Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "model analogowy" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-3 z 3
    Tytuł:
    Model Beukena w zagadnieniach badań regulatorów temperatury
    The work stand basing on Beuken model for temperature controllers testing
    Autorzy:
    Wesołowski, M.
    Mikułowicz, B.
    Skrzypczak, P.
    Hauser, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/377672.pdf
    Data publikacji:
    2015
    Wydawca:
    Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
    Tematy:
    regulacja temperatury
    model analogowy RC
    symulacja
    Opis:
    Laboratoryjne badania układów regulacji temperatury urządzeń elektrotermicznych są zazwyczaj czasochłonne. Fakt ten wynika ze znacznych wartości stałych czasowych rzeczywistych układów grzejnych. Jedną z możliwości efektywnego ograniczania czasu pomiarów jest wykorzystanie modeli analogowych, umożliwiających dokładne odzwierciedlenie warunków pracy urządzeń elektrotermicznych, w zróżnicowanych skalach czasu. Niekwestionowaną zaletą modeli tej klasy jest możliwość dowolnego kształtowania dynamiki przebiegów czasowych prądów i napięć, oraz dopasowania modeli do układów wyjściowych badanych regulatorów. W niniejszym artykule zaproponowano wykorzystanie uniwersalnego modelu Beukena, sprzężonego z układem regulacji zaimplementowanym w sterowniku PLC, do badania charakterystyk statycznych i dynamicznych zróżnicowanych typów regulatorów. Możliwość rejestracji i porównania przebiegów czasowych wielkości regulowanej oraz sygnałów sterujących, pozwala na wybór racjonalnego algorytmu sterowania, oraz nastaw regulatora, gwarantujących spełnienie warunków określonych przez użytkownika.
    Laboratory tests of temperature control systems of electrothermal devices are, in most cases, time consuming. Such conclusion results from high values of time constants of real heating systems. Effective way of reduction of time necessary for tests, is the usage of analogue models. Such models enable for precise simulation of different electrothermal devices, in different (defined by user) time scales. In the article, utility of universal Beuken (RC) model in applications of temperature controllers tests, were presented. The work stand, basing on PLC, for determination of static and dynamic characteristics of different temperature control systems was discussed. Possibility of results comparison in real time, enable fast selection of proper control algorithm.
    Źródło:
    Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering; 2015, 84; 93-101
    1897-0737
    Pojawia się w:
    Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Analogowe i numeryczne modelowanie rozkładu pola elektrycznego w układach izolacyjnych urządzeń elektrycznych – laboratorium studenckie wspomagane technologiami sieciowymi
    Analog and numerical modeling of the electric field distribution in the insulation systems of electrical devices - student laboratory aided with network technologies
    Autorzy:
    Szafraniak, B.
    Fuśnik, Ł.
    Zydroń, P.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/268488.pdf
    Data publikacji:
    2018
    Wydawca:
    Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
    Tematy:
    współczesne laboratorium studenckie
    wysokonapięciowe układy izolacyjne
    model analogowy
    modelowanie numeryczne
    modern student laboratory
    HV insulating systems
    analogue model
    numerical modeling
    Opis:
    Zmieniające się narzędzia inżynierskie stosowane w projektowaniu układów izolacyjnych urządzeń elektrycznych sprawiają, że w procesie kształcenia specjalistycznego inżynierów konieczne jest nowe podejście w organizowaniu i prowadzeniu zajęć dydaktycznych. Ich efektem powinno być zarówno poznanie współczesnych narzędzi modelowania układów izolacyjnych oraz zjawisk i narażeń towarzyszących ich eksploatacji, ale równocześnie ułatwienie ich zrozumienia w oparciu o przykłady praktyczne, umożliwiające wykonanie samodzielnych pomiarów i porównań na modelach fizycznych. Pozwala to na odniesienie abstrakcyjnych modeli numerycznych do obiektów rzeczywistych. Artykuł przedstawia przykład realizacji zajęć dydaktycznych łączących wykonanie pomiarów rozkładów pola elektrycznego w laboratoryjnych, analogowych modelach wysokonapięciowych układów izolacyjnych z numerycznym modelowaniem tych układów przy zastosowaniu oprogramowania stosującego metodę elementów skończonych (MES). Modele analogowe są przygotowane na podstawie danych technicznych rzeczywistych urządzeń elektrycznych, publikowanych w katalogach producentów. Wyniki poszczególnych etapów zajęć są przetwarzane i gromadzone na serwerze dostępnym dla poszczególnych grup ćwiczeniowych w laboratoryjnej sieci komputerowej. Jest to dodatkowy element kształcenia pozwalający na rozwój umiejętności sieciowej pracy grupowej.
    Changing of engineering tools used in the design of electrical insulating systems make the need for a new approach in the organization and conducting of teaching in the process of engineers educating. Their effect should be both to get to know modern tools for modeling of insulating systems, but at the same time to facilitate their understanding based on practical examples, enabling measurements and comparisons on physical models. This allows reference of abstract numerical models to real technical objects. The article presents an example of the implementation of didactic courses combining measurements of electric field distributions in laboratory analog models of HV insulating systems with numerical modeling of these systems using FEM software. Analog models are prepared on the basis of technical data of real electrical devices. The results of individual stages of courses are processed and collected on a server available for individual exercise groups in the laboratory computer network. It is an additional element of education that allows the development of networking skills.
    Źródło:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2018, 58; 77-80
    1425-5766
    2353-1290
    Pojawia się w:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych
    Tolerance problem in testing of fully differential electronic circuits
    Autorzy:
    Toczek, W.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/327522.pdf
    Data publikacji:
    2008
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej PAN
    Tematy:
    układ analogowy
    testowanie
    układy w pełni różnicowe
    model probabilistyczny testu
    ocena ryzyka
    analog circuit testing
    fully differential circuits
    probabilistic model for test
    risk evaluation
    Opis:
    Rozrzuty tolerancyjne silnie wpływają na proces decyzyjny, oparty na testowaniu w pełni różnicowych układów elektronicznych metodą zorientowaną na uszkodzenia. Skutkiem tolerancji są napięcia rezidualne w nieuszkodzonym układzie testowanym, oraz niepewność progu komparacji w układzie testującym. W rezultacie pojawia się ryzyko błędnej diagnozy. W artykule dokonano syntezy probabilistycznego modelu odpowiedzi układu testowanego i zastosowano go, w połączeniu z uogólnionym modelem pomiaru, do oceny ryzyka błędnej decyzji diagnostycznej z punktu widzenia użytkownika i producenta układu testowanego.
    Tolerance deviations strongly affect the test-based decisional process. In the fault-oriented testing of fully differential electronic circuits tolerances cause the residual voltages in the fault-free circuit under test and uncertainty of the threshold in the testing circuit. As the result, risk of taking the wrong decision appears. In the paper, a probabilistic model for responses of circuit under test is developed and applied together with a general probabilistic model of the measurement process for the consumer's and producer's risks assessment.
    Źródło:
    Diagnostyka; 2008, 1(45); 127-130
    1641-6414
    2449-5220
    Pojawia się w:
    Diagnostyka
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-3 z 3

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies