Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "march tests" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Analysis of multibackground memory testing techniques
Autorzy:
Mrozek, I.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/907769.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Uniwersytet Zielonogórski. Oficyna Wydawnicza
Tematy:
testowanie RAM
błąd wzoru
test krokowy
RAM testing
pattern sensitive faults
march tests
multibackground testing
Opis:
March tests are widely used in the process of RAM testing. This family of tests is very efficient in the case of simple faults such as stuck-at or transition faults. In the case of a complex fault model-such as pattern sensitive faults-their efficiency is not sufficient. Therefore we have to use other techniques to increase fault coverage for complex faults. Multibackground memory testing is one of such techniques. In this case a selected March test is run many times. Each time it is run with new initial conditions. One of the conditions which we can change is the initial memory background. In this paper we compare the efficiency of multibackground tests based on four different algorithms of background generation.
Źródło:
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science; 2010, 20, 1; 191-205
1641-876X
2083-8492
Pojawia się w:
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Techniki wykrywania uszkodzeń pamięci z wykorzystaniem stopni swobody testów krokowych
Memory faults detection techniques with use of degrees of freedom in march tests
Autorzy:
Sokół, B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/341181.pdf
Data publikacji:
2008
Wydawca:
Politechnika Białostocka. Oficyna Wydawnicza Politechniki Białostockiej
Tematy:
testowanie pamięci
testy krokowe
uszkodzenia PSF
stopnie swobody
memory testing
march tests
pattern sensitive faults (PSF)
degrees of freedom
Opis:
Publikacja zawiera opis wybranych metod i technik wykrywania uszkodzeń pamięci z wykorzystaniem stopni swobody transparentnych testów krokowych. Główna uwaga została skupiona na uszkodzeniach uwarunkowanych zawartością typu Pattern Sensitive Faults (PSF) jako najtrudniejszych do wykrycia. Zaproponowane wykorzystanie stopni swobody testów krokowych przejawia się możliwością efektywnego przeprowadzenia transparentnego testowania i wykrywania uszkodzeń typu PSF przez proste testy krokowe i bazuje na możliwści wielokrotnego uruchomienia testu przy zmianach warunków początkowych (porządku adresowania) dla każdego uruchomienia. Wykorzystane i zaproponowane metody umożliwiają generowanie pełnych sekwencji adresowych oraz pozwalają na optymalny wybór adresów startowych przy wielokrotnym uruchomieniu testów krokowych. W pierwszej części pracy przedstawiona została problematyka testowania pamięci oraz stopnie swobody testów krokowych. Druga część pracy zawiera opis zaproponowanych rozwiązań wraz z wynikami wybranych eksperymentów.
Publication shows the description of selected methods and techniques for memory faults detection with use of degrees of freedom inherent to transparent March tests. This paper deals with Pattern Sensitive Faults (PSF) as the most difficult to detect. Proposed techniques of use of degrees of freedom in March testing manifest itself in effective transparent memory testing and PSF faults detection with use of simple March tests, based on the possibility of multiple run of test with different initial conditions like address order for each run. Proposed methods allow us to choose in an optimal way starting addresses for multiple March tests run. In the first part of this publication, memory testing problems, testing principles and degrees of freedom were presented. Second part of this publication shows the description of proposed solutions with selected results.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Politechniki Białostockiej. Informatyka; 2008, 3; 129-144
1644-0331
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Politechniki Białostockiej. Informatyka
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies