Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "inteligentny kontroler zarządzający platformą" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
AMC radiation monitoring module for xTCA based low level RF control system
Autorzy:
Kozak, T.
Makowski, D.
Prędki, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/398055.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
inteligentny kontroler zarządzający platformą
płyta nośna
Intelligent Platform Management Controller
advanced telecommunications computing architecture
carrier board
IPMI
Opis:
Modern Advanced/Micro Telecommunications Computing Architecture (ATCA/žTCA) standards gain popularity, not only in telecommunication industry, but also in High Energy Physics (HEP) area. These platforms are considered as the future platform for the Low Level RF (LLRF) control system of the X-ray Free Electron Laser (XFEL) project realized at Deutsches Elektronen-Synchrotron (DESY) facility. One of the most important features of an ATCA/žTCA based control system is its high reliability, which can be decreased by negative influence of neutron and gamma radiation produced during normal operation of linear accelerators. The XFEL laser will be built in a single tunnel to decrease costs of the project. Therefore, the LLRF system will be exposed to harmful radiation. It is recommended to monitor doses absorbed by electronic equipment. The gathered data could help to estimate lifetime of electronic devices and to schedule essential equipment replacement. The radiation detector should be integrated with the ATCA/žTCA system to allow measurements in close proximity to the electronisc, which helps to increase the accuracy of measurements. The paper describes a radiation monitoring module capable of monitoring gamma radiation and neutron fluence in real-time which fulfills the mentioned requirements and is designed in accordance with the AMC specification.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2010, 1, 2; 120-124
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies