Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "mikroskopia sil atomowych" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
Wyświetlanie 1-15 z 24
Tytuł:
A Comparison between Contact and Tapping AFM Mode in Surface Morphology Studies
Autorzy:
Bramowicz, M.
Kulesza, S.
Rychlik, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/298112.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Uniwersytet Warmińsko-Mazurski w Olsztynie
Tematy:
mikroskopia sił atomowych
AFM
topografia powierzchni
atomic force microscopy (AFM)
surface topography
Opis:
The paper presents recent results from studies of a surface topography of a platinum calibration grid on silicon substrate obtained in both contact and tapping modes of the AFM microscope. The results are analyzed in order to determine the influence of the scan set-up and the SPM probe onto estimated fractal parameters and surface anisotropy ratio.
Źródło:
Technical Sciences / University of Warmia and Mazury in Olsztyn; 2012, 15(2); 307-318
1505-4675
2083-4527
Pojawia się w:
Technical Sciences / University of Warmia and Mazury in Olsztyn
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Development of a hybrid Atomic Force microscope and Optical Tweezers apparatus
Autorzy:
Zembrzycki, K.
Pawłowska, S.
Nakielski, P.
Pierini, F.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/31343079.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Instytut Podstawowych Problemów Techniki PAN
Tematy:
optical tweezers
atomic force microscopy (AFM)
AFM/OT
mikroskopia sił atomowych
szczypce optyczne
Opis:
The role of mechanical properties is essential to understand molecular, biological materials and nanostructures dynamics and interaction processes. Atomic force microscopy (AFM), due to its sensitivity is the most commonly used method of direct force evaluation. Yet because of its technical limitations this single probe technique is unable to detect forces with femtonewton resolution. In this paper, we present the development of a combined atomic force microscopy and optical tweezers (AFM/OT) instrument. The system is based on a commercial AFM and confocal microscope. The addition of three lasers along with beam shaping and steering optics, on which the optical tweezer is based upon, provide us with the ability to manipulate small dielectric objects suspended in a fluid. Additionally, this same device allows for direct displacement and force measurement with very high resolution and accuracy in the same AFM scanning zone. We have also fitted a laser and a set of filters to observe fluorescent samples appropriately exited. We show that this is a great improvement of a standalone AFM force resolution and more so opens a way to conduct experiments using a hybrid double probe technique with high potential in nanomechanics, molecules manipulation and biological studies. This paper describes in detail the construction of all the modules such as the trapping laser optics, detection laser optics and the fluorescence module. Also, due to its importance on the performance of the equipment, the electronics part of the detection system is described. In the following chapters the whole adjustment and calibration is explained. The performance of the apparatus is fully characterized by studying the ability to trap dielectric objects and quantifying the detectable and applicable forces. The setting and sensitivity of the particle position detector and force sensor is shown. We additionally describe and compare different optical tweezer calibration methods. In the last part we show the ability of our instrument to conduct experiments using the proposed double-probe technique, in this case to study interaction forces between two particles.
Pomiary własności mechanicznych i sił w mikro i nanoskali mają bardzo ważne znaczenie w badaniach dynamiki i oddziaływań materiałów biologicznych i nanostruktur. Mikroskopia sił atomowych (ang. AFM), z uwagi na swoją czułość, jest najczęściej używaną techniką do bezpośredniego pomiaru sił. Jednak z powodu swoich ograniczeń nie jest w stanie mierzyć sił z rozdzielczością w zakresie femtonewtonów. Takie możliwości stwarza metoda optyczna oparta na tzw. szczypcach optycznych (ang. OT). Z drugiej strony z uwagi na fizyczne ograniczenia tej metody pomiary charakteryzujące oddziaływujące powierzchnie w niewielkich odległościach, nadal wymagają stosowania mikroskopii sił atomowych. W poniższej pracy opisujemy unikalną konstrukcję hybrydową bazującą na połączeniu obu technik w jednym systemie. Skonstruowany system (AFM/OT) oparty jest na autorskiej modyfikacji komercyjnego mikroskopu AFM (firmy NT-MDT) i jest możliwy do zastosowania zasadniczo w każdym innym dostępnym na rynku mikroskopie typu AFM. Modyfikacja polega zasadniczo na budowie dodatkowego systemu optycznego formującego wiązki trzech laserów, na których bazują szczypce optyczne. Umożliwia to manipulację małymi obiektami dielektrycznymi zawieszonymi w płynie i precyzyjną detekcję ich położenia. Dzięki takiej modyfikacji stworzony system AFM/OT pozwala na bezpośrednie pomiary przemieszczenia oraz siły z bardzo dużą rozdzielczością i dokładnością w obszarze działania sondy AFM. Dodatkowo system został wyposażony w laser i elementy optyczne pozwalające na pobudzanie i detekcję fluorescencji odpowiednio przygotowanych obiektów. Wykazujemy, że ten instrument istotnie poprawia zakres i rozdzielczość sił mierzonych za pomocą standardowego mikroskopu AFM, jak również otwiera drogę do przeprowadzania eksperymentów z użyciem hybrydowej techniki dwóch sond, mającej wysoki potencjał zastosowań w nanomechanice, badaniach biologicznych i nanomanipulacji. Niniejsza praca przedstawia szczegóły konstrukcyjne zbudowanych modułów szczypiec optycznych, jak i układ elektroniczny pozwalający na precyzyjne pomiary przemieszczeń obiektów uwięzionych przez szczypce optyczne. W kolejnych partiach pracy przedstawiona jest procedura dostrajania układu optycznego i metodyka kalibracji systemu pomiaru sił i przemieszczeń. Podstawowe parametry aparatury zostają w pełni scharakteryzowane poprzez zbadanie jej zdolności do manipulacji dielektrycznymi obiektami oraz do mierzeni wywieranych na nie sił. Dodatkowo przedstawiamy opis i porównanie różnych metod kalibracji szczypiec optycznych. W ostatniej części pracy przedstawiamy na przykładzie pomiaru oddziaływań bliskiego kontaktu dwóch cząstek koloidalnych potencjał naszego instrumentu dla przeprowadzania pomiarów z jednoczesnym użyciem techniki dwóch sond (AFM/OT).
Źródło:
IPPT Reports on Fundamental Technological Research; 2016, 2; 1-58
2299-3657
Pojawia się w:
IPPT Reports on Fundamental Technological Research
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Surface analysis of long-term hemodialysis catheters made of carbothane (poly(carbonate)urethane) before and after implantation in the patients’ bodies
Autorzy:
Nycz, M.
Paradowska, E.
Arkusz, K.
Kudliński, B.
Krasicka-Cydzik, E.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/306579.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
chropowatość powierzchni
mikroskopia sił atomowych
mikroskopia skaningowa
surface roughness
atomic force microscopy
scanning electron microscopy
Catheter-tissue contact
film
Opis:
The vascular cannulation is associated with a number of complications. The aim of this work was to study the composition and distribution of the film covering the surfaces of Mahurkar Maxid and Palindrome catheters, which were removed from the body of long-term hemodialysis patients. Moreover, the roughness and contact angle of the catheters were evaluated. Methods: Two brand new (as a reference) and thirty used catheters were the subject of the study. Their implantation period lasted from 4 months to a year and the reason for removal was the production of another vascular access or obstruction. Surfaces were analyzed by scanning electron microscope, atomic force microscope and goniometer. Results: The inner surfaces of the used catheters were covered with a film of various complexity which includes a plurality of protein, blood cell counts and the crystals. The closer to the distal part the film becomes more complex and multi-layered. Even the surfaces of brand new catheter were not completely smooth. The only significant difference between analyzed models was the presence of thrombus in the distal part of Mahurkar Maxid catheters, not in the Palindrome. Conclusions: The distal part of the catheters is the place most exposed to obstruction and infection, which may be due to not reaching the anticoagulant agent into this part. Not only the occurrence of side holes affects the formation of thrombus, but also their quantity, geometry and distribution which effect on fluid mechanics. The surface of the catheters needs to improvement to minimize the occurrence of defects and cracks.
Źródło:
Acta of Bioengineering and Biomechanics; 2018, 20, 2; 47-53
1509-409X
2450-6303
Pojawia się w:
Acta of Bioengineering and Biomechanics
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Assessment of the possibilities of using atomic force microscopy (AFM) for characterisation of polymeric nanofiltration membrane surfaces
Ocena możliwości wykorzystania mikroskopu sił atomowych w badaniach powierzchni polimerowych membran nanofiltracyjnych
Autorzy:
Kowalik-Klimczak, A.
Gierycz, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/257281.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
atomic force microscopy (AFM)
nanofiltration
polymeric membranes
surface roughness
mikroskopia sił atomowych
nanofiltracja
membrany polimerowe
chropowatość powierzchni
Opis:
In this study, the possibility of using an atomic force microscopy to analyse the surface structure of the polymeric nanofiltration membranes was investigated. Analysis of the obtained results allowed one to conclude that the size of the scanned surface directly affects the measurement result of both the average and root-mean-square roughness of tested membranes. Therefore, it is necessary to compare the results obtained for the same size of the scanned surface.
W pracy zbadano możliwość zastosowania mikroskopu sił atomowych do analizy struktury powierzchni polimerowych membran nanofiltracyjnych. Analiza uzyskanych wyników pozwoliła na stwierdzenie, że wielkość skanowanej powierzchni bezpośrednio wpływa na wynik pomiaru zarówno chropowatości średniej arytmetycznej, jak i kwadratowej testowanych membran. Konieczne jest zatem porównywanie wyników uzyskanych dla takich samych wielkości skanowanej powierzchni.
Źródło:
Problemy Eksploatacji; 2014, 3; 17-25
1232-9312
Pojawia się w:
Problemy Eksploatacji
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Charakterystyka nanostrukturalna materiału genetycznego do zastosowania w terapii genowej
Nanostructural characteristics of genetic material for gene therapy application
Autorzy:
Duda, M.
Frączkowska, K.
Przybyło, M.
Kopaczyńska, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/261139.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki. Katedra Inżynierii Biomedycznej
Tematy:
kondensacja DNA
spermidyna
terapia genowa
mikroskopia sił atomowych
DNA condensation
spermidine
gene therapy
atomic force microscopy (AFM)
Opis:
Terapia genowa jest obecnie bardzo dynamicznie rozwijającą się techniką biomedyczną, która może znaleźć zastosowanie w medycynie w leczeniu chorób przewlekłych i dziedzicznych. Badania skupiają się na opracowywaniu nowych strategii dotyczących procesów kondensacji i ochrony materiału genetycznego (DNA) wprowadzanego do komórki docelowej. Struktura i stopień upakowania dostarczanego DNA wpływają na kluczowe właściwości fizykochemiczne, determinujące czy wprowadzony wektor rekombinowany ulegnie ekspresji, czy też degradacji. Związki chemiczne, zwane czynnikami kondensującymi, to substancje powodujące zwinięcie DNA, a stopień kondensacji materiału genetycznego zależy bezpośrednio od rodzaju i stężenia użytego czynnika kondensującego. Do cząsteczek wykazujących właściwości kondensujące należą poliaminy, w opisywanym eksperymencie zastosowano poliaminę – spermidynę. Przeprowadzone badania miały na celu charakterystykę nanostrukturalną materiału genetycznego pod wpływem działania czynnika kondensującego. W wyniku analizy wykonanej za pomocą mikroskopii sił atomowych (AFM) wykazano, że plazmid DNA ulega kondensacji pod wpływem spermidyny, formując struktury rozetowe.
Gene therapy is a new promising method that may find many applications in modern biomedicine. Especially, it may be a powerful tool in chronic and hereditary diseases treatment. Current studies focus on development of novel strategies concerning genetic material (DNA) condensation and protection, whilst it is introduced into the cellular nucleus. Once the DNA enters the cell, it’s either passed on and expressed in the nucleus or degraded by intracellular nucleases. The structure and the degree of compaction influence physicochemical properties that determine what will happen to delivered genetic material. DNA coiling can be caused by chemical compounds called compaction agents, such as polyamines like spermidine used in this study. The aim of this research was to examine the nanostructural characteristics of genetic material exposed to compaction agent. The measurements and analysis performed by atomic force microscopy (AFM) indicate that DNA plasmid undergoes condensation and forms rosette-like structures once subjected to spermidine.
Źródło:
Acta Bio-Optica et Informatica Medica. Inżynieria Biomedyczna; 2015, 21, 1; 1-8
1234-5563
Pojawia się w:
Acta Bio-Optica et Informatica Medica. Inżynieria Biomedyczna
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Ocena wpływu promieniowania świetlnego na nanoskopowe właściwości powierzchni kompozytów termoutwardzalnych
The evaluation of the solar radiation impact on the nanoscoppic properties of the surface of the sheet moulder composite
Autorzy:
Sikora, A.
Fałat, T.
Adamowska, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/159373.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:
badania środowiskowe
promieniowanie słoneczne
tomografia komputerowa
mikroskopia sił atomowych
environmental tests
solar radiation
micro computer tomography
atomic force microscopy
Opis:
Ocena wpływu promieniowania słonecznego na właściwości mechaniczne materiałów jest jednym z podstawowych badań środowiskowych, które przywoływane są w normach przedmiotowych dotyczących różnego typu urządzeń i elementów stosowanych w elektrotechnice. Rozwój wysokorozdzielczych technik diagnostycznych pozwala na dokonywanie bardziej szczegółowych niż dotychczas analiz wpływu czynników środowiskowych na właściwości mechaniczne powierzchni, co może być szczególnie cenne w przypadku prac nad tzw. nanomateriałami. W pracy zostaną przedstawione wyniki analiz wykonanych dla próbki kompozytu termoutwardzalnego – SMC (sheet moulder composite), przeprowadzonych z wykorzystaniem mikroskopii sił atomowych oraz mikrotomografii komputerowej, odniesione do wykonanych zgodnie z wymaganiami normy testów odporności na udarność. Uzyskane wyniki pozwalają stwierdzić przydatność wysokorozdzielczych technik diagnostycznych w badaniach wpływu promieniowania świetnego na powierzchnię materiału.
The evaluation of the solar radiation influence on the mechanical properties of the material is one of the most popular investigation methods among various environmental tests, mentioned in standards related to various devices and components utilized in electrotechnics. The development of the high-resolution diagnostic methods allowed to perform much more detailed analysis of the influence of the environmental factors on the mechanical properties of the surface. Such tools can be particularly useful in case of the nanomaterials development. In this work we present the analysis of the solar radiation caused degradation of the SMC material - sheet moulder composite, investigated with atomic force microscopy and micro computer tomography. Obtained results were compared to the outcome of the measurements of the impact strength tests. The measurement data allow to confirm the usability of the high-resolution diagnostic methods in the determination of the influence of the solar radiation on the surface of the material.
Źródło:
Prace Instytutu Elektrotechniki; 2012, 259; 63-64
0032-6216
Pojawia się w:
Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Description of Surface Topography of Metal Matrix Composite Castings
Autorzy:
Gawdzińska, K.
Bryll, K.
Gucma, M.
Pijanowski, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/382957.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
metal matrix composites
surface topography
profilography
confocal microscopy
atomic force microscopy (AFM)
kompozyty metalowe
topografia powierzchni
profilograf
mikroskopia konfokalna
mikroskopia sił atomowych
Opis:
The paper presents studies of topography of the metal matrix composite castings using profilography, confocal microscopy and atomic force microscopy. The examined materials were composites from the ex-situ group, manufactured by the saturation of reinforcement (aluminosilicate or carbon) with the liquid aluminum alloy (AlSi9 or AlSi11). The materials were observed on the various surface state, resulting from different stages of preparation of the polished section for the metallographic between the composite matrix and reinforcement.
Źródło:
Archives of Foundry Engineering; 2014, 14, 1 spec.; 169-174
1897-3310
2299-2944
Pojawia się w:
Archives of Foundry Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Utilization of AFM mapping of surfaces mechanical properties in diagnostics of the materials for electrotechnics
Wykorzystanie mapowania właściwości mechanicznych powierzchni technikami AFM w diagnostyce materiałów stosowanych w elektrotechnice
Autorzy:
Sikora, A.
Bednarz, Ł.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/158826.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:
mikroskopia sił atomowych
tryb NanoSwing
elektrotechnika
atomic force microscopy (AFM)
time-resolved tapping mode
mechanical properties mapping
nanomaterials
material science
Opis:
Atomic force microscopy (AFM) is one of the most powerful diagnostic methods used in micro- and nanoscale imaging of the topography and various physical properties of the surface. As this method involves the scanning tip/sample interaction, it is possible to observe the response of the surface on periodically changing load causing by the scanning tip. By utilizing so called time-resolved tapping mode, we could perform the mapping of the surface's mechanical properties: stiffness, adhesion, energy dissipation and others. In this paper we present the idea of the NanoSwing imaging technique developed at Electrotechnical Institute, Division of Electrotechnology and Materials Science in Wrocław as well as the examples of the measurement results.
Mikroskopia sił atomowych (AFM) jest jedną z najbardziej zaawansowanych technik diagnostycznych w mikro- i nanoskali, stosowaną w procesie obrazowania topografii oraz różnych właściwości fizycznych powierzchni. Wykorzystanie oddziaływania ostrze skanujące-próbka umożliwia obserwację odpowiedzi materiału na okresowe zmiany nacisku wywoływane przez ostrze, dzięki czemu możliwa jest ocena właściwości mechanicznych próbki. Zastosowanie trybu dynamicznego z analizą oscylacji skrętnych belki skanującej w domenie czasu, umożliwiło wykonywanie mapowania takich parametrów jak: sztywność, adhezja, rozpraszanie energii i inne. W niniejszej pracy zaprezentowano koncepcję działania trybu NanoSwing opracowanego we wrocławskim oddziale Instytutu Elektrotechniki. Przedstawiono także przykładowe wyniki pomiarów wykonanych z wykorzystaniem tego trybu.
Źródło:
Prace Instytutu Elektrotechniki; 2011, 253; 15-25
0032-6216
Pojawia się w:
Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Short Review : Probing Mechanical Properties of Individual Molecules with Atomic Force Spectroscopy
Krótki artykuł przeglądowy : badania mechanicznych właściwości pojedynczych cząsteczek przy pomocy spektroskopii sił atomowych
Autorzy:
Marszałek, P. E.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/159965.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:
Mikroskopia Sił Atomowych
Spektroskopia siłowa pojedynczych cząsteczek
biopolimery
nanomechanika
Atomic Force Microscopy
Single Molecule Force Spectroscopy
Nanomechanics
Polymer elasticity
Biopolymers
Opis:
W niniejszym krótkim artykule przeglądowym, na początku zwięźle opiszę zasady spektroskopii siłowej do badania mechanicznych właściwości pojedynczych cząsteczek przy użyciu mikroskopu sił atomowych. Następnie, omówię najważniejsze, moim zdaniem, odkrycia i obserwacje w tej tematyce, która rozwija się niezwykle dynamicznie przez ostatnie ponad 25 lat. W tej krótkiej pracy skupię się wyłącznie na omówieniu zastosowania spektroskopii siłowej do analizy właściwości elastycznych biopolimerów, takich jak DNA i polisacharydy, których badaniom poświęciłem istotną część mojej pracy naukowej w ostatnich dwóch dekadach. Omówienie mechaniki pojedynczych cząsteczek białek czytelnik może znaleźć w innych oryginalnych lub przeglądowych pracach autora jak również innych badaczy, które dostępne są w literaturze światowej.
In this short review I will first concisely describe the principles of single-molecule force spectroscopy (SMFS) for measuring the mechanical properties of individual polymeric molecules, as implemented on an Atomic Force Microscope (AFM) platform. Next, I will review a selected number of the most striking, in my opinion, discoveries and observations accumulated in this field of research that now spans over 25 years of dynamic growth. This selection will be limited to biomolecular systems such as DNA and polysaccharides (sugars) that for the last two decades were an important part of my own research. The mechanical properties of single protein molecules are described by the author or other researchers in numerous original or review papers that can be found in the world literature.
Źródło:
Prace Instytutu Elektrotechniki; 2018, 280; 7-24
0032-6216
Pojawia się w:
Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wybrane techniki obrazowania stosowane w kryminalistyce.
Selected imaging techniques applied in forensic science
Autorzy:
Łasińska, Anna
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/501703.pdf
Data publikacji:
2018-03-15
Wydawca:
Agencja Bezpieczeństwa Wewnętrznego
Tematy:
techniki obrazowania
mikroskopia
SEM
mikroanaliza rentgenowska
EDS
spektroskopia Ramana
mikroskopia sił atomowych
AFM
imaging techniques
microscopy
X-ray microanalysis
Raman spectroscopy
atomic force microscopy
Opis:
W artykule przedstawiono zagadnienia obejmujące różne techniki obrazowania wykorzystywane w kryminalistyce. Rozwój technologii obserwowany we współczesnym świecie pociąga za sobą zmiany we wszystkich dziedzinach życia, usprawniając, przyspieszając oraz otwierając je na nowe możliwości badawcze. Wykorzystanie zaawansowanej technologii pozwala na precyzyjną analizę materiału dowodowego. Możliwość obserwacji różnych próbek w dużych powiększeniach jest niezbędna przy wykonywaniu ich dokumentacji (badanie morfologii powierzchni, ustalanie cech diagnostycznych). Zastosowanie mikroskopii optycznej, elektronowej lub sił atomowych, a także zintegrowanych z nimi systemów spektroskopowych jest podstawowym, a zarazem potężnym narzędziem służącym wykonywaniu obserwacji różnorodnych materiałów.
The article presents issues that include various imaging techniques used in forensics. Technology development observed in the modern world, implies changes in all areas of life, improving, speeding up and opening them to new research capabilities. The use of advanced technology allows precise analysis of the evidence. The opportunity to observe different samples at high magnification is necessary in the performance of their documentation (examination of the morphology of the surface, setting the diagnostic characteristics). The application of optical microscopy, electron microscopy or atomic force microscopy, and integrated spectroscopic systems is an essential and powerful tool for implementation observations of a variety of materials.
Źródło:
Przegląd Bezpieczeństwa Wewnętrznego; 2018, 10, 18; 89-119
2080-1335
2720-0841
Pojawia się w:
Przegląd Bezpieczeństwa Wewnętrznego
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Metody badań mikroświata
Autorzy:
Kucia, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/847740.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Polskie Towarzystwo Przyrodników im. Kopernika
Tematy:
metody badan
obrazowanie
mikroskopia
mikroskopia optyczna
mikroskop optyczny
ultramikroskop
mikroskop ciemnego pola
mikroskop jasnego pola
mikroskop polaryzacyjny
mikroskop polaryzacyjno-interferencyjny
mikroskopia fluorescencyjna
mikroskop fluorescencyjny
mikroskopia konfokalna
mikroskop konfokalny
mikroskopia elektronowa
mikroskop elektronowy
mikroskopia sil atomowych
mikroskop sil atomowych
Źródło:
Wszechświat; 2013, 114, 10-12
0043-9592
Pojawia się w:
Wszechświat
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Badania doświadczalne zużycia główki endoprotezy stawu biodrowego ze stopu kobalt-chrom oraz z tlenku aluminium
An experimental study of the nano-scratch behavior of a femoral head
Autorzy:
Leshchynsky, V.
Soifer, Y.
Wierusz-Kozłowska, M.
Markuszewski, J.
Woźniak, W.
Bielousova, O.
Weinert, H.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/211696.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Obróbki Plastycznej
Tematy:
endoprotezy stawu biodrowego
mechanizm zużycia
topografia powierzchni
mikroskopia sił atomowych
hip replacement prosthesis
wear mechanism
surface topography
atomic force microscopy (AFM)
Opis:
Artykuł dotyczy badań doświadczalnych zużycia główek endoprotez stawu biodrowego wykonanych w ramach zakresu badań na symulatorach ruchu endoprotez kolanowych i biodrowych prowadzonych w Instytucie Obróbki Plastycznej w Poznaniu we współpracy z Katedrą i kliniką Ortopedii i Traumatologii Uniwersytetu Medycznego w Poznaniu z udziałem Uniwersytetu Tel Aviv. Zużycie wciąż jest znaczącym czynnikiem wpływającym na uszkodzenia implantów. Badania in-vivo wykazują, że na większe zużycie wpływa chropowatość powierzchni protez główki kości udowej. W przypadku endoprotezy stawu biodrowego z wkładką z polietylenu, zuzycie bardziej miękkiego polietylenu jest powodowane chropowatością powierzchni główki, która niszczy powierzchnię polietylenu i odłącza jego cząstki. W artykule opisano wyniki badań morfologii powierzchni główki implantu po eksploatacji oraz wyniki modelowania procesu uszkodzenia tej powierzchni poprzez nanoindentację i nanozarysowania celem lepszego zrozumienia mechanizmu procesu zużywania się endoprotezy stawu biodrowego. Badania przeprowadzono metodą mikroskopii sił atomowych (AFM). Badania wykazały poważne uszkodzenia powierzchni kobaltowo – chromowej i ceramicznej główki. Stwierdzono, ze zarysowania na główce kości udowej w nanoskali powstają w wyniku formowania się bryłowatych wypukłości o niskiej gęstości, które mogą działać jako inicjatory powstawania produktów zużycia, co wydaje się być jedną z głównych przyczyn zużycia polietylenu w pierwszym etapie eksploatacji implantu stawu biodrowego.
Bearing wear continues to be a contributing factor to implant failure. Prosthetic femoral heads roughen in vivo which leads to increased wear. For a femoral head articulating against polyethylene, wear of softer polyethylene is known to be caused by the hard asperities on the surface of the femoral head, that destroy polyethylene surface and detach polyethylene particles. In the present work in order to better understand the mechanism of femoral head prosthesis wear process we studied the femoral head surface morphology after implant articulation and modeled the damage of the femoral head surface by nanoindentation and nanoscratching with Atomic Force Microscopy Technique. The Atomic Force Microscopy examination of scratching process revealed a severe surface damage cobalt-chrome and alumina femoral head surface. The nano-scale scratch of femoral heads is shown to result in formation of lumpy protuberances with low density which can act as a precursor for wear particles that seems to be one of the main reasons of polyethylene wear at least at the first (running) stage of the HIP implant articulation.
Źródło:
Obróbka Plastyczna Metali; 2009, 20, 4; 30-42
0867-2628
Pojawia się w:
Obróbka Plastyczna Metali
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Selected imaging techniques applied in forensic science
Wybrane techniki obrazowania stosowane w kryminalistyce
Autorzy:
Łasińska, Anna
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/501727.pdf
Data publikacji:
2018-03-15
Wydawca:
Agencja Bezpieczeństwa Wewnętrznego
Tematy:
imaging techniques
microscopy
SEM
X-ray microanalysis
EDS
Raman spectroscopy
atomic force microscopy
AFM
techniki obrazowania
mikroskopia
mikroanaliza rentgenowska
spektroskopia Ramana
mikroskopia sił atomowych
Opis:
The article presents issues that include various imaging techniques used in forensics. Technology development observed in the modern world, implies changes in all areas of life, improving, speeding up and opening them to new research capabilities. The use of advanced technology allows precise analysis of the evidence. The opportunity to observe different samples at high magnification is necessary in the performance of their documentation (examination of the morphology of the surface, setting the diagnostic characteristics). The application of optical microscopy, electron microscopy or atomic force microscopy, and integrated spectroscopic systems is an essential and powerful tool for implementation observations of a variety of materials.
W artykule przedstawiono zagadnienia obejmujące różne techniki obrazowania wykorzystywane w kryminalistyce. Rozwój technologii obserwowany we współczesnym świecie pociąga za sobą zmiany we wszystkich dziedzinach życia, usprawniając, przyspieszając oraz otwierając je na nowe możliwości badawcze. Wykorzystanie zaawansowanej technologii pozwala na precyzyjną analizę materiału dowodowego. Możliwość obserwacji różnych próbek w dużych powiększeniach jest niezbędna przy wykonywaniu ich dokumentacji (badanie morfologii powierzchni, ustalanie cech diagnostycznych). Zastosowanie mikroskopii optycznej, elektronowej lub sił atomowych, a także zintegrowanych z nimi systemów spektroskopowych jest podstawowym, a zarazem potężnym narzędziem służącym wykonywaniu obserwacji różnorodnych materiałów.
Źródło:
Przegląd Bezpieczeństwa Wewnętrznego; 2018, 10, 18; 283-309
2080-1335
2720-0841
Pojawia się w:
Przegląd Bezpieczeństwa Wewnętrznego
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Characteristics and Properties of Chromium Coatings with Diamond Nanoparticles Deposited Directly on Aluminum Alloys
Autorzy:
Petkov, V.
Valov, R.
Simeonova, S.
Kandeva, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1841064.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
chromium coating
aluminum alloy
diamond nanoparticles
atomic force microscopy
wear resistance
powłoka chromowa
stop aluminium
nanocząsteczki diamentu
mikroskopia sił atomowych
odporność na zużycie
Opis:
The objective of this study was to deposit directly chromium with diamond nanoparticles (ND) on aluminum alloys and investigate the coating surface. The chromium coatings on aluminum alloys were obtained by electrochemical deposition. The coatings were doped with ND. The diamond nanoparticles were obtained by detonation synthesis. Chromium coatings were deposited on aluminum alloys with a silicon content of 7 % and 10 %. The ND concentration in the electrolyte was 25 g/l. The surface analysis was performed by means of Atomic force microscopy. The surface of the coating of chromium with ND on Al10Si is twice more even than that on Al7Si. The microstructure and microhardness were examined with a metallographic microscope and a microhardness tester. The microhardness of the coated samples is 9163 MPa compared to 893 MPa of uncoated aluminum samples. The thickness of the chromium coatings doped with diamond nanoparticles is between 45 – 55 μm. The coatings are dense, continuous and uniform with good adhesion to the substrate material.
Źródło:
Archives of Foundry Engineering; 2020, 20, 4; 115-120
1897-3310
2299-2944
Pojawia się w:
Archives of Foundry Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Wyświetlanie 1-15 z 24

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies