Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "electronic circuits" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-11 z 11
    Tytuł:
    Soft Fault Clustering in Analog Electronic Circuits with the Use of Self Organizing Neural Network
    Autorzy:
    Grzechca, D.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/220571.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    fault detection
    parametric faults
    analogue electronic circuits
    self-organizing neural network
    Opis:
    The paper presents a methodology for parametric fault clustering in analog electronic circuits with the use of a self-organizing artificial neural network. The method proposed here allows fast and efficient circuit diagnosis on the basis of time and/or frequency response which may lead to higher production yield. A self-organizing map (SOM) has been applied in order to cluster all circuit states into possible separate groups. So, it works as a feature selector and classifier. SOM can be fed by raw data (data comes from the time or frequency response) or some pre-processing is done at first. The author proposes conversion of a circuit response with the use of e.g. gradient and differentiation. The main goal of the SOM is to distribute all single faults on a two-dimensional map without state overlapping. The method is aimed for the development stage because the tolerances of elements are not taken into account, however single but parametric faults are considered. Efficiency analyses of fault clustering have been made on several examples e.g. a Sallen-Key BPF and an ECG amplifier. Testing procedure is performed in time and frequency domains for the Sallen-Key BPF with limited number of test points i.e. it is assumed that only input and output pins are available. A similar procedure has been applied to a real ECG amplifier in the frequency domain. Results prove a high efficiency in acceptable time which makes the method very convenient (easy and quick) as a first test in the development stage.
    Źródło:
    Metrology and Measurement Systems; 2011, 18, 4; 555-568
    0860-8229
    Pojawia się w:
    Metrology and Measurement Systems
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Analiza integralności sygnałów w mikroelektronicznych układach hybrydowych przy wykorzystaniu metody skończonych różnic czasowych
    Analysis of signal integrity in hybrid microelectronic circuits with use of the FDTD Method
    Autorzy:
    Sabat, W.
    Kuryło, K.
    Klepacki, D.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/153175.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    układy elektroniczne
    integralność sygnałów
    metoda FDTD
    electronic circuits
    signal integrity
    FDTD method
    Opis:
    W opracowaniu zaprezentowano zastosowanie metody skończonych różnic czasowych do analizy integralności sygnałów w wielokrotnych układach ścieżek mikroelektronicznych układów hybrydowych. Wykorzystując program MATHCAD opracowano algorytmy pozwalające na numeryczne rozwiązanie równania telegrafistów dla dowolnego bezstratnego układu przewodników. Zaprezentowane wyniki obliczeń dla wybranych konfiguracji ścieżek wykonanych w technologii grubowarstwowej, zweryfikowano doświadczalnie.
    The application of the Finite Difference Time Domain method for analysis of signal integrity in conductive path systems is presented in the paper. The algorithm allowing one to numerically solve of telegraph equations for any lossless path system on the basis of the Mathcad program was developed. The procedures elaborated with use of FDTD method enable analyzing the propagation of electrical signals in a selected system of paths with a specified input function shape for selected resistances loading the path system. The problems of signal integrity in planar circuits are presented in the introduction of this paper. Section 2 contains the theoretical basis of application of the Finite Difference Time Domain method to solving the telegraph equation. The basic relations and conditions allowing obtaining the calculation convergence for single and multiple path systems are also presented. The results of calculations and measurements for selected test circuits are included in Section 3. The influence of changes of path configuration and parameters of the test signal on its propagation process in mutual coupled paths was analyzed during investigations. The obtained good agreement of the calculation and measurements results confirmed the correctness of the elaborated algorithms and procedures.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 8, 8; 660-663
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Faults Classification Of Power Electronic Circuits Based On A Support Vector Data Description Method
    Autorzy:
    Cui, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/220938.pdf
    Data publikacji:
    2015
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    power electronic circuits
    fault classification
    support vector data description
    support vector machine (SVM)
    Opis:
    Power electronic circuits (PECs) are prone to various failures, whose classification is of paramount importance. This paper presents a data-driven based fault diagnosis technique, which employs a support vector data description (SVDD) method to perform fault classification of PECs. In the presented method, fault signals (e.g. currents, voltages, etc.) are collected from accessible nodes of circuits, and then signal processing techniques (e.g. Fourier analysis, wavelet transform, etc.) are adopted to extract feature samples, which are subsequently used to perform offline machine learning. Finally, the SVDD classifier is used to implement fault classification task. However, in some cases, the conventional SVDD cannot achieve good classification performance, because this classifier may generate some so-called refusal areas (RAs), and in our design these RAs are resolved with the one-against-one support vector machine (SVM) classifier. The obtained experiment results from simulated and actual circuits demonstrate that the improved SVDD has a classification performance close to the conventional one-against-one SVM, and can be applied to fault classification of PECs in practice.
    Źródło:
    Metrology and Measurement Systems; 2015, 22, 2; 205-220
    0860-8229
    Pojawia się w:
    Metrology and Measurement Systems
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów
    An input-output fault detection method of analog electronic circuits taking into consideration tolerances of elements
    Autorzy:
    Czaja, Z.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/328736.pdf
    Data publikacji:
    2004
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej PAN
    Tematy:
    detekcja uszkodzeń
    lokalizacja uszkodzeń
    analogowy układ elektroniczny
    fault detection
    fault localization
    analog electronic circuits
    Opis:
    W artykule przedstawiono nowe podejście detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów. Składa się ono z dwóch etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń składający się z opisu elipsy aproksymującej obszar nominalny reprezentujący brak uszkodzeń i współczynników określających szerokość pasów lokalizacyjnych. Zaprezentowano nowy algorytm tworzenia takiej elipsy i algorytm wyznaczania szerokości pasa lokalizacyjnego. W drugim etapie omówiono algorytm detekcji i lokalizacji uszkodzeń.
    In the paper a new approach of fault detection and localisation of analog electronic circuits taking into consideration tolerances of elements is described. It consists of two stages. In the first stage a fault dictionary consisting of description of an ellipse, which approximates a nominal area representing a fault-free circuit, and coefficients defining widths of localisation bells are created. A new algorithm of generation of the ellipse and the algorithm of determination of the width of localisation bell are presented. In the second stage the algorithm of fault detection and localisation is described.
    Źródło:
    Diagnostyka; 2004, 30, T. 1; 119-122
    1641-6414
    2449-5220
    Pojawia się w:
    Diagnostyka
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Przegląd rozwiązań stanowisk laboratoryjnych stosowanych podczas nauki zdalnej
    Overview of the Laboratory Workstation Solutions Used during Remote Learning
    Autorzy:
    Raczyński, Michał
    Biedka, Andrzej
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/2203476.pdf
    Data publikacji:
    2023
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
    Tematy:
    nauka zdalna
    układy elektroniczne
    systemy wbudowane
    mikrokontrolery
    remote teaching
    electronic circuits
    embedded systems
    microcontrollers
    Opis:
    W artykule zaprezentowano szereg praktycznych rozwiązań, które zastosowano by przekształcić stacjonarne stanowiska laboratoryjne (stosowane w ramach dydaktyki szeroko rozumianej elektroniki analogowej, cyfrowej oraz techniki mikroprocesorowej i systemów wbudowanych) do nauki zdalnej. Zastosowane rozwiązania umożliwiły pracę w warunkach możliwie najbardziej zbliżonych do standardowych zajęć stacjonarnych - z wykorzystaniem rzeczywistych układów i przyrządów pomiarowych, a nie jedynie symulacji komputerowej. Przykłady uruchomionych stanowisk laboratoryjnych to: obsługa silnika krokowego, generowanie sygnału PWM, obsługa elementów stykowych, obsługa magistral SPI i I2C, badanie parametrów dynamicznych bramek logicznych, badanie filtrów aktywnych, badanie parametrów dynamicznych klucza tranzystorowego. Cechą charakterystyczną opisanych rozwiązań jest niski nakład kosztów oraz możliwość szybkiego dostosowania stanowiska stacjonarnego do pracy zdalnej i odwrotnie, co było szczególnie istotne w warunkach pandemii koronawirusa w ostatnich latach i dynamicznych zmian formy zajęć (czasami z tygodnia na tydzień). Zaprezentowany zbiór opisów stanowisk laboratoryjnych może być szczególnie przydatny dla pracowników prowadzących zajęcia na uczelniach technicznych, gdzie kwestia przekazania studentom praktycznych umiejętności jest kluczowa.
    The paper presents some practical solutions that have been used to convert stationary laboratory workstations (used in the teaching of analog and digital electronics, microcontroller programming and embedded systems) to remote learning. The presented solutions enabled students to work in conditions similar to standard teaching in classroom - using real circuits and measuring instruments. Examples of the laboratory workstations are: stepper motor control, generation of a PWM signal, reading information from switches, using SPI and I2C buses, measuring of dynamic parameters of logic gates, measuring of active filters, measuring of dynamic parameters of a transistor switch. A characteristic feature of the described solutions is the low cost and the possibility of quickly adapting the stationary workstation to remote work (and vice-versa), which was particularly important under the conditions of the coronavirus pandemic in recent years and dynamic changes in the form of teaching method. The presented ideas can be useful for teachers working at technical universities, where the issue of providing practical skills to students is crucial.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Robotyka; 2023, 27, 1; 99--110
    1427-9126
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Robotyka
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Przegląd programów komputerowych dedykowanych projektowaniu układów elektronicznych. Charakterystyka środowiska GeckoCIRCUITS
    Review of Computer Programs Dedicated to the Design of Electronic Systems. Characteristics of the GeckoCIRCUITS Environment
    Autorzy:
    Stasiak, W.
    Czarnowski, I.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/947647.pdf
    Data publikacji:
    2018
    Wydawca:
    Uniwersytet Morski w Gdyni. Wydawnictwo Uniwersytetu Morskiego w Gdyni
    Tematy:
    projektowanie wspomagane komputerowo
    GeckoCIRCUITS
    projektowanie układów elektronicznych
    przekształtnik boost
    computer aided design
    design of electronic circuits
    boost converter
    Opis:
    Rozwój technologii wytwarzania układów elektronicznych, a także coraz szerszy zakres ich zastosowań, prowadzi do zapotrzebowania na rozwiązania wspomagające ich projektowanie. W artykule dokonano przeglądu wybranych rozwiązań dedykowanych projektowaniu układów elektronicznych. Skoncentrowano się na rozwiązaniach opartych na projektowaniu komputerowym, porównując wybrane środowiska programowe. W szczególności uwagę poświęcono środowisku GeckoCIRCUITS, które omówiono na przykładzie projektu układu przekształtnika podwyższającego napięcie (boost converter).
    The development of electronics manufacturing technologies, as well as increasingly broad range of their applications, leads to an increase in the demand for solutions that support their design process. The article reviews selected solutions dedicated to the design of electronic circuits and focuses on computed-based solutions, comparing the selected software environments. Particular attention has been paid to the GeckoCIRCUITS environment, which has been discussed basing on example of an electronic boost converter circuit design.
    Źródło:
    Zeszyty Naukowe Akademii Morskiej w Gdyni; 2018, 103; 137-150
    1644-1818
    2451-2486
    Pojawia się w:
    Zeszyty Naukowe Akademii Morskiej w Gdyni
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Środowisko Webench Design jako narzędzie edukacyjne
    Webench Design Environment as an Educational Tool
    Autorzy:
    LIPIŃSKI, SEWERYN
    MACIĄG, ANNA
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/455718.pdf
    Data publikacji:
    2019
    Wydawca:
    Uniwersytet Rzeszowski
    Tematy:
    Webench Design
    symulacja układów elektronicznych narzędzia edukacyjne
    dydaktyka elektroniki
    simulation of electronic circuits educational tools
    didactics of electronics
    Opis:
    Artykuł podejmuje temat zastosowania środowiska Webench Design w procesie nauczania elektroniki, szczególnie analogowej. Obecnie przekazywanie wiedzy z tego zakresu z wielu powodów jest dużym wyzwaniem dydaktycznym. W tym kontekście wykorzystanie darmowego i dostępnego online oprogramowania projektowo-symulacyjnego pozwala na uniknięcie części problemów pojawiających się w tym procesie i efektywne przekazanie wiedzy. W niniejszym opracowaniu środowisko Webench Design najpierw zostało opisane w sposób ogólny, a następnie na konkretnym przykładzie, jakim był aktywny filtr górnoprzepustowy, zaprezentowano część jego możliwości.
    The article deals with the application of the Webench Design environment in the electronics teaching, especially in analog circuits. Nowadays, transferring knowledge in this field is a big didactic challenge for many reasons. In this context, the use of project-simulation software that is free of charge and onlineavailable, allows avoiding some of the problems that arise in this process and transfer knowledge much more effectively. In the work, the Webench Design environment was first described in a general way, and then on a specific example, which was an active high- -pass filter, some of its capabilities were presented.
    Źródło:
    Edukacja-Technika-Informatyka; 2019, 10, 3; 186-191
    2080-9069
    Pojawia się w:
    Edukacja-Technika-Informatyka
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Synergia metod dydaktycznych w nauczaniu elektroniki
    Synergy of Didactic Methods in Teaching Electronics
    Autorzy:
    LIPIŃSKI, SEWERYN
    MACIĄG, ANNA
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/456569.pdf
    Data publikacji:
    2018
    Wydawca:
    Uniwersytet Rzeszowski
    Tematy:
    metody nauczania
    dydaktyka elektroniki
    symulacja układów elektronicznych
    płytka prototypowa
    teaching methods
    didactics of electronics
    simulation of electronic circuits
    breadboard
    Opis:
    Efektywne nauczanie elektroniki jest dużym wyzwaniem dydaktycznym, szczególnie na kierunkach, na których nauczanie tego przedmiotu prowadzone jest w niewielkim wymiarze godzinowym. W tym kontekście wydaje się, że szczególnie warto zwrócić uwagę na synergię metod dydaktycznych. W artykule zaprezentowano podejście oparte na połączeniu laboratorium praktycznego z symulacyjnym, uzupełnionego o elementy rachunkowe. Praca opiera się na przykładzie układu multiwibratora astabilnego, lecz zaprezentowaną metodykę można z powodzeniem stosować, opierając się na innych układach elektronicznych, tak analogowych, jak i cyfrowych. Opisane podejście pozwala na optymalne wykorzystanie dostępnego czasu, ale ma też inne zalety, na które zwrócono uwagę.
    Effective teaching of electronics is a big didactic challenge, especially within the courses where the teaching of this subject is conducted in a small hourly dimension. In this context, it seems that the synergy of didactic methods is particularly worth attention. The article presents an approach based on the combination of a practical and simulation laboratory, supplemented with calculation elements. The work bases on the example of the astable multivibrator, but the presented methodology can be successfully used based on other electronic circuits, both analog and digital. The described approach allows for optimal use of the available time, but it has also other ad-vantages, which were also highlighted
    Źródło:
    Edukacja-Technika-Informatyka; 2018, 9, 2; 325-330
    2080-9069
    Pojawia się w:
    Edukacja-Technika-Informatyka
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Dydaktyczne obrazy dynamiczne w wykładach zogniskowanych na układach elektronicznych – model metodyczny
    Methodical Application of Didactic Dynamic Pictures in Lectures Focusing on Electronic Circuits
    Autorzy:
    KRUPA, Krzysztof
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/457718.pdf
    Data publikacji:
    2015
    Wydawca:
    Uniwersytet Rzeszowski
    Tematy:
    dydaktyczne obrazy dynamiczne
    nauczanie elektroniki
    wykład z elektroniki
    układy elektroniczne
    didactic dynamic pictures
    electronics teaching
    lecture on electronics
    electronic circuits
    Opis:
    Treść artykułu koncentruje się na prezentacji modelu metodycznego stosowania dydaktycznych obrazów dynamicznych w wykładzie z elektroniki analogowej ogniskującym się na układach elektronicznych.
    The content of the paper focuses on presenting a model of teaching methodical application of didactic dynamic pictures in an academic lecture focusing on electronic circuits.
    Źródło:
    Edukacja-Technika-Informatyka; 2015, 6, 2; 70-74
    2080-9069
    Pojawia się w:
    Edukacja-Technika-Informatyka
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Evolutionary optimization of Sigma-Delta modulated analog stimulus
    Autorzy:
    Golonek, T.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/397702.pdf
    Data publikacji:
    2015
    Wydawca:
    Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
    Tematy:
    analog electronic circuits testing
    evolutionary optimization
    sigma-delta modulation
    pulse density modulation
    analogowy układ elektroniczny
    optymalizacja ewolucyjna
    modulacja sigma-delta
    modulacja gęstości impulsów
    Opis:
    This paper proposes the evolutionary technique of the stimulus signal optimization for the analog electronic circuit testing purpose. The obtained signal is coded with Sigma-Delta modulation usage that allows to generate it easily by simple microcontrollers without the necessity of expensive D/A peripherals applying. The signal with the controlled impulses density may be obtained on the external output terminal of the typical timer and finally, it defines the analog signal that can be reconstructed after low pass filtering.
    Źródło:
    International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2015, 6, 4; 130-135
    2080-8755
    2353-9607
    Pojawia się w:
    International Journal of Microelectronics and Computer Science
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Selected applications of the MOSFETs in AC-DC rectifier systems
    Wybrane zastosowania tranzystorów MOSFET w układach prostownikowych
    Autorzy:
    Tutaj, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/311897.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Instytut Naukowo-Wydawniczy "SPATIUM"
    Tematy:
    MOSFET transistor
    rectifier circuits
    electronic key
    electronic commutator
    transistor rectifier
    tranzystor MOSFET
    układy prostownikowe
    klucz elektroniczny
    komutator elektroniczny
    prostownik tranzystorowy
    Opis:
    The paper presents the principle of the uncontrolled transistor rectifier single- and/or multi-phase. The results of computer simulation waveforms of power and voltages are also given as well as of the currents of the uncontrolled transistor rectifier in single- and/or multi-phase, single- and/or double-way connections using PSPICE. The possibility of using a modified transistor rectifier in low-voltage power supply systems is indicated. In comparison with the conventional diode rectifiers (realized on the silicon power diodes), the transistor rectifier, exhibit a number of advantages, namely: they have a much lower forward-voltage drop, and therefore less power losses on heat, and better energetic efficiency and reliability. These transistor rectifiers can be made in the form of a Modular Circuit (MC) or an Application Specified Integrated Circuit (ASIC). Computer simulation allowed for the imitation of any selected waveforms of voltages and currents in the electronic commutator acting as a modified transistor rectifier. This simulation also confirmed the benefits of using a transistor rectifier instead of a conventional diode rectifier, such as higher energetic efficiency (reduction of power losses caused by the heat in the electronic commutator) and the associated reliability
    Artykuł opisuje zasadę działania oraz modele fizyczne komutatorów elektronicznych, działających jako tranzystorowe prostowniki z wykorzystaniem tranzystorów MOSFET z wstecznym przewodnictwem prądu jako klucze elektroniczne o małym spadku napięcia. Komutator elektroniczny, działający jako tranzystorowy prostownik, może być stosowany w wielu dziedzinach, na przykład, jako prostownik prądnicy samochodowej i konwencjonalnego prądnico-rozrusznika, spawarek mobilnych itp. Artykuł opisuje również nową konfigurację prostownika tranzystorowego bez użycia optoelektronicznych elementów separacyjnych, dzięki czemu możliwa jest łatwa realizacja prostownika w technologii układów scalonych. Symulacja komputerowa pozwala na uzyskanie przebiegów czasowych prądów i napięć na wszystkich elementach modelu fizycznego komutatora elektronicznego, zarówno podczas normalnej pracy, jak również w wybranych stanach awaryjnych. W pracy przedstawiono również wyniki badań laboratoryjnych, gdzie eksperymentalne tranzystory MOSFET były używane jako szybko przełączalne sterowalne zawory elektryczne (klucze elektroniczne) o stosunkowo niskim spadku napięcia w stanie przewodzenia. W badaniach eksperymentalnych, jako komutator elektroniczny został wykorzystany moduł tranzystorów MOSFET typu FM600TU firmy Mitsubishi. Tranzystorowy prostownika trójfazowy w układzie mostkowym ma wiele zalet w porównaniu z konwencjonalnym diodowym prostownikiem, takich jak wyższa sprawność energetyczna oraz większa niezawodność, wynikająca z niższej temperatury zaworów elektrycznych. W artykule zamieszczono również prostownik tranzystorowy jednofazowy, zintegrowany ze stabilizatorem impulsowym, który może być zrealizowany również jako jeden układ scalony.
    Źródło:
    Autobusy : technika, eksploatacja, systemy transportowe; 2016, 17, 4; 88-94
    1509-5878
    2450-7725
    Pojawia się w:
    Autobusy : technika, eksploatacja, systemy transportowe
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-11 z 11

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies