Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "kalibracja kamery termowizyjnej" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Wpływ charakterystyki kalibracji kamery termowizyjnej na dokładność podpikselowego pomiaru położenia krawędzi obiektów termicznych
An influence of the calibration curve of the ir camera on the sub-pixel edge location accuracy of the thermal objects
Autorzy:
Bąbka, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/152771.pdf
Data publikacji:
2002
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
kalibracja kamery termowizyjnej
podpikselowy pomiar położenia krawędzi
obiekty termiczne
calibration cuvre of the ir camera
sub-pixel edge
thermal objects
Opis:
W artykule przedstawiono wpływ charakterystyki kalibracyjnej kamery termowizyjnej na dokładność podpikselowego pomiaru położenia krawędzi obiektów termicznych. Opisane zjawisko ma miejsce w przypadku identyfikacji parametrów geometrycznych obiektów na podstawie obrazu pola temperatury przekształconego do postaci termogramu. W oparciu o matematyczny model krawędzi zaprezentowano metodę wyznaczania błędu systematycznego pochodzącego od rozpatrywanego przekształcenia. Załączono wyniki obliczeń błędów dla kamery ThermalCAM PM 595 w różnych warunkach pomiarowych.
An influence of the calibration cuvre of the IR camera on the sub-pixel edge location accurancy has been presented in the paper. The intensity signal, proportional to the emittance received from measured area by the infrared detector is converted to the temperature signal, which makes the thermal image. According to the Stefan-Boltzman low a relationship between a temperature and an emittance is strongly non-linear. This nonlinearity causes a geometrical distortion of the measured object dimensions. In case of the geometry measurements, the most sensitive seems to be the sub-pixel edge location measurements. The paper deals with the bias error problem using thermal images as a basis to the sub-pixel edge location measurements. Introducing the edge model, the method of the bias error estimation has been presented. There were conducted calculations specifying constrains of applications which bias error can be omitted. As an example the results for the infrared system ThermaCAM PM 595 have been included.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2002, R. 48, nr 4, 4; 11-13
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies