Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "dielectric material" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-3 z 3
    Tytuł:
    A review of the radar absorber material and structures
    Przegląd materiałów i struktur pochłaniających promieniowanie radarowe
    Autorzy:
    Aytaç, Ayhan
    İpek, Hüseyin
    Aztekin, Kadir
    Aytav, Emre
    Çanakçı, Burak
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/30140188.pdf
    Data publikacji:
    2020
    Wydawca:
    Akademia Wojsk Lądowych imienia generała Tadeusza Kościuszki
    Tematy:
    radar absorber
    wavelength absorber
    lossy dielectric
    shape factor
    materiał pochłaniający promieniowanie
    pochłanianie promieniowania
    ograniczony zakres widma
    stratny dielektryk
    czynnik kształtu
    Opis:
    The development of technologies that can rival the devices used by other countries in the defense industry, and more importantly, can disable their devices is becoming more critical. Radar absorber materials (RAM) make the detection of the material on the radar difficult because of absorbing a part of the electromagnetic wave sent by the radar. Considering that radar is one of the most important technologies used in the defense industry, the production of non-radar materials is vital for all countries in the world. Covering a gun platform with radar absorber material reduces the radar-cross-sectional area (RCA) value representing the visibility of that platform on the radar. This review aims to present the electromagnetic principles and developed Radar Absorbent Materials (RAM) during decades from the 1960s. The frequency range 8-12 GHz in the electromagnetic spectrum is named the microwave region and used in airport radar applications. Revised basis of electromagnetic theory and defined by a variety of absorbent materials and some design classification types and techniques are described in this article.
    Coraz większego znaczenia nabiera rozwój technologii mogących konkurować z produktami przemysłu obronnego używanymi przez inne kraje oraz, co istotniejsze, uniemożliwiać prawidłowe działanie tych produktów. Materiały pochłaniające promieniowanie (RAM – radiation-absorbent material) utrudniają wykrycie obiektu przez radar, absorbując część wiązki elektromagnetycznej wysłanej przez to urządzenie. Biorąc pod uwagę to, że radiolokacja stanowi jedną z najistotniejszych technologii stosowanych w przemyśle obronnym, produkcja materiałów zakłócających jej skuteczność ma kluczowe znaczenie dla wszystkich krajów świata. Pokrycie platformy bojowej materiałem pochłaniającym promieniowanie ogranicza skuteczną powierzchnię odbicia (SPO), od której zależna jest widoczność tej platformy na radarze. Niniejszy artykuł ma na celu przedstawienie zasad elektromagnetyzmu oraz rozwoju materiałów pochłaniających promieniowanie począwszy od lat sześćdziesiątych XX w. Fale elektromagnetyczne o częstotliwości 8-12 GHz określane są jako mikrofale i mają zastosowanie w urządzeniach radiolokacyjnych lotnisk. W artykule przedstawiono uaktualnione podstawy teorii elektromagnetycznej, zdefiniowano różnorodne materiały pochłaniające oraz przedstawiono niektóre typy i techniki.
    Źródło:
    Scientific Journal of the Military University of Land Forces; 2020, 52, 4(198); 931-946
    2544-7122
    2545-0719
    Pojawia się w:
    Scientific Journal of the Military University of Land Forces
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Digital contact potential probe in studying the deformation of dielectric materials
    Miernik cyfrowy do pomiarów kontaktowej różnicy potencjałów przeznaczony do kontroli deformacji materiałów dielektrycznych
    Autorzy:
    Pantsialeyeu, Konstantsin
    Zharin, Anatoly
    Gusev, Oleg
    Vorobey, Roman
    Tyavlovsky, Andrey
    Tyavlovsky, Konstantin
    Svistun, Aliaksandr
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1841377.pdf
    Data publikacji:
    2020
    Wydawca:
    Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
    Tematy:
    surface charge distribution
    contact potential difference
    Scanning Kelvin Probe
    dielectric material
    rozkład ładunku powierzchniowego
    kontaktowa różnica potencjałów
    skanująca sonda Kelvina
    materiał dielektryczny
    Opis:
    The paper reviews theresults of a study on the surface electrostatic chargesof dielectrics obtained using the contact potential difference (CPD) technique. Initially,the CPD technique was only applied to the study of metal and semiconductor surfaces. The conventional CPD measurement technique requires full compensation of the measured potential that, in thecase of dielectrics, could reach very high values. Such high potentials are hardto compensate. Therefore, the conventional CPD method is rarely applied inthe study of dielectric materials. Some important improvements recently made to the CPD measurementtechnique removedthe need for compensation.The new method, which does not require compensation, has been implementedin the form of a digital Kelvin probe.The paper describes the principlesof the non-compensation CPD measurement technique which was developedfor mapping the electrostatic surface charge space distribution acrossa wide range of potential values. The study was performed on polymers suchas low-density polyethylene (LDPE) and polytetrafluoroethylene (PTFE).
    W artykule przedstawiono wyniki badań rozkładu wymuszonych ładunków na powierzchni dielektryków metodą kontaktowej różnicy potencjałów (angl. CPD). Wcześniej metoda CPD była stosowana jedynie do badań powierzchni metali lub półprzewodników. Trudności stosowania metody CPD w stosunku do dielektryków wynikają z konieczności całkowitej kompensacji potencjału powierzchniowego, wartość którego może być wysoka. W praktyce taka kompensacjamoże być utrudniona. W związku z tym metoda CPD nie jest stosowana do badań dielektryków. Ostatnio do technikipomiarów metodą CPD wprowadzono szereg udoskonaleń, które wyeliminowały konieczność całkowitej kompensacji mierzonych wartości. Nowa metoda, która nie wymaga kompensacji, została zrealizowana w postacicyfrowej sondy Kelvina. W artykule przeanalizowano zasady działania sondy nie wymagającej kompensacji oraz jej zastosowanie do określenia rozkładu ładunku na powierzchni dielektryków w szerokim zakresie wartości potencjału. Badania przeprowadzono na materiałach polimerowych, takich jak polietylen o małej gęstości (LDPE) i politetrafluoroetylen (PTFE).
    Źródło:
    Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2020, 10, 4; 57-60
    2083-0157
    2391-6761
    Pojawia się w:
    Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Digital contact potential probe in studying the deformation of dielectric materials
    Miernik cyfrowy do pomiarów kontaktowej różnicy potencjałów przeznaczony do kontroli deformacji materiałów dielektrycznych
    Autorzy:
    Pantsialeyeu, Konstantsin
    Zharin, Anatoly
    Gusev, Oleg
    Vorobey, Roman
    Tyavlovsky, Andrey
    Tyavlovsky, Konstantin
    Svistun, Aliaksandr
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1841341.pdf
    Data publikacji:
    2020
    Wydawca:
    Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
    Tematy:
    surface charge distribution
    contact potential difference
    Scanning Kelvin Probe
    dielectric material
    rozkład ładunku powierzchniowego
    kontaktowa różnica potencjałów
    skanująca sonda Kelvina
    materiał dielektryczny
    Opis:
    The paper reviews theresults of a study on the surface electrostatic chargesof dielectrics obtained using the contact potential difference (CPD) technique. Initially,the CPD technique was only applied to the study of metal and semiconductor surfaces. The conventional CPD measurement technique requires full compensation of the measured potential that, in thecase of dielectrics, could reach very high values. Such high potentials are hardto compensate. Therefore, the conventional CPD method is rarely applied inthe study of dielectric materials. Some important improvements recently made to the CPD measurementtechnique removedthe need for compensation.The new method, which does not require compensation, has been implementedin the form of a digital Kelvin probe.The paper describes the principlesof the non-compensation CPD measurement technique which was developedfor mapping the electrostatic surface charge space distribution acrossa wide range of potential values. The study was performed on polymers suchas low-density polyethylene (LDPE) and polytetrafluoroethylene (PTFE).
    W artykule przedstawiono wyniki badań rozkładu wymuszonych ładunków na powierzchni dielektryków metodą kontaktowej różnicy potencjałów (angl. CPD). Wcześniej metoda CPD była stosowana jedynie do badań powierzchni metali lub półprzewodników. Trudności stosowania metody CPD w stosunku do dielektryków wynikają z konieczności całkowitej kompensacji potencjału powierzchniowego, wartość którego może być wysoka. W praktyce taka kompensacjamoże być utrudniona. W związku z tym metoda CPD nie jest stosowana do badań dielektryków. Ostatnio do technikipomiarów metodą CPD wprowadzono szereg udoskonaleń, które wyeliminowały konieczność całkowitej kompensacji mierzonych wartości. Nowa metoda, która nie wymaga kompensacji, została zrealizowana w postacicyfrowej sondy Kelvina. W artykule przeanalizowano zasady działania sondy nie wymagającej kompensacji oraz jej zastosowanie do określenia rozkładu ładunku na powierzchni dielektryków w szerokim zakresie wartości potencjału. Badania przeprowadzono na materiałach polimerowych, takich jak polietylen o małej gęstości (LDPE) i politetrafluoroetylen (PTFE).
    Źródło:
    Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2020, 10, 4; 57-60
    2083-0157
    2391-6761
    Pojawia się w:
    Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-3 z 3

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies