Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "jitter generation" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Jitter generation model based on timing modulation and cross point calibration for jitter decomposition
Autorzy:
Ren, Nan
Fu, Zaiming
Lei, Shengcu
Liu, Hanglin
Tian, Shulin
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1848967.pdf
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
jitter decomposition
jitter generation
cross-point calibration
timing modulation
deterministic jitter
random jitter
Opis:
High-speed serial standards are rapidly developing, and with a requirement for effective compliance and characterization measurement methods. Jitter decomposition consists in troubleshooting steps based on jitter components from decomposition results. In order to verify algorithms with different deterministic jitter (DJ) in actual circuits, jitter generation model by cross-point calibration and timing modulation for jitter decomposition is presented in this paper. The generated jitter is pre-processed by cross-point calibration which improves the accuracy of jitter generation. Precisely controllable DJ and random jitter (RJ) are generated by timing modulation such as data-dependent jitter (DDJ), duty cycle distortion (DCD), bounded uncorrelated jitter (BUJ), and period jitter (PJ). The benefit of the cross-point calibration was verified by comparing generation of controllable jitter with and without cross-point calibration. The accuracy and advantage of the proposed method were demonstrated by comparing with the method of jitter generation by analog modulation. Then, the validity of the proposed method was demonstrated by hardware experiments where the jitter frequency had an accuracy of ±20 ppm, the jitter amplitude ranged from 10 ps to 8.33 ns, a step of 2 ps or 10 ps, and jitter amplitude was independent of jitter frequency and data rate.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2021, 28, 1; 123-143
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies