Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "application based testing" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Tracing Fault Effects in FPGA Systems
Autorzy:
Węgrzyn, M.
Sosnowski, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/227036.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
FPGA testing
application based testing
fault injection
SEU
Opis:
The paper presents the extent of fault effects in FPGA based systems and concentrates on transient faults (induced by single event upsets – SEUs) within the configuration memory of FPGA. An original method of detailed analysis of fault effect propagation is presented. It is targeted at microprocessor based FPGA systems using the developed fault injection technique. The fault injection is performed at HDL description level of the microprocessor using special simulators and developed supplementary programs. The proposed methodology is illustrated for soft PicoBlaze microprocessor running 3 programs. The presented results reveal some problems with fault handling at the software level.
Źródło:
International Journal of Electronics and Telecommunications; 2014, 60, 1; 103-108
2300-1933
Pojawia się w:
International Journal of Electronics and Telecommunications
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies