Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "mikrometr" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-3 z 3
    Tytuł:
    Analiza wybranych właściwości metrologicznych mikrometrów laserowych
    Analysis of selected properties of metrological laser micrometers
    Autorzy:
    Mąkowski, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/277168.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
    Tematy:
    mikrometr laserowy
    rozdzielczość
    zasada pomiaru
    laser micrometer
    resolution
    principle of measurement
    Opis:
    Przedstawiona analiza wybranych parametrów metrologicznych mikrometrów laserowych stanowi wstęp do dalszych artykułów omawiających zasadę optycznych pomiarów bezdotykowych. Na podstawie pomiarów kontrolnych wybranego mikrometru laserowego omówiono możliwości pomiarowe tych urządzeń oraz wskazano na ograniczenia w zakresie zmniejszania niepewności pomiaru. Pokazano występującą często niezgodność między podawanymi przez producentów rozdzielczościami a rzeczywistymi parametrami.
    This analysis of selected properties of metrological laser micrometers is an introduction to further articles in which principles of optical touchless measuring would be discussed. Basing on control measuring of a selected laser micrometer, measuring possibilities of these units have been discussed, also some restrictions concerning limitation of uncertainty of measuring have been indicated. Frequently appearing discrepancy between resolutions, presented by the producers, and real capabilities have been shown.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Robotyka; 2013, 17, 1; 153-157
    1427-9126
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Robotyka
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Obliczanie niepewności pomiaru zgodne z definicją przedziału rozszerzenia na przykładzie opracowania wyniku wzorcowania mikrometru
    Calculation of measurement uncertainty according to the definition of the coverage interval exemplified by evaluation of uncertainty in calibration of a micrometer
    Autorzy:
    Fotowicz, P.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/277603.pdf
    Data publikacji:
    2010
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
    Tematy:
    niepewność pomiaru
    wzorcowanie
    mikrometr
    measurement uncertainty
    calibration
    micrometer
    Opis:
    W artykule przedstawiono obliczenia niepewności rozszerzonej metodą numeryczną i analityczną. Obie metody umożliwiają wyznaczanie niepewności zgodnie z przyjętą definicją przedziału rozszerzenia zawartą w najnowszym dokumencie normatywnym. Metoda numeryczna polega na symulacji Monte Carlo, a metoda analityczna bazuje na przybliżeniu operacji splotu rozkładów wielkości wejściowych, poprzez model matematyczny dla wielkości wyjściowej. Obie metody prowadzą do tego samego rezultatu obliczeniowego i można jej realizować przy użyciu arkusza kalkulacyjnego. Metody zilustrowano przykładem dotyczącym opracowania wyniku pomiaru przy wzorcowaniu przyrządu pomiarowego, w postaci mikrometru.
    The article presents calculation of measurement uncertainty with the use of the numerical method and the analytical approach. Both methods enable evaluation of uncertainty according to the definition of the coverage interval contained in a recent normative document. Numerical method is based on the Monte Carlo simulation and the analytical method makes use of an approximation of the convolution of distributions of input quantities by making a mathematical model of the output quantity. Both methods lead to the same numerical results and may be implemented with the use of spreadsheet software. Both methods are exemplified by evaluation of uncertainty in calibration of a measuring instrument, such as a micrometer.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Robotyka; 2010, 14, 10; 48-52
    1427-9126
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Robotyka
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Real time online profile measurement system for steel wire products
    Autorzy:
    Saurabh, -
    Ranjan, Rajiv
    Kundu, Chitresh
    Kumar, Jayendra
    Patra, Prabal
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1396908.pdf
    Data publikacji:
    2019
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej PAN
    Tematy:
    laser micrometer
    slip ring
    reflective sensor
    ARM microcontroller
    radio frequency module
    mikrometr laserowy
    pierścienie ślizgowe
    czujnik odblaskowy
    mikrokontroler ARM
    Opis:
    The quality specifications for products such as wire rods produced by the steel industry are becoming ever more demanding. This demand has led to achieve uniform product quality at high production speeds. As a result, there is a need for the systems that operate in real time and continuously measure cross-section profile of the rods and detect if any change or deviation from the desired behaviour in their cross-section. To reach this goal, a laser-based computer-controlled technology provides a useful solution. In this paper, a high speed, low cost and high accuracy non-contact laser-based measuring system has been proposed and developed using a STM32 microcontroller. The system can measure the thickness of solid, non-transparent wire rods using the linear charged-coupled sensor and sent to a microcontroller unit to further analyse and continuously display the cross-sectional profile in real time. Any deviation in the dimension over the length of the wire along with its position with respect to starting of the wire can be detected in real time. The designed and developed system has capability of measurement accuracies and respectabilities to the micrometre level.
    Źródło:
    Diagnostyka; 2019, 20, 4; 27-35
    1641-6414
    2449-5220
    Pojawia się w:
    Diagnostyka
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-3 z 3

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies