- Tytuł:
-
Analiza złożonych materiałów o strukturze włókien mineralnych w oparciu o nieinwazyjne metody spektroskopowe
Analysis of the composite materials having a structure of the mineral fibers based on the non-invasive spectroscopic methods - Autorzy:
-
Śmieszek-Lindert, W.
Bajorek, A.
Kubacki, J. - Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/142437.pdf
- Data publikacji:
- 2015
- Wydawca:
- Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Przemysłu Chemicznego. Zakład Wydawniczy CHEMPRESS-SITPChem
- Tematy:
-
Wełna mineralna
nieorganiczny materiał izolacyjny
XRF
XPS
Mineral wool
inorganic insulating material - Opis:
-
W artykule przedstawiono skład chemiczny warstwy powierzchniowej
i objętościowej wełny szklanej i skalnej. Analizy
zostały przeprowadzone przy użyciu dwóch metod instrumentalnych
(nieinwazyjnych technik), rentgenowskiej analizy fluorescencyjnej
(XRF, X-Ray Fluorescence) i rentgenowskiej spektrometrii
fotoelektronów (XPS, X-Ray Photoelectron Spectroscopy). Zaobserwowano,
że skład wełny szklanej i skalnej jest zróżnicowany.
Charakteryzuje się on zawartością głównych tlenków, takich jak
SiO2, Al2O3, CaO, MgO oraz Fe2O3. Analizowane wełny mineralne
są materiałami o złożonym składzie chemicznym, a użyte
metody spektroskopowe w dobrym stopniu odzwierciedlają ich
główne składniki. Wykazano przewagę rentgenowskiej analizy fluorescencyjnej
(XRF) nad metodą XPS, oraz ich wzajemną komplementarność.
Chemical composition of glass wool and stone wool has been investigated. Researches were carried out by using two analytical techniques, X-ray fluorescence analysis (XRF) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). The both methods are non-destructive. It was observed that composition of the glass wool and stone wool is variable, but it characterizes by the content of the main oxides as SiO2, Al2O3, CaO, MgO, and Fe2O3. Analyzed wool samples are materials having complex chemical composition, and used spectroscopic methods in good extent reflect their main ingredients. It has been demonstrated the advantage of XRF method over the use of XPS technique, and their mutual complementarity. - Źródło:
-
Chemik; 2015, 69, 7; 411-418
0009-2886 - Pojawia się w:
- Chemik
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł