Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "near electromagnetic field" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-4 z 4
Tytuł:
The identification method of the sources of radiated electromagnetic disturbances on the basis of measurements in the near-field zone
Autorzy:
Trzcinka, Krzysztof
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2141812.pdf
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
Tematy:
electromagnetic compatibility
EMC
near electromagnetic field
radiated emission
near-field probe
source of disturbance
Opis:
The paper presents results of tests of a simple device, consisting in the location of a source of disturbance emission by means of measurements within the near field with manual positioning of the measuring probe. The effectiveness of the source of disturbance location was finally verified by a positive result of the radiated emission tests in the EMC laboratory using a standardised method.
Źródło:
Journal of Automation Mobile Robotics and Intelligent Systems; 2021, 15, 4; 53-64
1897-8649
2080-2145
Pojawia się w:
Journal of Automation Mobile Robotics and Intelligent Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
A simple model of the scanning near-field optical microscopy probe tip for electric field enhancement
Autorzy:
Wang, Y.
Cai, W.
Yang, M.
Liu, Z.
Shang, G.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/174091.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
near-field tip
electromagnetic field enhancement
finite-difference time-domain
FDTD
Opis:
In this paper, we present a simple near-field probe model that is composed of an elongated ellipsoid and a finite metal truncated cone. The elongated ellipsoid has been shown to act as a protrusion or separate particle near a truncated cone apex with strong near-field enhancement under laser excitation. By controllably varying the length of the ellipsoid protrusion from the truncated cone, the truncated cone-ellipsoid probes can be adapted to the suitability of near-field probes. The effects of substrate material and excitation wavelength on the near field enhancement for different tip apexes are also discussed. In addition, we compared the properties of the truncated cone-ellipsoid probe with the widely used hemisphere conical tip by launching surface plasmon polaritons on plasmonic waveguides to prove the suitability of the truncated cone-ellipsoid probes as high performance near-field probes. The present simple model would provide a theoretical basis for the actual construction of probes.
Źródło:
Optica Applicata; 2017, 47, 1; 119-130
0078-5466
1899-7015
Pojawia się w:
Optica Applicata
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Ekspozycja zawodowa na impulsowe pola elektromagnetyczne wytwarzane przez urządzenia techniki wojskowej
Occupational exposure to pulsed electromagnetic fields generated by military equipment
Autorzy:
Kieliszek, J.
Sobiech, J.
Stankiewicz, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/180458.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Centralny Instytut Ochrony Pracy
Tematy:
pole elektromagnetyczne
pole bliskie
ekspozycja
urządzenia radiolokacyjne
electromagnetic fields
near field
exposure
radar
Opis:
Eksploatacja urządzeń techniki wojskowej wiąże się w znacznym zakresie z koniecznością przebywania w polu elektromagnetycznym o wartościach stref ochronnych bezpieczeństwa i higieny pracy, ustanowionych w przepisach krajowych. Wartości natężeń pola elektromagnetycznego na stanowiskach pracowników, obsługujących te urządzenia, często przewyższają wartości występujące przy urządzeniach stosowanych w innych działach gospodarki. Polskie Normy tylko częściowo uwzględniają specyfikę urządzeń wojskowych. Ich bezpośrednie zastosowanie prowadzi w wielu wypadkach do niedoszacowania narażenia na pole elektromagnetyczne strefy bliskiej anten radarów. W pracy przedstawiono analizę wielkości natężeń pola elektrycznego występującego wokół urządzeń wytwarzających silne pola modulowane impulsowo. Na podstawie uzyskanych wyników badań dokonano analizy ekspozycji personelu obsługującego te urządzenia na stałych i zmiennych stanowiskach pracowników. Przeprowadzona ocena wskazuje stanowiska i obszary wokół urządzeń techniki wojskowej, które powinny podlegać szczególnej ochronie ze względu na zwiększone narażenie personelu.
Operating military technology is highly related to necessary exposure to electromagnetic fields, whose values are specified in national regulations on protection zones of occupational safety and health. Values of strength of electromagnetic fields in locations of people operating such devices often exceed values near devices in other areas of the economy. Polish standards only partially take into account the specificity of military equipment. The direct use of such devices in many cases leads to an underestimation of exposure to electromagnetic fields in the near field of radar antennas. This paper presents an analysis of the strength of electromagnetic fields near devices generating strong pulse modulated fields. Based on the measurement results, exposure of personnel operating devices at fixed and variable workstations was analysed. The evaluation indicates workstations and areas around military equipment that should be especially protected due to anincreased exposure of personnel.
Źródło:
Bezpieczeństwo Pracy : nauka i praktyka; 2013, 9; 22-24
0137-7043
Pojawia się w:
Bezpieczeństwo Pracy : nauka i praktyka
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
EM emission of ICs implementated in FPGA : influence of floor plan and electric function
Autorzy:
Szczęsny, J.
Kołodziejski, J. F.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/378429.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Elektronowej
Tematy:
FPGA
emisja elektromagnetyczna
prąd wysokiej częstotliwości
Xilinx
electromagnetic emission
high frequency current
near-field disturbances
Opis:
In the paper some investigations are presented aiming to check the influence of IC floor plan and the circuit function on its electromagnetic emissions. As the test vehicle Xilinx FPGA XCV800 type was used, in which two types of multiplicators were implemented. To compare the effects, high frequency currents in supply and ground pins of the circuits as well as near field disturbances were measured over the circuits.
Źródło:
Electron Technology : Internet Journal; 2007, 39, 4; 1-7
1897-2381
Pojawia się w:
Electron Technology : Internet Journal
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-4 z 4

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies