Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "image acquisition system" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Image Acquisition and Visualisation in DOOCS and EPICS Environments
Autorzy:
Perek, P.
Wychowaniak, J.
Makowski, D.
Orlikowski, M.
Napieralski, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/397971.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
DOOCS
EPICS
HEP
MicroTCA
rozproszony system sterowania
akwizycja obrazów
wizualizacja
kamera
przetwarzanie danych
distributed control system
image acquisition system
visualization
cameras
data processing
Opis:
The High Energy Physics (HEP) experiments, due to their large scale, required performance and precision, have to be controlled by complex, distributed control systems. The systems are responsible for processing thousands of signals from various sensors of different types. Very often, one of the data sources applied in such systems are visible light/infrared cameras or other imaging sensors, which provide substantial information about studied phenomena. High data throughput for camera systems require dedicated mechanisms for data collecting and processing. Moreover, the images from cameras should be also available to system operator. It needs the support from both operator panels interface and control application which should provide data in the dedicated format. The paper presents two different approaches to image distribution, processing and visualisation applied in distributed control systems. Discussed is the issue of support for cameras and image data implemented in the Distributed Object Oriented Control System (DOOCS) and an example control system designed to the needs of image acquisition system on the base of the Experimental Physics and Industrial Control System (EPICS) environment.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2012, 3, 2; 60-66
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
A new methodology for designing and development of complex systems for high energy physics
Autorzy:
Makowski, D.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/397800.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
design methodology
high energy physics
large scale systems
electronic systems
AdvancedTCA
MicroTCA
reliability
availability
serviceability
low level radio frequency control system
image acquisition system
metodologia projektowania
fizyka wysokich energii
systemy wielkiej skali
układy elektroniczne
Advanced Telecommunications Computing Architecture
Micro Telecommunications Computing Architecture
niezawodność
gotowość
podatność obsługowa
radioelektroniczny niskopoziomowy system sterowania
akwizycja obrazów
Opis:
The paper describes a new methodology that allows to design scalable complex control and data acquisition systems taking into consideration the additional, non-functional requirements of High-Energy Physics (HEP). Electronic systems applied in HEP often operate in difficult conditions. Access to such devices is difficult or even impossible. The HEP systems require high availability, serviceability and upgradeability. The operating conditions of these systems are even more difficult than for telecommunication devices. Therefore, a different methodology should be applied than for classical telecommunication systems, when designing electronics used in high-energy physics applications. Electronic systems also need a suitable hardware platform that not only assures high availability, simplifies maintenance and servicing but also allows to use mixed analogue-digital signals. The author made an attempt to develop a new methodology suitable for designing of complex data acquisition and control systems of HEP. The Low Level RF (LLRF) system of European Free Electron Laser (EXFEL) and Image Acquisition System (IAS) prototype developed for International Thermonuclear Experimental Reactor (ITER) tokamak are presented as examples of complex electronic systems that were designed according to the proposed methodology.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2016, 7, 4; 123-132
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
A QMS-compliant multiparameter system for optical inspection of manufactured products
System wieloparametrycznej kontroli wyrobów w procesie produkcji z wykorzystaniem metod optycznej inspekcji przystosowanej do wymagań systemów zarządzania jakością
Autorzy:
Zając, J.
Małkiński, W.
Dworak, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/256666.pdf
Data publikacji:
2006
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
systemy wizji maszynowej
przetwarzanie obrazów
analiza obrazów
automatyczna inspekcja optyczna
swobodny spadek
akwizycja poruszających się obiektów
baza danych
system zarządzania jakością
machine vision systems
image processing
image analysis
automated optical inspection
free fall
acquisition of moving objects
database
quality management system
Opis:
The system described in this paper provides automated optical inspection of free-falling products. It was designed to inspect plastic nose pads for eyeglasses. The solutions relating to the integrated image acquisition and the processing and analysis techniques allow achieving high inspection efficiency. The system also assures the possibility of full archiving of the inspection results for further reference, processing or statistical analysis.
Opisany w artykule system automatycznej inspekcji optycznej przeznaczony jest do inspekcji jakości swobodnie spadających detali. Zrealizowano aplikację, w której inspekcji podlegają plastikowe noski do okularów. Zastosowane rozwiązania w zakresie akwizycji obrazów oraz technik przetwarzania i analizy umożliwiły uzyskanie dużej wydajności inspekcji. Opracowany system zapewnia również możliwość pełnego archiwizowania wyników inspekcji w celu późniejszego porównywania, przetwarzania czy analizy statystycznej.
Źródło:
Problemy Eksploatacji; 2006, 4; 215-230
1232-9312
Pojawia się w:
Problemy Eksploatacji
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies