Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "diamond film" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-6 z 6
    Tytuł:
    Field emission and microstructural characterization of diamond films deposited by HF CVD method
    Emisja polowa i charakterystyka mikrostruktury warstw diamentowych nanoszonych przy użyciu metody HF CVD
    Autorzy:
    Jarzyńska, D.
    Staryga, E.
    Znamirowski, Z.
    Fabisiak, K.
    Gotszalk, T.
    Woszczyna, M.
    Strzelecki, W.
    Dłużniewski, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/296561.pdf
    Data publikacji:
    2007
    Wydawca:
    Politechnika Łódzka. Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej
    Tematy:
    warstwa diamentowa
    domieszkowanie
    emisja elektronowa
    diamond film
    doping
    electron emission
    Opis:
    Electron emission from diamond films (DF) deposited using HF CVD technique on silicon substrates has been studied. The field emission characteristics were analyzed using the Fowler-Nordheim model. The diamond films were also characterized by Scanning Electron Microscopy (SEM), Atomic Force Microscopy (AFM), Raman Spectroscopy (RS) and Electron Spin Resonance (ESR) techniques. The correlation between electron field emission of investigated films, Raman spectra and concentration of paramagnetic centres has been discussed. The electron emission properties of diamond films improved after doping with nitrogen. The field emission was obtained at turn-on electric field equal to about 10 V/µm and about 3 V/µm, for undoped diamond films and N-doped diamond films, respectively. It seems that the change of turn-on field values and other emissive properties of thin diamond layers may be caused by different content of non-diamond phase (e.g. graphite phase) induced by doping.
    Przeprowadzono badania emisji polowej z warstw diamentowych osadzonych przy użyciu metody HF CVD na podłożach krzemowych typu n i p. Charakterystyki emisyjne analizowano na podstawie modelu Fowlera-Nordheima. Wytworzone warstwy scharakteryzowano przy użyciu następujących metod: SEM, AFM, spektroskopii Ramana i Elektronowego Rezonansu Spinowego (ESR). Przeprowadzono dyskusję wyników, wskazując na korelację pomiędzy wynikami emisji polowej a koncentracją centrów paramagnetycznych oraz widmami ramanowskimi badanych warstw diamentowych. Zaobserwowano znaczną poprawę właściwości emisyjnych heterostruktur, w których warstwa diamentowa domieszkowana została azotem. Dla układów z niedomieszkowanymi warstwami diamentowymi wartość natężenia pola włączeniowego wynosiła około 10 V/ µm, zaś dla domieszkowanych azotem warstw diamentowych wartość ta równa jest 3 V/µm. Różnice w wartościach pola włączeniowego dla odpowiednich układów wynikają prawdopodobnie z różnej zawartości materii grafito-podobnej w badanych warstwach diamentowych. Warstwy domieszkowane azotem są silnie zdefektowane i zawierają znaczną ilość materii grafitopodobnej.
    Źródło:
    Scientific Bulletin. Physics / Technical University of Łódź; 2007, 28; 13-26
    1505-1013
    2449-982X
    Pojawia się w:
    Scientific Bulletin. Physics / Technical University of Łódź
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Characteristics of Carbide Interfacial Layer Formed During Deposition of DLC Films on 316L Stainless Steel Substrate
    Autorzy:
    Dudek, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/354300.pdf
    Data publikacji:
    2017
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    RF PECVD
    carbon films
    diamond like carbon film
    film growth
    carbides formation
    Opis:
    The paper presents the analysis of formation of interfacial layer during deposition of diamond like carbon film (DLC) on the 316L stainless steel by capacitive plasma discharge in the CH4 atmosphere. The structure of the interfacial layer of DLC film was strongly affected by the temperature increase during the initial stages of the process. Initially, thin interfacial layer of 5 nm has been formed. As the temperature had reached 210°C, the second phase of the process was marked by the onset of carbon atoms diffusion into the steel and by the interface thickness increase. Finally, the growth of chromium carbide interface, the upward diffusion of chromium and nickel atoms to film, the etching and the decrease of the DLC film thickness were observed at 233°C. These investigations were carried out ex-situ by spectroscopic ellipsometry, X-ray diffraction, X-ray photoelectron spectroscopy and Raman spectroscopy.
    Źródło:
    Archives of Metallurgy and Materials; 2017, 62, 4; 2211-2216
    1733-3490
    Pojawia się w:
    Archives of Metallurgy and Materials
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Ocena potencjału technologicznego diamentowych folii ściernych z wykorzystaniem informacji o topografii powierzchni czynnej
    Assessment of the technological potential of Diamond Lapping Films to superfinishing using information about the active surface topography
    Autorzy:
    Kacalak, W.
    Tandecka, K.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/153472.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    folia ścierna
    ziarno ścierne
    IDLF
    potencjał technologiczny
    abrasive film
    grain
    Imperial Diamond Lapping Film
    technological potential
    Opis:
    Ocena parametrów charakteryzujących powierzchnię czynną folii ściernych jest podstawą prognozowania cech stereometrycznych powierzchni po wygładzaniu [1]. W artykule przedstawiono wyniki badań i analiz topografii powierzchni czynnej diamentowych folii ściernych. Określone fragmenty folii ściernej jednokrotnie są aktywne, gdyż folia jest w sposób ciągły przewijana w jednym kierunku z rolki podającej na odbierającą. Dobre wykorzystanie potencjału obróbkowego zależy zatem od doboru parametrów zapewniających wypełnienie produktami obróbki przestrzeni między ziarnami [2, 3]. Badając ukształtowanie agregatów diamentowych ziaren ściernych i przestrzenie między nimi można wnioskować o potencjale obróbkowym folii ściernej oraz określać zalecaną prędkość przesuwu folii, zapewniającą maksymalne wykorzystanie tego potencjału.
    Abrasive films are produced by the American company 3M. 3M™ Diamond Lapping Films are comprised of tightly graded diamond mineral uniformly coated on a polyester film backing enabling long abrasive life with a superior finish throughout the life of the product. Main applications of diamond abrasive tools is fiber optic connector processing, flat lapping, roll superfinishing. Diamond Lapping Films are used for hard finishing of grind materials such as glass, stone, carbide, ceramics, hardened metals, exotic alloys and composites. Parameters of the backing polyester film are: nominal thickness: 1...3 mil (25,4…76,2 žm), actual thickness: 0.92 mil...2.97 mil (23,37…75,44 žm), ultimate tensile strength - 26,500 psi ( 0,18 MPa). Nominal sizes of diamond grainsvary in the range: 0,1…60 žm. Grains are embedded in bonding resin on the backing polyester film [3]. Assessment of the properties of coated abrasives for use in Diamond Lapping Film is a complex problem due to a wide range of superfinishing conditions and nonuniform geometry of aggregates of grains (Fig. 1) [4]. One important task of forecasting the surface stereometric features, after superfinishing with abrasive films, is to define the parameters characterizing the active flank. The paper presents results of research and analysis of the diamond abrasive film surface topography. Studying the shape of aggregates of diamond grains and the spaces between them enables one to conclude about the technological potential of abrasive film (Fig. 5). Investigations of the topography surface of tools for precise finishing were carried out with use of confocal laser scanning microscopy (Fig. 6).
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2012, R. 58, nr 6, 6; 540-544
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    A method and new parameters for assessing the active surface topography of diamond abrasive films
    Autorzy:
    Kacalak, W.
    Tandecka, K.
    Mathia, T. G.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/99984.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Wrocławska Rada Federacji Stowarzyszeń Naukowo-Technicznych
    Tematy:
    microfinishing film
    diamond
    active surface
    Opis:
    This paper describes the methodology and results of research on the tribological characteristics of the surfaces of diamond abrasive films using a stereometric analysis. Abrasive films are used in various finishing processes of surfaces with very high smoothness and accuracy. A morphological analysis of surface vertexes in the plane that is parallel to the film surface and the perpendicular direction allowed an assessment of the distances between particles by means of a decomposition of the surface into Voronoi cells. When studying the formation of the aggregates of diamond particles and the spaces between them, one may infer about the machining potential of the abrasive film and determine the recommended kinematic conditions of the film that ensures the maximum use of this potential. Owing to the investigations related to the morphology of diamond abrasive films, one can observe relevant characteristic abrasive aggregates that vary in term of size and shape depending on particle sizes. Units with elongated shapes have a superior machining ability in relation to spherical-shaped units. One of significant parameters proposed that describe the technological potential of abrasive films is the edge length to width ratio of diamond units. Different operating modes are discussed. A statistical analysis of the dynamics observed of abrasive interfaces allowed a pertinent description of the abrasive process taking into consideration nominal and apparent as well as abrasively efficient morphologies.
    Źródło:
    Journal of Machine Engineering; 2016, 16, 4; 95-108
    1895-7595
    2391-8071
    Pojawia się w:
    Journal of Machine Engineering
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Raman modular system with fibre-optic probes for remote monitoring of CVD process
    Modułowy system ramanowski z sondami światłowodowymi do zdalnego monitorowania procesów CVD
    Autorzy:
    Gnyba, M.
    Bogdanowicz, R.
    Wroczyński, P.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/256741.pdf
    Data publikacji:
    2006
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
    Tematy:
    spektroskopia ramanowska
    monitoring in-situ
    sonda światłowodowa
    CVD
    cienka warstwa diamentowa
    Raman spectroscopy
    in-situ monitoring
    fibre-optic probe
    chemical vapour deposition
    diamond thin film
    Opis:
    Dedicated Raman system was designed for in-situ monitoring of thin film growth in CVD (chemical vapour deposition) process. Review of monitoring requirements and limiting factors is given in this paper. Computer simulation of laser beam propagation in the CVD chamber and the thin film was carried out. Components for Raman optical probes and their configuration were selected using results of the modelling. Ex-situ investigation of the thin films enabled determination of the Raman scattering intensity. The prototype of the modular Raman system using fibre-optic probes was built. Efficiency of optical signal transmission through the probes was tested.
    W artykule przedstawiono projekt systemu ramanowskiego do monitorowania in-situ wzrostu cienkich warstw w procesie CVD i analizę związanych z tym problemów metrologicznych. Na podstawie wyników modelowania komputerowego wprowadzania wiązki laserowej do komory i jej propagacji w cienkiej warstwie wytypowano optymalną konfigurację optyczną systemu ramanowskiego i określono parametry optyczne jego elementów. Zbudowano prototyp modułowego wyposażonego w sondy światłowodowe. Wykonano pomiary wstępne obejmujące badania ex-situ generacji sygnału ramanowskiego w wybranych materiałach oraz testy sondy nadawczej na stole optycznym.
    Źródło:
    Problemy Eksploatacji; 2006, 4; 115-127
    1232-9312
    Pojawia się w:
    Problemy Eksploatacji
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Basics of the superfinishing results prognostication by the diamond lapping films
    Autorzy:
    Kacalak, W.
    Tandecka, K.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/100181.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Wrocławska Rada Federacji Stowarzyszeń Naukowo-Technicznych
    Tematy:
    microfinishing film
    abrasive grain
    superfinishing
    diamond
    coated abrasives
    Opis:
    Superfinishing with the use of diamond lapping films differs to a significant extent from other machining methods. This is finishing surface machining, one which is realized by a slow rewinding of a microfinishing film, putting it in an oscillating motion and pressing the tool to the surface being machined. The surface being machined moves with a speed which is substantially greater than that of the tool feed. A characteristic feature of the process is a one-time use of the tool, the result being a need of an optimal selection of the machining parameters. Investigations of the topography of the microfinishing film surface were conducted with the use of new parameters that describe the arrangement and the shape of the vertices of active grains. The following were used for the purpose of assessment: coefficients that had been developed that describe the features of the shape of the tool surface, such as the standardized coefficient of the flatness of vertices wNki, the standardized number of vertices in relation to an area unit LNwi and the dissipation coefficient of the height of the location of vertices wNrwi. For the purpose of the assessment of the smoothening ability of diamond lapping films the smoothening potential coefficient wp was developed, which is defined as the geometric mean of the abovementioned indices.
    Źródło:
    Journal of Machine Engineering; 2012, 12, 4; 49-62
    1895-7595
    2391-8071
    Pojawia się w:
    Journal of Machine Engineering
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-6 z 6

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies