Kolekcja

Rok wydania

Wydawca

Temat

Autor

Typ dokumentu

Język