Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "measurement of low power" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Pomiary mocy strat w niskostratnych rdzeniach nanokrystalicznych
Measurements of power losses in low loss nanocrystalline cores
Autorzy:
Gozdur, R.
Majocha, A.
Gołębiowski, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/155820.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
pomiar stratności
pomiar małych mocy
pętla histerezy magnetycznej
planimetrowanie powierzchni pętli histerezy
power loss measurement
measurement of low power
magnetic hysteresis loop
hysteresis loop area
Opis:
Referat dotyczy problemu pomiarów małych mocy przy współczynniku mocy znacznie poniżej 0,1. Problem taki ma miejsce przy określaniu stratności niskostratnych lub małogabarytowych magnetowodów. W referacie przedstawiona została aplikacja definicyjnej metody pomiaru mocy strat oraz wyniki pomiarów dla rdzeni wykonanych z taśmy nanokrystalicznej. Wyniki pomiarów uzyskane zostały metodą planimetrowania pola powierzchni pętli histerezy. W dyskusji nad wynikami uwzględniona została analiza metrologiczna zastosowanej metody, analiza źródeł błędów wyniku pomiaru.
The paper concerns the problem of low power measurements at the power factor significantly less than 0.1. Such a problem occurs in determining the power loss of nanocrystalline or low-dimensioned cores. The paper presents application of the definitional method of measuring the power loss and measurement results for cores made of a nanocrystalline ribbon. The presented measurement results, graphs, and data were obtained from a measuring system developed by the authors. The paper contains the system description and specification of its technical parameters. The measurement results were obtained by defining the area of the magnetic hysteresis loop. The measurements were taken in the frequency range from 0.001 Hz up to 50 Hz. Calculations of the error are given for two significant values of the frequency. In the discussion of the results there were taken into account: metrological analysis of the method, analysis of uncertainty sources in the measurement result and comparison of the method with modern methods for measuring low power values.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 11, 11; 1272-1275
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies