Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "linear-feedback shift register" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-4 z 4
Tytuł:
Modified Alternating Step Generators with Non-Linear Scrambler
Autorzy:
Wicik, R.
Rachwalik, T.
Gliwa, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/106164.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej. Wydawnictwo Uniwersytetu Marii Curie-Skłodowskiej
Tematy:
stream cipher
alternating step generator
linear feedback shift register
non-linear feedback shift register
Opis:
Pseudorandom generators, which produce keystreams for stream ciphers by the exclusiveor sum of outputs of alternately clocked linear feedback shift registers, are vulnerable to cryptanalysis. In order to increase their resistance to attacks, we introduce a non-linear scrambler at the output of these generators. Non-linear feedback shift register plays the role of the scrambler. In addition, we propose Modified Alternating Step Generator with a non-linear scrambler (MASG1S) built with non-linear feedback shift register and regularly or irregularly clocked linear feedback shift register with non-linear filtering functions.
Źródło:
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska. Sectio AI, Informatica; 2014, 14, 1; 61-74
1732-1360
2083-3628
Pojawia się w:
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska. Sectio AI, Informatica
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Pseudo-random bit generators based on linear-feedback shift registers in a programmable device
Autorzy:
Parol, M.
Dąbal, P.
Szplet, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/114462.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
pseudo-random bit generators
linear-feedback shift register
programmable device
Opis:
We present the results of comparative study on three pseudo-random bit generators (PRBG) based on various use of linear-feedback shift registers (LFSR). The project was focused on implementation and tests of three such PRBG in programmable device Spartan 6, Xilinx. Tests of the designed PRBGs were performed with the use of standard statistical tests NIST SP800-22.
Źródło:
Measurement Automation Monitoring; 2016, 62, 6; 184-186
2450-2855
Pojawia się w:
Measurement Automation Monitoring
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Estimation of the pseudorandom signal length with the use of the FFT algorithm
Autorzy:
Walczak, J.
Stępień, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/97736.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Tematy:
FFT algorithm
DLFSR generator
pseudorandom signals
linear feedback shift register
LFSR generator
Opis:
This paper describes effective estimation method for pseudorandom signal length with the use of FFT algorithm. Proposed method was used in order to calculate the length of sequence of DLFSR generators’ output. The construction of DLFSR generators is described in the following paper. As it is shown on the examples the application of proposed method was implemented on PC computer, which was equipped with a soundcard.
Źródło:
Computer Applications in Electrical Engineering; 2012, 10; 41-49
1508-4248
Pojawia się w:
Computer Applications in Electrical Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Zastosowanie liniowych rejestrów pierścieniowych do testowania połączeń w układach FPGA
On Application of Ring Linear Feedback Shift Registers to Testing of Interconnects in FPGAs
Autorzy:
Hławiczka, A.
Gucwa, K.
Garbolino, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/156314.pdf
Data publikacji:
2008
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
liniowy rejestr pierścieniowy
testowanie połączeń
lokalizacja uszkodzeń
identyfikacja uszkodzeń
sygnatura
słownik diagnostyczny
układ FPGA
ring linear feedback shift register
interconnect testing
fault localization
fault identification
signature
fault dictionary
field programmable gate array (FPGA)
Opis:
Praca poświęcona jest dedykowanemu konkretnej aplikacji testowaniu połączeń w układach FPGA. Na czas testowania komórki układu FPGA wchodzące w skład realizowanej aplikacji są przekształcane w elementy układu RL-BIST. Do budowy takiego układu został wybrany pierścieniowy rejestr LFSR, którego n pętli sprzężeń zwrotnych jest w trakcie testowania liniami testowanej magistrali połączeń. Na podstawie sygnatury otrzymanej w układzie RL-BIST stwierdza się czy testowana magistrala połączeń jest sprawna a w oparciu o słownik diagnostyczny można także zlokalizować uszkodzone połączenia oraz zidentyfikować typ uszkodzenia. Skuteczność zaproponowanej metody testowania połączeń w FPGA została poparta obszernymi wynikami eksperymentalnymi.
Due to rapidly growing complexity of FPGA circuits application-dependent techniques of their testing become more and more often exploited for manufacturing test instead of application'independent methods. In such the case not all but only a part of FPGA resources (i.e. CLBs and interconnects) is a subject of testing - the part that is to be used by the concrete target application. The work is devoted to application-dependent testing of interconnects in FPGA circuits. For the test period the CLBs being the parts of the application are reconfigured so they implement elements (i.e. XOR gates and D-type flip-flops) of a RL-BIST structure based on a ring linear feedback shift register (R-LFSR). FPGA interconnections under test (IUTs) or at least their part are feedback lines of the R-LFSR. The R-LFSR is first initialised with a randomly chosen seed and than run for several clock cycles. Next the final state of the R-LFSR - a signature - is red by an ATE (Automatic Test Equipment). The value of the signature determines whether IUTs are fault free or faulty. Moreover, on the basis of the signature and with the use of a fault dictionary one may localise faulty interconnections in the FPGA and identify types of faults. The FPGA is afterwards reconfigured so the other set of IUTs becomes feedback lines of the R-LFSR. The above procedure is repeated until all FPGA interconnections belonging to the target application are tested. Efficacy of the proposed approach to testing of FPGA interconnects is supported by experimental results.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2008, R. 54, nr 8, 8; 594-597
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-4 z 4

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies