Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "measurement and metrology" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Kilka uwag na temat antycznej metrologii oraz ceramiki attyckiej okresu geometrycznego i zasad jej dekoracji
A few remarks on ancient metrology and on Attic geometric pottery and its decoration
Autorzy:
Bugaj, Ewa
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/27312882.pdf
Data publikacji:
2015-01-01
Wydawca:
Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu
Tematy:
ancient metrology and measurement systems
Attic geometric pottery
cognitive archaeology
Opis:
The article deals with the ancient metrology and a possible recognition of the rules determining ornamentation observed on Attic geometric pottery. While referring to former studies, the author presents ornamentation of Attic geometric pottery, revealing an exceptional standardisation and repetitiveness of elements, as having two developmental tendencies. One concerns horizontal arrangement of decorative motifs, placed in surrounding belts, while the other decoration is put in vertical panels, focusing. These both tendencies in the course of development of Attic geometric period become one harmonized whole. It is also possible to demonstrate on an example of monumental became from Athens (inv. NM 804), that the vessel was exactly twice as tall as the biggest width of its body, as well as that ornaments covering its whole surface have been made according to an accepted module. The author suggests that such a way of thinking and ordering activities should not be interpreted as proving the beginnings of classical mathematical thinking, which is to develop later. However, metrological analyses of ancient artefacts suggests that such objects as Attic geometric pottery may permit recognition of already existing disposition of its creators for visual representations of experienced reality and for attempts made to generalize these experiences.
Źródło:
Folia Praehistorica Posnaniensia; 2015, 20; 63-84
0239-8524
2450-5846
Pojawia się w:
Folia Praehistorica Posnaniensia
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Ellipsometry based spectroscopic complex for rapid assessment of the Bi2Te3-xSexthin films composition
Elipsometryczny system spektroskopowy do szybkiej oceny składu cienkich warstw Bi2Te3-xSex
Autorzy:
Kovalev, Vladimir
Uvaysov, Saygid
Bogucki, Marcin
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2070267.pdf
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
Tematy:
thin films
optical properties
spectroscopy
Fourier transform
ellipsometry and polarimetry
optics on surfaces
instrumentation
measurement and metrology
cienka warstwa
właściwości optyczne
spektroskopia
transformata Fouriera
elipsometria i polarymetria
optyka cienkowarstwowa
oprzyrządowanie
pomiary i metrologia
Opis:
A comparative analysis of the current state and development of spectral ellipsometry (SE) is carried out, the main limitations typical of popular configurations of measuring devices are determined. An original technical solution is proposed that allows one to create a two-source SE that implements the ellipsometry method with switching orthogonal polarization states. The measuring setup provides high precision of measurements of ellipsometric parameters Ψand Δin the spectral range of 270–2200 nm and the speed determined by the characteristics of pulsed sources with a simple ellipsometer design.As objects for experimental researches, confirming the efficiency and high precision qualities of the fabricated SE, we used a GaAs/ZnS-quarter-wave device for a CO2laser and SiO2on Si calibration plates. The optical properties of Bi2Te3-xSexfilms were investigated in the range of 270–1000 nm using a multi-angle SE. It was shown that the optical properties of Bi2Te3-xSexfilms monotonically change depending on the ratio of selenium and tellurium.
W artykule najpierw dokonano analizy porównawczej obecnego stanu rozwoju elipsometriispektroskopowej oraz określono główne ograniczenia typowe dla popularnych konfiguracji urządzeń pomiarowych. Zaproponowano oryginalne rozwiązanie techniczne pozwalające na stworzenie dwuźródłowego elipsometu spektroskopowego z przełączaniem ortogonalnych stanów polaryzacji. Układ pomiarowy zapewnia wysoką precyzję pomiarów parametrów elipsometrycznych Ψ i Δ w zakresie spektralnym 270–2200 nm i prędkości wyznaczonej przez charakterystyki źródeł impulsowych przy prostej konstrukcji elipsometru. Jako obiekty do badań eksperymentalnych potwierdzających wydajność i wysoką precyzję proponowanego elipsometu spektroskopowego, wykorzystano ćwierćfalowy przyrząd GaAs/ZnS dla lasera CO2oraz płytki kalibracyjne SiO2na krzemie. Właściwości optyczne warstw Bi2Te3-xSexzbadano w zakresie 270–1000 nm przy użyciu wielokątowego elipsometu spektroskopowego. Wykazano, że właściwości optyczne cienkich warstw Bi2Te3-xSexzmieniają się monotonicznie w zależności od stosunku zawartości selenu i telluru.
Źródło:
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2021, 11, 4; 67--74
2083-0157
2391-6761
Pojawia się w:
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Pomiar różnicy faz sygnałów napięciowych
Phase measurements of voltage signals
Autorzy:
Czubla, A.
Stępniewski, J.
Konopka, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/151438.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
precyzyjny pomiar fazy
metrologia czasu i częstotliwości
precise phase measurement
time and frequency metrology
Opis:
W niniejszym referacie przedstawiona została teoria i praktyka pomiaru różnicy faz sygnałów napięciowych za pomocą częstościomierza-czasomierza cyfrowego. Szczególną uwagę zwrócono na czynniki mające bezpośredni wpływ na wartość i niepewność wyniku pomiaru oraz zapro-ponowano sposób zminimalizowania ich wpływu. W efekcie uzyskano zweryfikowane i spójne wyniki pomiaru różnicy faz sygnałów napięciowych wykonanych za pomocą częstościomierza-czasomierza, w pełni wykorzystując dużą precyzję pomiaru czasu.
In this paper, we present the theory and practical aspects of phase measurements of voltage signals with usage of universal time and frequency counter. Special attention is turned to the factors which influence directly the final value and uncertainty of measurement's result. We propose a method of reducing their influence. As a result, we obtain verified and consistent results of phase measurements of voltage signals performed with a universal time and frequency counter, using to the full its high precision for time measurements.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9, 9; 81-82
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies