Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "dielectric material" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Digital contact potential probe in studying the deformation of dielectric materials
Miernik cyfrowy do pomiarów kontaktowej różnicy potencjałów przeznaczony do kontroli deformacji materiałów dielektrycznych
Autorzy:
Pantsialeyeu, Konstantsin
Zharin, Anatoly
Gusev, Oleg
Vorobey, Roman
Tyavlovsky, Andrey
Tyavlovsky, Konstantin
Svistun, Aliaksandr
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1841341.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
Tematy:
surface charge distribution
contact potential difference
Scanning Kelvin Probe
dielectric material
rozkład ładunku powierzchniowego
kontaktowa różnica potencjałów
skanująca sonda Kelvina
materiał dielektryczny
Opis:
The paper reviews theresults of a study on the surface electrostatic chargesof dielectrics obtained using the contact potential difference (CPD) technique. Initially,the CPD technique was only applied to the study of metal and semiconductor surfaces. The conventional CPD measurement technique requires full compensation of the measured potential that, in thecase of dielectrics, could reach very high values. Such high potentials are hardto compensate. Therefore, the conventional CPD method is rarely applied inthe study of dielectric materials. Some important improvements recently made to the CPD measurementtechnique removedthe need for compensation.The new method, which does not require compensation, has been implementedin the form of a digital Kelvin probe.The paper describes the principlesof the non-compensation CPD measurement technique which was developedfor mapping the electrostatic surface charge space distribution acrossa wide range of potential values. The study was performed on polymers suchas low-density polyethylene (LDPE) and polytetrafluoroethylene (PTFE).
W artykule przedstawiono wyniki badań rozkładu wymuszonych ładunków na powierzchni dielektryków metodą kontaktowej różnicy potencjałów (angl. CPD). Wcześniej metoda CPD była stosowana jedynie do badań powierzchni metali lub półprzewodników. Trudności stosowania metody CPD w stosunku do dielektryków wynikają z konieczności całkowitej kompensacji potencjału powierzchniowego, wartość którego może być wysoka. W praktyce taka kompensacjamoże być utrudniona. W związku z tym metoda CPD nie jest stosowana do badań dielektryków. Ostatnio do technikipomiarów metodą CPD wprowadzono szereg udoskonaleń, które wyeliminowały konieczność całkowitej kompensacji mierzonych wartości. Nowa metoda, która nie wymaga kompensacji, została zrealizowana w postacicyfrowej sondy Kelvina. W artykule przeanalizowano zasady działania sondy nie wymagającej kompensacji oraz jej zastosowanie do określenia rozkładu ładunku na powierzchni dielektryków w szerokim zakresie wartości potencjału. Badania przeprowadzono na materiałach polimerowych, takich jak polietylen o małej gęstości (LDPE) i politetrafluoroetylen (PTFE).
Źródło:
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2020, 10, 4; 57-60
2083-0157
2391-6761
Pojawia się w:
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Digital contact potential probe in studying the deformation of dielectric materials
Miernik cyfrowy do pomiarów kontaktowej różnicy potencjałów przeznaczony do kontroli deformacji materiałów dielektrycznych
Autorzy:
Pantsialeyeu, Konstantsin
Zharin, Anatoly
Gusev, Oleg
Vorobey, Roman
Tyavlovsky, Andrey
Tyavlovsky, Konstantin
Svistun, Aliaksandr
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1841377.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
Tematy:
surface charge distribution
contact potential difference
Scanning Kelvin Probe
dielectric material
rozkład ładunku powierzchniowego
kontaktowa różnica potencjałów
skanująca sonda Kelvina
materiał dielektryczny
Opis:
The paper reviews theresults of a study on the surface electrostatic chargesof dielectrics obtained using the contact potential difference (CPD) technique. Initially,the CPD technique was only applied to the study of metal and semiconductor surfaces. The conventional CPD measurement technique requires full compensation of the measured potential that, in thecase of dielectrics, could reach very high values. Such high potentials are hardto compensate. Therefore, the conventional CPD method is rarely applied inthe study of dielectric materials. Some important improvements recently made to the CPD measurementtechnique removedthe need for compensation.The new method, which does not require compensation, has been implementedin the form of a digital Kelvin probe.The paper describes the principlesof the non-compensation CPD measurement technique which was developedfor mapping the electrostatic surface charge space distribution acrossa wide range of potential values. The study was performed on polymers suchas low-density polyethylene (LDPE) and polytetrafluoroethylene (PTFE).
W artykule przedstawiono wyniki badań rozkładu wymuszonych ładunków na powierzchni dielektryków metodą kontaktowej różnicy potencjałów (angl. CPD). Wcześniej metoda CPD była stosowana jedynie do badań powierzchni metali lub półprzewodników. Trudności stosowania metody CPD w stosunku do dielektryków wynikają z konieczności całkowitej kompensacji potencjału powierzchniowego, wartość którego może być wysoka. W praktyce taka kompensacjamoże być utrudniona. W związku z tym metoda CPD nie jest stosowana do badań dielektryków. Ostatnio do technikipomiarów metodą CPD wprowadzono szereg udoskonaleń, które wyeliminowały konieczność całkowitej kompensacji mierzonych wartości. Nowa metoda, która nie wymaga kompensacji, została zrealizowana w postacicyfrowej sondy Kelvina. W artykule przeanalizowano zasady działania sondy nie wymagającej kompensacji oraz jej zastosowanie do określenia rozkładu ładunku na powierzchni dielektryków w szerokim zakresie wartości potencjału. Badania przeprowadzono na materiałach polimerowych, takich jak polietylen o małej gęstości (LDPE) i politetrafluoroetylen (PTFE).
Źródło:
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2020, 10, 4; 57-60
2083-0157
2391-6761
Pojawia się w:
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
A review of the radar absorber material and structures
Przegląd materiałów i struktur pochłaniających promieniowanie radarowe
Autorzy:
Aytaç, Ayhan
İpek, Hüseyin
Aztekin, Kadir
Aytav, Emre
Çanakçı, Burak
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/30140188.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Akademia Wojsk Lądowych imienia generała Tadeusza Kościuszki
Tematy:
radar absorber
wavelength absorber
lossy dielectric
shape factor
materiał pochłaniający promieniowanie
pochłanianie promieniowania
ograniczony zakres widma
stratny dielektryk
czynnik kształtu
Opis:
The development of technologies that can rival the devices used by other countries in the defense industry, and more importantly, can disable their devices is becoming more critical. Radar absorber materials (RAM) make the detection of the material on the radar difficult because of absorbing a part of the electromagnetic wave sent by the radar. Considering that radar is one of the most important technologies used in the defense industry, the production of non-radar materials is vital for all countries in the world. Covering a gun platform with radar absorber material reduces the radar-cross-sectional area (RCA) value representing the visibility of that platform on the radar. This review aims to present the electromagnetic principles and developed Radar Absorbent Materials (RAM) during decades from the 1960s. The frequency range 8-12 GHz in the electromagnetic spectrum is named the microwave region and used in airport radar applications. Revised basis of electromagnetic theory and defined by a variety of absorbent materials and some design classification types and techniques are described in this article.
Coraz większego znaczenia nabiera rozwój technologii mogących konkurować z produktami przemysłu obronnego używanymi przez inne kraje oraz, co istotniejsze, uniemożliwiać prawidłowe działanie tych produktów. Materiały pochłaniające promieniowanie (RAM – radiation-absorbent material) utrudniają wykrycie obiektu przez radar, absorbując część wiązki elektromagnetycznej wysłanej przez to urządzenie. Biorąc pod uwagę to, że radiolokacja stanowi jedną z najistotniejszych technologii stosowanych w przemyśle obronnym, produkcja materiałów zakłócających jej skuteczność ma kluczowe znaczenie dla wszystkich krajów świata. Pokrycie platformy bojowej materiałem pochłaniającym promieniowanie ogranicza skuteczną powierzchnię odbicia (SPO), od której zależna jest widoczność tej platformy na radarze. Niniejszy artykuł ma na celu przedstawienie zasad elektromagnetyzmu oraz rozwoju materiałów pochłaniających promieniowanie począwszy od lat sześćdziesiątych XX w. Fale elektromagnetyczne o częstotliwości 8-12 GHz określane są jako mikrofale i mają zastosowanie w urządzeniach radiolokacyjnych lotnisk. W artykule przedstawiono uaktualnione podstawy teorii elektromagnetycznej, zdefiniowano różnorodne materiały pochłaniające oraz przedstawiono niektóre typy i techniki.
Źródło:
Scientific Journal of the Military University of Land Forces; 2020, 52, 4(198); 931-946
2544-7122
2545-0719
Pojawia się w:
Scientific Journal of the Military University of Land Forces
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies