Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "optical microscope" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-5 z 5
Tytuł:
Determination of acceleration of different dynamic microobjects by the television scanning optical microscope
Autorzy:
Prudyus, I.
Matiieshyn, Y.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/114123.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
television scanning optical microscope
microscope field of view
acceleration of movement
Opis:
The acceleration of the dynamic microobjects (MO) movement, the motion of which is accelerated uniformly or non-uniformly is an important task for television measuring systems. Most existing measuring systems usually have a small range of acceleration with a short period of growth. Such period of growth of the acceleration is characteristic for many dynamic MO. Better instruments to determine the non-uniform velocity of the various objects are based on various laser devices. These instruments are contactless and high-speed enough. In the paper the basics of the television scanning optical microscope (TSOM) are presented. In the Chapter 2 the schematic diagram of the TSOM and its main functionalities are pointed out. In the Chapter 3 an adaptation of the TSOM for movement acceleration of microobjects is discussed. Modified structural and functional diagram of the instrument is presented.
Źródło:
Measurement Automation Monitoring; 2015, 61, 8; 410-412
2450-2855
Pojawia się w:
Measurement Automation Monitoring
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Signal-to-noise ratio improvement in scanning television optical microscope
Autorzy:
Prudyus, I.
Shkliarskyi, V.
Hudz, B.
Rehush, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/114383.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
scanning television optical microscope
cathode ray tube
noise
photomultiplier tube
Opis:
Scanning television optical microscope is designed to investigate microscopic objects, larger than 0.1 micrometers. To illuminate microobject with this microscope there is used a high resolution cathode ray tube. Low illumination of the tested microobject lets to explore living microorganisms in real time. The current microscopic image has low contrast. To increase image contrast it is necessary to increase microscope sensitivity. The main sources of noise in scanning television optical microscope are: 1) composite video shaper; 2) photomultiplier tube; and 3) scanning cathode ray tube. Detailed analysis of noise sources in video signal of the microscope is presented in the paper. Equations describing the sources are given. Dependencies are plotted and discussed.
Źródło:
Measurement Automation Monitoring; 2015, 61, 8; 406-409
2450-2855
Pojawia się w:
Measurement Automation Monitoring
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Scanning optical and electron microscopes with computer image acquisition
Autorzy:
Konstankiewicz, K.
Pukos, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/25623.pdf
Data publikacji:
1995
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Agrofizyki PAN
Tematy:
electron microscope
scanning optical microscope
microscopic method
tandem scanning reflected light microscope
computer image analysis
scanning electron microscopy
biological material
rotary microtome
confocal microscopy
Źródło:
International Agrophysics; 1995, 09, 4
0236-8722
Pojawia się w:
International Agrophysics
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Zastosowanie techniki wizyjnej w pomiarze odkształcenia bezwzględnego warstwy kleju w spoinie
Vision system applied to measurement deformation of glue layer in adhesive joint
Autorzy:
Kubit, A.
Mączka, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/277334.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
Tematy:
połączenia klejowe
mikroskop optyczny
pomiar mikrometryczny
MATLAB
system wizyjny
adhesive joint
optical microscope
micro-value measurement
vision system
Opis:
W artykule zaprezentowano metodę pomiaru odkształcenia bezwzględnego warstwy kleju w złączu klejowym poddanym oddzieraniu. Zasadniczym celem opisanego doświadczenia było uzyskanie charakterystyki rozpatrywanego złącza. Ze względu na charakter obciążenia (wywołujący stan oddzierania w warstwie kleju) rozpatrywana wartość odkształcenia jest na tyle mała, że słuszny jest tu pomiar z rozdzielczością 1μm. W związku z powyższym za odpowiednią do tego celu metodę pomiarową uznano technikę wizyjną. Do pomiaru wykorzystano mikroskop optyczny wyposażony w kamerę cyfrową, która rejestrowała przemieszczenie danego fragmentu próbki (odpowiadające szukanemu odkształceniu warstwy kleju) pod wpływem wzrastającej siły obciążającej od zera do wartości niszczącej. Zarejestrowane nagranie, zawierające przebieg procesu, składa się z ciemnego fragmentu próbki oraz jasnego tła. Obraz ten został poddany binaryzacji z użyciem Image Acquisition Toolbox MATLAB. W rezultacie zrealizowano pomiar przemieszczenia w czasie. Równolegle w trakcie doświadczenia przeprowadzony został pomiar siły wywołującej stan oddzierania. Dzięki sprzężeniu wymienionych wielkości mierzonych uzyskano charakterystykę siły w funkcji przemieszczenia osiągając zamierzony cel badania. Jednak przed podjęciem właściwego pomiaru zmierzono wartość przemieszczenia dla jednej wartości siły statycznej, by określić słuszność przyjętej metody pomiarowej. Otrzymany wynik porównano z analogiczną wielkością modelu numerycznemu przygotowanego przy użyciu Metody Elementów Skończonych (MES). W artykule przedstawiono stanowisko pomiarowe, algorytm pomiaru oraz uzyskane charakterystyki złącza dla trzech wariantów próbki.
This paper describes results of investigations which main aim was to prepare methodology of measurement deformation of glue layer in adhesive joint. Principal purpose of these investigations was to achieve characteristic of glue joint which is subjected to peel. Because of thistype of loading, causing peel stress in adhesive layer, deformation is small and it is necessary to obtain measurement with 1 micrometer precision. Due to that requirement vision system was used to measure deformation. Optical microscope equipped in digital camera was used to register displacement of particular field of specimen (what is equivalent to searching strain of glue) which is loaded by increasing force from zero to value that causes failure of sample. Registered movie which include dark fragment of specimen and bright background was processed using Image Acquisition Toolbox MATLAB to obtain binary image of these area. It enables to retrieve displacement in time. In parallel to image processing, value of loading force was measured. In consequence, force displacement curve for specimen was designated. Primary goal of investigations was to measure displacement for static force to estimate advisable of methodology. Results achieved using vision system measurement was compared with numerical model prepared by Finite Element Method (FEM). Article presents measurement procedure and describes algorithm of investigation. Force displacement curve for three variants of specimen is shown.
Źródło:
Pomiary Automatyka Robotyka; 2012, 16, 5; 91-97
1427-9126
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Robotyka
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Polarization multiplexed bit data recording to submicron-particles-arrayed optical storage
Autorzy:
Okuzono, Daiki
Egami, Chikara
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2060688.pdf
Data publikacji:
2022
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
submicron particle
confocal microscope
optical storage
Opis:
In this study, a submicron-particles-arrayed optical storage disk was fabricated by the spin coating method. Moreover, we have formed a multi-valued pit by irradiating linearly polarized laser beams at multiple angles (0° and 90°). The optical setup has the semiconductor laser (λ = 637 nm) for reconstructing and the SHG-YVO4 laser (λ = 532 nm) for recording. The optical setup measured the submicron-particles-arrayed optical storage as a confocal image by 2D scanning with a motorized stage.
Źródło:
Optica Applicata; 2022, 52, 1; 67--76
0078-5466
1899-7015
Pojawia się w:
Optica Applicata
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-5 z 5

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies