- Tytuł:
-
Model badania potwierdzającego niezawodność dla dwumianowych systemów o rosnącej niezawodności
Reliability demonstration test model for binomial systems with reliability growth - Autorzy:
-
Wu, X.
Liu, Q. - Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/301072.pdf
- Data publikacji:
- 2010
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
- Tematy:
-
system dwumianowy
badanie potwierdzające
dyskretny model wzrostu niezawodności
binomial system
demonstration test
discrete reliability growth model - Opis:
-
Wiele złożonych systemów inżynieryjnych przechodzi proces wzrostu niezawodności w kolejnych etapach badań. Większość istniejących modeli badań potwierdzających niezawodność nie uwzględnia jednak wzrostu niezawodności. W niniejszym artykule przedstawiono model badania niezawodności dla systemów dwumianowych o 2 etapach testowych, który bierze pod uwagę możliwy wzrost niezawodności. Określono wskaźniki prawdopodobieństwa dla różnych możliwych sytuacji oraz wyprowadzono statystyczne reguły decyzyjne. Podany przykład ilustruje względnie niższe ryzyko decyzyjne proponowanego modelu w stosunku do tego, jakie niosą klasyczne modele badań.
Many complex engineering systems experience reliability growth in successive test stages. In most existing reliability demonstration test models, reliability growth is not incorporated. In this paper, for binomial systems with 2 test stages, a reliability demonstration test model is presented that takes possible reliability growth into consideration. Likelihood ratios are defi ned for various possible situations, and statistical decision rules are derived. With a given example, the relative lower decision risk of the proposed model is illustrated by comparison with that of classical demonstration test models. - Źródło:
-
Eksploatacja i Niezawodność; 2010, 2; 55-58
1507-2711 - Pojawia się w:
- Eksploatacja i Niezawodność
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł