Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "linear feedback shift register" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-4 z 4
    Tytuł:
    Modified Alternating Step Generators with Non-Linear Scrambler
    Autorzy:
    Wicik, R.
    Rachwalik, T.
    Gliwa, R.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/106164.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej. Wydawnictwo Uniwersytetu Marii Curie-Skłodowskiej
    Tematy:
    stream cipher
    alternating step generator
    linear feedback shift register
    non-linear feedback shift register
    Opis:
    Pseudorandom generators, which produce keystreams for stream ciphers by the exclusiveor sum of outputs of alternately clocked linear feedback shift registers, are vulnerable to cryptanalysis. In order to increase their resistance to attacks, we introduce a non-linear scrambler at the output of these generators. Non-linear feedback shift register plays the role of the scrambler. In addition, we propose Modified Alternating Step Generator with a non-linear scrambler (MASG1S) built with non-linear feedback shift register and regularly or irregularly clocked linear feedback shift register with non-linear filtering functions.
    Źródło:
    Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska. Sectio AI, Informatica; 2014, 14, 1; 61-74
    1732-1360
    2083-3628
    Pojawia się w:
    Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska. Sectio AI, Informatica
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Pseudo-random bit generators based on linear-feedback shift registers in a programmable device
    Autorzy:
    Parol, M.
    Dąbal, P.
    Szplet, R.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/114462.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    pseudo-random bit generators
    linear-feedback shift register
    programmable device
    Opis:
    We present the results of comparative study on three pseudo-random bit generators (PRBG) based on various use of linear-feedback shift registers (LFSR). The project was focused on implementation and tests of three such PRBG in programmable device Spartan 6, Xilinx. Tests of the designed PRBGs were performed with the use of standard statistical tests NIST SP800-22.
    Źródło:
    Measurement Automation Monitoring; 2016, 62, 6; 184-186
    2450-2855
    Pojawia się w:
    Measurement Automation Monitoring
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Estimation of the pseudorandom signal length with the use of the FFT algorithm
    Autorzy:
    Walczak, J.
    Stępień, R.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/97736.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
    Tematy:
    FFT algorithm
    DLFSR generator
    pseudorandom signals
    linear feedback shift register
    LFSR generator
    Opis:
    This paper describes effective estimation method for pseudorandom signal length with the use of FFT algorithm. Proposed method was used in order to calculate the length of sequence of DLFSR generators’ output. The construction of DLFSR generators is described in the following paper. As it is shown on the examples the application of proposed method was implemented on PC computer, which was equipped with a soundcard.
    Źródło:
    Computer Applications in Electrical Engineering; 2012, 10; 41-49
    1508-4248
    Pojawia się w:
    Computer Applications in Electrical Engineering
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Zastosowanie liniowych rejestrów pierścieniowych do testowania połączeń w układach FPGA
    On Application of Ring Linear Feedback Shift Registers to Testing of Interconnects in FPGAs
    Autorzy:
    Hławiczka, A.
    Gucwa, K.
    Garbolino, T.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/156314.pdf
    Data publikacji:
    2008
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    liniowy rejestr pierścieniowy
    testowanie połączeń
    lokalizacja uszkodzeń
    identyfikacja uszkodzeń
    sygnatura
    słownik diagnostyczny
    układ FPGA
    ring linear feedback shift register
    interconnect testing
    fault localization
    fault identification
    signature
    fault dictionary
    field programmable gate array (FPGA)
    Opis:
    Praca poświęcona jest dedykowanemu konkretnej aplikacji testowaniu połączeń w układach FPGA. Na czas testowania komórki układu FPGA wchodzące w skład realizowanej aplikacji są przekształcane w elementy układu RL-BIST. Do budowy takiego układu został wybrany pierścieniowy rejestr LFSR, którego n pętli sprzężeń zwrotnych jest w trakcie testowania liniami testowanej magistrali połączeń. Na podstawie sygnatury otrzymanej w układzie RL-BIST stwierdza się czy testowana magistrala połączeń jest sprawna a w oparciu o słownik diagnostyczny można także zlokalizować uszkodzone połączenia oraz zidentyfikować typ uszkodzenia. Skuteczność zaproponowanej metody testowania połączeń w FPGA została poparta obszernymi wynikami eksperymentalnymi.
    Due to rapidly growing complexity of FPGA circuits application-dependent techniques of their testing become more and more often exploited for manufacturing test instead of application'independent methods. In such the case not all but only a part of FPGA resources (i.e. CLBs and interconnects) is a subject of testing - the part that is to be used by the concrete target application. The work is devoted to application-dependent testing of interconnects in FPGA circuits. For the test period the CLBs being the parts of the application are reconfigured so they implement elements (i.e. XOR gates and D-type flip-flops) of a RL-BIST structure based on a ring linear feedback shift register (R-LFSR). FPGA interconnections under test (IUTs) or at least their part are feedback lines of the R-LFSR. The R-LFSR is first initialised with a randomly chosen seed and than run for several clock cycles. Next the final state of the R-LFSR - a signature - is red by an ATE (Automatic Test Equipment). The value of the signature determines whether IUTs are fault free or faulty. Moreover, on the basis of the signature and with the use of a fault dictionary one may localise faulty interconnections in the FPGA and identify types of faults. The FPGA is afterwards reconfigured so the other set of IUTs becomes feedback lines of the R-LFSR. The above procedure is repeated until all FPGA interconnections belonging to the target application are tested. Efficacy of the proposed approach to testing of FPGA interconnects is supported by experimental results.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2008, R. 54, nr 8, 8; 594-597
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-4 z 4

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies