Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "measuring process" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-7 z 7
    Tytuł:
    Measuring Process via Sampling of Signals, and Functions with Attributes
    Autorzy:
    Borys, Andrzej
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/226048.pdf
    Data publikacji:
    2020
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    measuring process
    sampling of signals
    functions with attributes
    Dirichlet function
    Opis:
    In this paper, it has been shown that any measuring process can be modeled as a process of sampling of signals. Also, a notion of a special kind of functions, called here functions with attributes, has been introduced. The starting point here, in the first of the above themes, is an observation that in fact we are not able to measure and record truly continuously in time any physical quantity. The measuring process can be viewed as going stepwise that is in steps from one instant to another, similarly as a sampling of signals proceeds. Therefore, it can be modeled as the latter one. We discuss this in more detail here. And, the notion of functions with attributes, we introduced here, follows in a natural way from the interpretation of both the measuring process as well as the sampling of signals that we present in this paper. It turns out to be useful.
    Źródło:
    International Journal of Electronics and Telecommunications; 2020, 66, 2; 309-314
    2300-1933
    Pojawia się w:
    International Journal of Electronics and Telecommunications
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Further Discussion on Modeling of Measuring Process via Sampling of Signals
    Autorzy:
    Borys, Andrzej
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/226039.pdf
    Data publikacji:
    2020
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    measuring process
    sampling of signals
    smearing of signal samples
    averaging of signal samples
    Opis:
    In this paper, we continue a topic of modeling measuring processes by perceiving them as a kind of signal sampling. And, in this respect, note that an ideal model was developed in a previous work. Whereas here, we present its nonideal version. This extended model takes into account an effect, which is called averaging of a measured signal. And, we show here that it is similar to smearing of signal samples arising in nonideal signal sampling. Furthermore, we demonstrate in this paper that signal averaging and signal smearing mean principally the same, under the conditions given. So, they can be modeled in the same way. A thorough analysis of errors related to the signal averaging in a measuring process is given and illustrated with equivalent schemes of the relationships derived. Furthermore, the results obtained are compared with the corresponding ones that were achieved analyzing amplitude quantization effects of sampled signals used in digital techniques. Also, we show here that modeling of errors related to signal averaging through the so-called quantization noise, assumed to be a uniform distributed random signal, is rather a bad choice. In this paper, an upper bound for the above error is derived. Moreover, conditions for occurrence of hidden aliasing effects in a measured signal are given.
    Źródło:
    International Journal of Electronics and Telecommunications; 2020, 66, 3; 507-513
    2300-1933
    Pojawia się w:
    International Journal of Electronics and Telecommunications
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    The new stand for aging of biocomponents and biofuels process testing at relatively short time
    Autorzy:
    Dzięgielewski, W.
    Kaźmierczak, U.
    Kulczycki, A.
    Okniński, R.
    Stefanowicz, P.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/949517.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych
    Tematy:
    biofuels
    biocomponents
    ageing process
    test bench
    method of measuring
    Opis:
    In the paper, the concept of a model bench for accelerated ageing of bio-components and biofuels was presented. It is used to simulate the ageing process of biofuels and components of vegetable or animal origin, taking place during storage in the storage tanks. The construction of the bench’s essential elements and its equipment were designed and implemented in such a way as to mostly reflect actual storage conditions in large capacity tanks. An additional and unprecedented function of the bench includes the possibility to simulate the product transport conditions. Furthermore, a method of the test, with the use of simultaneously performed traditional tests on the physical and chemical properties monitored in the process of storage was presented. An analysis of the relation between values of the parameters obtained with different methods (on the model bench and under laboratory conditions) was conducted. In addition, their usefulness to assess the impact of logistic processes on the product quality was presented. In the paper, the results of the work executed within the framework of the project “Development of a prototype of the monitoring system the ageing rate and degree of bio-components and biofuels” within the Program Innovative Economy Operational Programme, Measure 1.4. “Support for goal-oriented projects” were used.
    Źródło:
    Journal of KONES; 2016, 23, 2; 105-112
    1231-4005
    2354-0133
    Pojawia się w:
    Journal of KONES
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    A probabilistic approach for approximation of optical and opto-electronic properties of an opto-semiconductor wafer under consideration of measuring inaccuracy and model uncertainty
    Autorzy:
    Stroka, Stefan M.
    Heumann, Christian
    Suhrke, Fabian
    Meindl, Kathrin
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/2204192.pdf
    Data publikacji:
    2023
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Stowarzyszenie Elektryków Polskich
    Tematy:
    Gaussian process regression
    machine learning
    uncertainty quantification
    photoluminescence
    opto-semiconductor wafer measuring
    Opis:
    This paper presents a probabilistic machine learning approach to approximate wavelength values for unmeasured positions on an opto-semiconductor wafer after epitaxy. Insufficient information about optical and opto-electronic properties may lead to undetected specification violations and, consequently, to yield loss or may cause product quality issues. Collection of information is restricted because physical measuring points are expensive and in practice samples are only drawn from 120 specific positions. The purpose of the study is to reduce the risk of uncertainties caused by sampling and measuring inaccuracy and provide reliable approximations. Therefore, a Gaussian process regression is proposed which can determine a point estimation considering measuring inaccuracy and further quantify estimation uncertainty. For evaluation, the proposed method is compared with radial basis function interpolation using wavelength measurement data of 6-inch InGaN wafers. Approximations of these models are evaluated with the root mean square error. Gaussian process regression with radial basis function kernel reaches a root mean square error of 0.814 nm averaged over all wafers. A slight improvement to 0.798 nm could be achieved by using a more complex kernel combination. However, this also leads to a seven times higher computational time. The method further provides probabilistic intervals based on means and dispersions for approximated positions.
    Źródło:
    Opto-Electronics Review; 2023, 31, 2; art. no. e145863
    1230-3402
    Pojawia się w:
    Opto-Electronics Review
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Analiza wymogów interesariuszy zewnętrznych i ich wpływu na wprowadzanie mierników i wskaźników procesów na uczelniach w Polsce – wybrane zagadnienia
    An analysis of the requirements of external stakeholders and their impact on the introduction of process measures and indicators in institutions of higher education in Poland—selected issues
    Autorzy:
    Cieciora, Małgorzata
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/414923.pdf
    Data publikacji:
    2017-06
    Wydawca:
    Małopolska Wyższa Szkoła Ekonomiczna w Tarnowie
    Tematy:
    KPI
    jakość procesu dydaktycznego
    polskie uczelnie
    mierzenie efektywności
    quality of didactic process
    Polish institutions of higher education
    measuring efficiency
    Opis:
    Do narzędzi zarządzania procesowego, uważanego obecnie za jedno z najbardziej nowoczesnych podejść do zarządzania organizacją, zaliczane są Key Performance Indicators (KPI), czyli różnego rodzaju wskaźniki i mierniki efektywności procesów. Pytanie badawcze dotyczy uwarunkowań zewnętrznych mających wpływ na decyzje o wdrożeniu tego typu rozwiązań w szkołach wyższych w Polsce, które działając w warunkach konkurencji rynkowej, coraz częściej sięgają po rozwiązania stosowane w środowisku biznesu. W celu znalezienia odpowiedzi na to pytanie przeanalizowano formalne rozporządzenia Ministerstwa Nauki i Szkolnictwa Wyższego, raporty z wizytacji Polskiej Komisji Akredytacyjnej oraz informacje z uczelnianych stron internetowych. Wynika z nich, iż wymogi ilościowe interesariuszy zewnętrznych, takich jak MNiSW czy PKA, są sformułowane raczej na poziomie makro i nie zawierają wskazówek dotyczących sposobów mierzenia poszczególnych procesów. Uczelnie nie są więc stymulowane w znaczącym stopniu do konstruowania systemów zarządzania jakością procesu dydaktycznego opartych na precyzyjnym mierzeniu efektywności procesów. W tym miejscu należy podkreślić, że mimo iż zaczyna się wprowadzać takie systemy, następuje to jednak dość powoli.
    Tools of process management, which is considered one of the most modern management approaches, include Key Performance Indicators (KPIs), i.e. various indicators that measure performance. The research question concerns the external influences which affect the decision to implement such solutions in higher education institutions in Poland, which, in the context of market competition, are increasingly choosing solutions used in the business environment. In order to find an answer to this question, formal regulations of the Ministry of Science and Higher Education, as well as reports of school inspections of the Polish Accreditation Commission and information from the university websites were examined. The conclusion which can be drawn as a result is that the quantitative requirements of external stakeholders such as the Ministry of Science and Higher Education and the Polish Accreditation Commission are rather of a macro type and do not contain any guidance on how to measure individual processes. Schools are not, therefore, significantly stimulated to build quality management systems for the didactic process based on the precise measurement of process efficiency. It should be emphasised here, though, that the introduction of such systems has begun to take place, but is proceeding quite slowly.
    Źródło:
    Zeszyty Naukowe Małopolskiej Wyższej Szkoły Ekonomicznej w Tarnowie; 2017, 2(34); 109-119
    1506-2635
    Pojawia się w:
    Zeszyty Naukowe Małopolskiej Wyższej Szkoły Ekonomicznej w Tarnowie
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Implementacja systemu zarządzania procesem produkcji
    Implementation of manufacturing process management
    Autorzy:
    Tarczyński, W.
    Kopka, R.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/274703.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
    Tematy:
    zarządzanie procesem produkcji
    kontrola produkcji
    systemy sterowania
    systemy pomiarowe
    management of production process
    production control
    control systems
    measuring systems
    Opis:
    W artykule przedstawiono przykład warstwowego systemu zarządzania i kontroli procesu produkcyjnego zaimplementowanego w zakładzie produkującym wyroby metalowe. System łączy nowoczesne rozwiązania branży informatycznej, automatyki i metrologii. Procedury pomiarowe, wymagane na poszczególnych stanowiskach produkcyjnych, wykonywane są zgodnie z pobranym z serwera algorytmem danego fragmentu procesu technologicznego, a wyniki pomiarów, wykonywanych przy pomocy cyfrowych przyrządów pomiarowych, przez łącza komunikacyjne przesyłane są do sterownika PLC. Bazując na serwerach OPC są następnie przesyłane i gromadzone w systemach baz danych na komputerach klasy PC. Takie rozwiązanie pozwala na elastyczne zarządzanie, sterowanie i prowadzenie kontroli nad procesem produkcji, szybką implementację zmian procesu oraz automatyczną i ciągłą kontrolę jakości produktu. W artykule opisano zastosowane sposoby wymiany danych sterujących i pomiarowych, strukturę logiczną opartą o serwery OPC, protokoły komunikacyjne poszczególnych warstw oraz zastosowane rozwiązania sprzętowe i programowe systemu.
    The paper presents the layered system management and control of the production process implemented in manufactory manufactory. It combines modern information technology, control and metrology solutions. Measurement procedures, required for each production stages, are performed in accordance with the algorithms taken from the server. The measurements, performed by digital measuring instruments, are sent to the PLC through a serial interfaces. Next, based on the OPC server are transmitted and stored in database systems on PC. Such solution allows to manage, control and maintain control of the production process, quickly implement changes to the process and automatic monitoring the product quality. Paper describes the mechanisms used to exchange controls and measurement data, logical structure of management system based on OPC servers, communication protocols of each layer and used hardware and software.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Robotyka; 2013, 17, 10; 166-171
    1427-9126
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Robotyka
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Concurrent simulations in education process for power electronics
    Symulacje współbieżne w procesie nauczania energoelektroniki
    Autorzy:
    Widlok, H.
    Widlok, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/320389.pdf
    Data publikacji:
    2006
    Wydawca:
    Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydawnictwo AGH
    Tematy:
    badania porównawcze
    współbieżna rejestracja danych pomiarowych
    symulacja komputerowa
    proces edukacyjny
    concurrent simulations
    simultaneous registration measuring data
    computer simulation research
    education process
    Opis:
    Article presents new idea of incorporating Concurrent Simulations into Education Process for Power Electronics. Advanced laboratory tools like PCI data acquisition cards allows simultaneous registration of many signals with high accuracy and resolution in the practically unlimited amount of time. Modern concept and method of such concurrent research are described. The ability to implement these research during the student laboratory exercise is also presented. Design of the laboratory model is shown with the experimental and simulation research.
    W pracy przedstawiono zagadnienia wykorzystania nowej koncepcji badań współbieżnych w procesie nauczania energoelektroniki. Rozwój techniki cyfrowej pozwala zastosować karty pomiarowe pozwalające na równoczesną rejestrację wielu sygnałów równocześnie z dużą dokładnością i rozdzielczością w praktycznie nieograniczonym horyzoncie czasowym. Szeroko omówiono koncepcję i metodykę ww. badań oraz wskazano na możliwości zaimplementowania takich badań podczas studenckich ćwiczeń laboratoryjnych. Przedstawiono projekt stanowiska laboratoryjnego oraz wybrane rezultaty badań eksperymentalnych i symulacyjnych.
    Źródło:
    Elektrotechnika i Elektronika; 2006, 25, 1; 73-77
    1640-7202
    Pojawia się w:
    Elektrotechnika i Elektronika
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-7 z 7

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies