Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "manufacturing errors" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
A discrete variable based methodology for topology optimization considering spatially uneven manufacturing errors
Autorzy:
Xia, Meng
Li, Jing
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/27309953.pdf
Data publikacji:
2023
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czasopisma i Monografie PAN
Tematy:
interval field
manufacturing errors
morphological operations
topology optimization
Opis:
Manufacturing errors (MEs) are unavoidable in product fabrication. The omnipresence of manufacturing errors (MEs) in product engineering necessitates the development of robust optimization methodologies. In this research, a novel approach based on the morphological operations and interval field (MOIF) theory is proposed to address MEs in the discrete-variable-based topology optimization procedures. On the basis of a methodology for deterministic topology optimization (TO) based on the Min-Cut, MOIF introduces morphological operations to generate geometrical variations, while the dimension of the structuring element is dynamically set by the interval field function’s output. The effectiveness of the proposed approach as a powerful tool for accounting for spatially uneven ME in the TOs has been demonstrated.
Źródło:
Archives of Electrical Engineering; 2023, 72, 4; 1121--1133
1427-4221
2300-2506
Pojawia się w:
Archives of Electrical Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wpływ błędów i niepewności wyników pomiarów na ocenę poziomu jakości procesów wytwarzania
The influence of measurement errors and uncertainties on the evaluation of the quality level of production processes
Autorzy:
Tabisz, R. A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/157826.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
procesy pomiarowe
błędy i niepewności
procesy wytwarzania
ocena jakości
wskaźniki zdolności procesów pomiarowych
wskaźniki zdolności procesów wytwarzania
measurement processes
errors and uncertainties
manufacturing processes
quality evaluation
measurement processes capability indices
manufacturing processes capability indices
Opis:
Przedstawiono przykładową analizę wpływu błędów i niepewności wyników pomiarów, na ocenę jakości procesów wytwarzania. Uzasadniono konieczność uwzględniania w tego rodzaju analizie, wpływów oddziaływań systematycznych i losowych. Obydwa rodzaje oddziaływań decydują o wartościach liczbowych wyników pomiarów. W konsekwencji decydują o wartościach wskaźników zdolności procesów wytwarzania(Cp), stanowiących liczbowe miary ich jakości. Zaproponowano kryterium kwalifikacji procesu pomiarowego, którego zamierzonym zastosowaniem jest wyznaczanie wartości wskaźnika zdolności procesów wytwarzania (Cp). Kryterium to umożliwia stosowanie tego samego procesu pomiarowego w pełnym cyklu doskonalenia procesu wytwarzania. Od najniższego poziomu jego jakości (Cp = 1), do najwyższego poziomu jakości "6Sigma" (Cp = 2).
An analystical example of the influence of measurement errors and uncertainties on the evaluation of the quality level of production processes, is presented. This influence was analyzed using the existing dependence on the manufacturing process the capability index (Cp) and measurement process capability indices (Cg1, Cg2) [13], and also, the dependence on the latter indices [13]. Attention was paid to the existing variety in the understanding and defining of such notions as: the measurement, the measurement error, and the uncertainty of measurement results. This variety, can in some situations, make for errors and ambiguities [10]. The model of the industrial measurement process, taking into account systematic and random influences on the final result of measurement, is described. Introduced was the notions: "interval of the natural process variability," and "coverage interval". The method of appointing the length of this "coverage interval", is explained. This interval is a sum of the left-side extended uncertainty (U-) and the right-side extended uncertainty (U+). The length of this interval can be used as the numerical measure of the measurement process variability (MPV), and also for the creation of the final result of measurements [12]. The qualification criterion of the measurement process, which intended use is the appointing of the value of the manufacturing process capability index (Cp), is proposed. This index defines the capability of the production process for the manufacturing of products conforming with their design specification [4]. The use of this criterion in industry, makes it possible to use the same measurement process in the full cycle improvement of the production process, from the lowest quality level (Cp = 1), to the highest quality level "6Sigma" (Cp = 2) [12].
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 9, 9; 1000-1005
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies