Temat: analogue method - Katalog OPAC zbiorów

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Nowe spojrzenie na stare mikrodensytogramy
Autorzy:: Miałdun, J.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/130720.pdf
Data publikacji:: 2002
Wydawca:: Stowarzyszenie Geodetów Polskich
Tematy:: metoda analogowa
teledetekcja
cyfrowa analiza obrazu
analogue method
remote sensing
digital image analysis
Opis:: W wielu pracowniach teledetekcyjnych istnieją bogate zbiory mikrodensytogramów pozyskanych w minionych latach metodami analogowymi. Opracowane odpowiednimi na ówczesne czasy metodami są dziś trudne do wykorzystania. Niniejsza praca zawiera propozycją metodyki ponownego wykorzystania tych często unikatowych danych teledetekcyjnych. Metodyka opiera się na cyfrowej analizie obrazu wykresów wykonanych na papierze i wzbogacona jes to nowe parametry — n. p. o wymiar fraktalny.
Źródło:: Archiwum Fotogrametrii, Kartografii i Teledetekcji; 2002, 12; 269-274
2083-2214
2391-9477
Pojawia się w:: Archiwum Fotogrametrii, Kartografii i Teledetekcji
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: A fault verification method for testing of analogue electronic circuits
Autorzy:: Tadeusiewicz, M.
Hałgas, S.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/221477.pdf
Data publikacji:: 2018
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: analogue circuits
multiple-fault diagnosis
Powell's method
verification technique
Opis:: The paper deals with multiple soft fault diagnosis of analogue circuits. A method for diagnosis of linear circuits is developed, belonging to the class of the fault verification techniques. The method employs a measurement test performed in the frequency domain, leading to the nonlinear least squares problem. To solve this problem the Powell minimization method is applied. The diagnostic method is adapted to real circumstances, taking into account deviations of fault-free parameters and measurement uncertainty. Two examples of electronic circuits encountered in practice demonstrate that the method is efficient for diagnosis of middle-sized circuits. Although the method is dedicated to linear circuits it can be adapted to multiple soft fault diagnosis of nonlinear ones. It is illustrated by an example of a CMOS circuit designed in a sub-micrometre technology.
Źródło:: Metrology and Measurement Systems; 2018, 25, 2; 331-346
0860-8229
Pojawia się w:: Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Informacja