Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "optical path difference" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-4 z 4
    Tytuł:
    Optimizing of the piezo-optic interaction geometry in SrB4O7 crystals
    Autorzy:
    Buryy, O.
    Demyanyshyn, N.
    Mytsyk, B.
    Andrushchak, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/174724.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
    Tematy:
    piezo-optical effect
    optical path
    path difference
    SrB4O7 crystals
    Opis:
    The optimal geometries of the piezo-optic interaction are determined for SrB4O7 crystals by the extreme surfaces method. The goal functions of optimization are the change of optical path length and optical path difference, normalized on mechanical stress and crystal thickness, and the parameters of optimization are the spherical angles determining the directions of the light beam propagation and the uniaxial pressure action. It is shown that the maximal changes of optical path length for the orthogonal polarized waves are equal to 2.09 or 1.65 B (1 B = 1 brewster = 10–12 m2/N) and the maximal change of optical path difference is equal to 2.22 B respectively in transversal geometry of the piezo-optic interaction (for λ =633nm and T =20ºC).
    Źródło:
    Optica Applicata; 2016, 46, 3; 447-459
    0078-5466
    1899-7015
    Pojawia się w:
    Optica Applicata
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Badania stabilności termicznej interferencyjnego etalonu do stabilizacji częstotliwości diody laserowej
    Studies of thermal stability of the interference etalon used for laser diode wavelength stabilization
    Autorzy:
    Dobosz, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/155371.pdf
    Data publikacji:
    2010
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    etalon interferencyjny
    dioda laserowa
    różnica dróg optycznych
    stabilizacja długości fali
    interferometric etalon
    laser diode
    optical path difference
    wavelength stabilization
    Opis:
    Przedstawiono metodę pomiarową i wyniki badań nowego interferencyjnego etalonu, przeznaczonego do stabilizacji częstotliwości fali światła emitowanego przez diodę laserową. Etalon stanowi stabilizowany termicznie klin optyczny. Testowano stabilność różnicy dróg optycznych etalonu przy stałej i zmiennej temperaturze otoczenia. Jako wzorzec częstotliwości wykorzystano stabilizowany częstotliwościowo laser HeNe. Zaprezentowano metodykę badań, sposób przeprowadzenia eksperymentu oraz analizę i interpretację otrzymanych wyników.
    Experimental tests of the interference etalon designed for laser diode frequency stabilization are presented. A thermally stabilized optical wedge acts as the etalon. A special type of the etalon glass and applied thermal stabilization of the wedge should ensure the constant value of the etalon optical path difference (OPD) during changes of the ambient temperature. The aim of the presented study was to determine the change of the etalon temperature and its OPD as a function of the ambient temperature changes. At the beginning, measurements of the ambient temperature influence on the temperature indicated by a thermistor that controls the etalon temperature were taken. The experiments were carried out in a thermal chamber. The chamber temperature was changed by 12°C. The obtained thermal stabilization of the etalon thermistor can be characterized by the coefficient of the relative ambient temperature impact equal to about 1.6x10-5/K. A He-Ne wavelength stabilized laser was used as the frequency reference for testing the OPD stability during changes of the ambient temperature. Instability of the interferometer fringe phase generated by the etalon was observed. The obtained relative thermal change of the etalon OPD is equal to 5x10-9/°C of the ambient temperature change. Basing on the obtained coefficient and knowing the ambient temperature it is possible to apply numeric compensation of the laser wavelength. The obtained results are very satisfactory considering the simplicity of the system.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 1, 1; 22-23
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Badania interferencyjnego etalonu do stabilizacji długości fali diody laserowej
    Experimental analysis of interference etalon for laser diode laser wavelength stabilization
    Autorzy:
    Żaba, M.
    Dobosz, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/208345.pdf
    Data publikacji:
    2009
    Wydawca:
    Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
    Tematy:
    etalon interferencyjny
    dioda laserowa
    różnica dróg optycznych
    stabilizacja długości fali
    interferometrical etalon
    laser diode
    optical path difference
    wavelength stabilization
    Opis:
    W artykule przedstawione zostały metoda pomiarowa i wyniki badań interferencyjnego etalonu, przeznaczonego do stabilizacji częstotliwości fali światła emitowanego przez diodę laserową. Etalon stanowił stabilizowany termicznie klin optyczny. W badaniach jako wzorzec częstotliwości wykorzystano stabilizowany częstotliwościowo laser He-Ne. W trakcie przeprowadzonych doświadczeń obserwowana była niestabilność fazy prążków powstałych w etalonie przy zmiennej temperaturze otoczenia. Uzyskano względną termiczną zmianę różnicy dróg optycznych etalonu na poziomie 2⋅10⁻⁸/°C zmiany temperatury otoczenia.
    Measuring method and experimental results of the interference etalon designed for the purpose of laser diode frequency stabilization is presented. Thermally stabilized optical wedge acts as the etalon. He-Ne wavelength stabilized laser has been used as the frequency reference. During experiments instability of the interferometer fringe phase generated by the etalon has been observed when the ambient temperature was changed. The obtained relative thermal change of the optical path difference of the etalon is equal to 2⋅10⁻⁸/°C of the ambient temperature change.
    Źródło:
    Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej; 2009, 58, 1; 327-338
    1234-5865
    Pojawia się w:
    Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Wyznaczanie długości i względnej niestabilności fali światła diody laserowej w układzie interferometru Michelsona ze stabilizowaną różnicą dróg optycznych
    Determination of wavelength and wavelength relative instability of laser by means of optical path difference stabilized Michelson interferometer
    Autorzy:
    Żaba, M.
    Dobosz, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/158456.pdf
    Data publikacji:
    2007
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    interferometr Michelsona
    stabilizacja różnicy dróg optycznych
    zerowa różnica dróg optycznych
    Michelson interferometer
    stabilization of ihe optica) path
    difference
    null optical path difference
    Opis:
    W artykule przedstawiono budowę i działanie stanowiska do pomiaru długości oraz względnej niestabilności długości fali światła diody laserowej. Idea pomiaru polega na wyznaczeniu i porównaniu absolutnej wartości fazy rozkładu prążków interferencyjnych lasera badanego i wzorcowego w układzie interferometru Michelsona z systemem automatycznej stabilizacji różnicy dróg optycznych. Wiązki obu laserów są spolaryzowane względem siebie pod kątem prostym i wprowadzone są do układu interferometru po tym samym torze. Prostopadła polaryzacja wiązek laserowych, pozwala na późniejsze rozdzielenie i identyfikację pól interferencyjnych. W interferometrze określana jest zerowa różnica dróg optycznych a następnie jej wartość jest zwiększana z jednoczesnym pomiarem rzędów interferencji dla obu laserów. Po osiągnięciu zamierzonego rzędu interferencji lasera wzorcowego, uruchamiana zostaje procedura automatycznej stabilizacji różnicy dróg optycznych. Znajomość bezwzględnej wartości faz prążków obu laserów i długości fali lasera wzorcowego pozwala wyznaczyć długość fali diody laserowej, oraz względną niestabilność długości fali.
    The method of laser diode wavelength and wavelength instability determination for metrological application is presented. The measurement idea is based on absolute phase change measurement in the Michelson interferometer having optical path difference stabilization. Laser diode beam and He-Ne laser beam are used simultaneously as a source of light referring to the zero optical path difference are located. Next optical path lights are evaluated by counting fringe method. Increase of the optical path difference is stoped when fringe order of He-Ne laser is equal about to 10000. At point the optical path difference is stabilized using He-Ne laser light. Relation of the fringes phases values of both laser appoints wavelength and its relative wavelength instability.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 329-331
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-4 z 4

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies