Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "analog to digital converter" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
Wyświetlanie 1-15 z 21
Tytuł:
Analiza właściwości przetwornika cyfrowo-analogowego sigma-delta do zastosowania we wzorcowym źródle napięcia przemiennego o bardzo małej częstotliwości
Analysis of Delta-Sigma DAC properties for use in very low frequency AC standard voltage source
Autorzy:
Bojdoł, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/151380.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
modulacja sigma-delta
wzorcowe źródło napięcia przemiennego nieliniowość przetwornika C/A
cyfrowa korekcja nieliniowości
delta-sigma modulation
AC standard voltage source
nonlinearity of Digital-to-Analog Converter
digital correction of DAC's nonlinearity
Opis:
Artykuł przedstawia koncepcję budowy źródła wzorcowego napięcia przemiennego w oparciu o zasadę modulacji sigma-delta. Wybór tego rodzaju modulacji powoduje zmniejszenie liczby stanów na wyjściu przetwornika C/A, a więc przyspieszenie procedury autokalibracji. Dodatkowo zwiększona zostaje czystość widmowa generowanego sygnału w określonym zakresie częstotliwości. W pracy rozważono wpływ: rzędu modulatora ΣΔ, długości słów wewnętrznych sygnałów modulatora oraz nieliniowości przetwornika C/A na jakość uzyskiwanego na wyjściu przebiegu. Zbadano metodę cyfrowej korekcji nieliniowości przetw. C/A.
The paper presents the concept of an AC standard voltage source based on ΔΣ modulation principle. Such kind of modulation causes decrease in number of states at the output of DAC and therefore accelerates the autocalibration procedure. Additionaly spectral purity of generated signal is increased in particular frequency range at expense of increased amount of out-of-band quantization noise, which is removed by analog lowpass filter. This work takes into consideration: influence of the order of ΔΣ modulator, word-length of internal states of the digital modulator and the influence of DAC's integral nonlinearity on the quality of generated sinusoid signal, mainly on its spectrum, and relative error of amplitude of main. A method of digital correction of DAC's nonlinearity has been examined.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9, 9; 30-33
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Modulator szerokości impulsu o dużej rozdzielczości nastawy współczynnika wypełnienia
A pulse-width modulator with high-resolution duty cycle setting
Autorzy:
Tokarski, J.
Kampik, M.
Popek, G.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/153670.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
modulacja PWM
przetwornik cyfrowo-analogowy
kalibrator
PWM modulator
digital to analog converter
calibrator
Opis:
W pracy przestawiono koncepcję i podstawowe właściwości modulatora szerokości impulsu (PWM), w którym zastosowano dodatkową modulację amplitudy fragmentu przebiegu o szerokości równej jednemu okresowi przebiegu taktującego. Celem tej modyfikacji jest zwiększenie rozdzielczości nastawy wartości współczynnika wypełnienia modulatora, pełniącego rolę przetwornika cyfowo-analogowego w wielomiarowym źródle wzorcowego napięcia stałego.
The paper presents the idea and basic properties of a pulse-width modulator (PWM) with additional amplitude modulation of the part of the signal. The width of the amplitude-modulated part is equal to one clock period. The reason of this additional modulation is to increase the resolution of setting the duty cycle of the PWM signal. The modulator is used as a digital to analog converter in an adjustable source of standard dc voltage.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 35-37
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wpływ właściwości dynamicznych przetwornika cyfrowo-analogowego na dokładność generowanego cyfrowo przebiegu sinusoidalnego
Influence of dynamic properties of a digital to analog converter on the accuracy of the digitally generated sinewave
Autorzy:
Rybski, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/153985.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
przetwornik cyfrowo-analogowy
generacja przebiegu sinusoidalnego
digital to analog converter
sinewave generation
Opis:
W oparciu o zaproponowany model matematyczny przebiegu schodkowego przeprowadzono badania symulacyjne wpływu czasu ustalania przetwornika cyfrowo-analogowego na błąd amplitudy i fazy harmonicznej podstawowej sygnału sinusoidalnego generowanego metod bezpo redniej syntezy cyfrowej.
Simulation test based on the proposed mathematical model of stepwise signal was carried out for determination of the influence of the settling time of digital to analog converter on the amplitude and phase error of fundamental harmonic of the sinusoidal signal generated using the method of direct digital synthesis.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 42-45
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Low-power open loop multiply-by-two amplifier with gain-accuracy improved by local-feedback
Autorzy:
Gama, R.
Galhardo, A.
Goes, J.
Paulino, R.
Neves, R.
Horta, N.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/397851.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
ADC
przetwornik analogowo-cyfrowy
pomnożyć przez dwa
mała moc
przepustowy czas
pozyskiwanie dokładności
ADC (analog to digital converter)
multiply by two
low power
time interleaved
gain accuracy
Opis:
This paper proposes the complete electrical design of a new multiply-by-two amplifier to be readily used in ultra high-speed medium resolution pipeline ADC stages. It is based in a switched-capacitor open-loop structure but with the novelty of having the gain accuracy improved by using an active amplifier with local feedback. Simulation results demonstrate that, with a very low-power dissipation and without employing any digital self-calibration or gain-control techniques, the circuit exhibits, over PVT corner and device mismatches, a dynamic performance and a gain-accuracy compatible with 6-bit level.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2010, 1, 1; 19-24
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Projekt kompensacyjnego przetwornika analogowo-cyfrowego dla potrzeb wielokanałowych układów w technologii submikronowej
Project of successive approximation analog-to-digital converter for multichannel circuits in submicron technology
Autorzy:
Otfinowski, P.
Zaziąbł, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/158172.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
przetwornik analogowo-cyfrowy z równoważeniem ładunku
klucze CMOS
analog-to-digital converter
charge redistribution
successive approximation
CMOS switch
Opis:
W pracy zaprezentowano projekt scalonego przetwornika analogowo-cyfrowego wykonany w technologii UMC CMOS 180nm. Przedstawiono rozwiązanie pozwalające na znaczące zmniejszenie powierzchni zajmowanej przez układ poprzez dodanie pomocniczego przetwornika C/A. Zostało przybliżone także zagadnienie odpowiedniego doboru kluczy w układach z przełączanymi pojemnościami. Ostatecznie zaprezentowany układ cechuje się szybkością konwersji wynoszącą 3 MS/s przy poborze mocy 225 žW oraz bardzo niską nieliniowością.
The dynamic progress in the domain of applications involving X rays demands more sophisticated circuits for acquisition and processing of signals from the silicon detectors. This paper presents a design of an integrated analog-to-digital converter dedicated to multichannel silicon detector readout circuits. The successive approximation with charge redistribution architecture was proposed. In order to reduce the total chip area, the DAC was split into two blocks. The capacitor array used as a primary DAC and also as a sampling circuit. As a secondary DAC, the resistive voltage divider was introduced. This solution allowed reducing the total DAC area by the factor of 6, maintaining the same output voltage accuracy. The CMOS switches are described in detail, as they play important role in the switch capacitor circuits, affecting both the speed and accuracy of the primary capacitive DAC. A synchronous regenerative latch is used as a comparator. The ADC is implemented in UMC CMOS 180nm technology. The designed ADC is able to achieve conversion rates of 3 MS/s at 225 žW. The final simulation results show also low nonlinearity of the presented circuit.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 10, 10; 1209-1212
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Software for data acquisition AMC module with PCI express interface
Autorzy:
Szachowałow, S.
Jabłoński, G.
Sakowicz, B.
Makowski, D.
Butkowski, Ł.
Koprek, W.
Simrock, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/397909.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
akcelerator liniowy
przetwornik analogowo-cyfrowy
linear accelerator
advanced mezzanine card
analog to digital converter
PCI express
Opis:
Free Electron Laser in Hamburg (FLASH) and X-Ray Free Electron Laser (XFEL) are linear accelerators that require a complex and accurate Low Level Radio Frequency (LLRF) control system. Currently working systems are based on aged Versa Module Eurocard (VME) architecture. One of the alternatives for the VME bus is the Advanced Telecommunications and Computing Architecture (ATCA) standard. The ATCA based LLRF controller mainly consists of a few ATCA carrier boards and several Advanced Mezzanine Cards (AMC). AMC modules are available in variety of functions such as: ADC, DAC, data storage, data links and even CPU cards. This paper focuses on the software that allows user to collect and plot the data from commercially available TAMC900 board.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2010, 1, 1; 95-98
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wymagania na rozdzielczość i nieliniowość przetwornika C/A dla sygnału OFDM
Autorzy:
Rudziński, A.
Kozłowski, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/317702.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
przetwornik cyfrowo-analogowy
modulacja OFDM
szum kwantyzacji
nieliniowość całkowa
nieliniowość różniczkowa
digital-to-analog converter
OFDM modulation
quantization noise
integral nonlinearity
differential nonlinearity
Opis:
Przedstawiono model analityczny, umożliwiający wyznaczenie błędów wnoszonych do sygnału OFDM w procesie przetwarzania cyfrowo-analogowego. Zaproponowano wyrażenia do oszacowania wymaganej rozdzielczości i dopuszczalnych nieliniowości przetwornika C/A, gwarantujących utrzymanie zniekształceń sygnału poniżej założonego poziomu.
Źródło:
Telekomunikacja i Techniki Informacyjne; 2010, 3-4; 78-93
1640-1549
1899-8933
Pojawia się w:
Telekomunikacja i Techniki Informacyjne
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
DAC testing using modulated signals
Autorzy:
Fexa, P.
Verdal, J.
Svatoš, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/220431.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
digital-to-analog converter
ENOB
Signal-to-noise and distortion - SINAD
FFT analysis
Crest Factor (CF)
Opis:
This document analyses qualities of methods used for testing dynamical parameters of Digital-to-Analog Converters (DAC) using a multi-frequency signal. As the source for these signals, Amplitude Modulated (AM) and Frequency Modulated (FM) signals are used. These signals are often used in radio engineering. Results of the tests, like Effective Number of Bits (ENOB), Signal-to-Noise and Distortion (SINAD), are evaluated in the frequency domain and they are compared with standard results of Sine Wave FFT test methods. The aim of this research is firstly to test whether it is possible to test a DAC using modulated signals, secondly to reduce testing time, while estimating band performance of DAC.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2011, 18, 2; 283-293
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
On the bias of terminal based gain and offset estimation using the ADC histogram test method
Autorzy:
Correa Alegria, F.
Tiglao, N. M. C.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221033.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
analog to digital converter
histogram test method
estimator bias
terminal based
gain
offset
Opis:
The Histogram Test method is a popular technique in analog-to-digital converter (ADC) testing. The presence of additive noise in the test setup or in the ADC itself can potentially affect the accuracy of the test results. In this study, we demonstrate that additive noise causes a bias in the terminal based estimation of the gain but not in the estimation of the offset. The estimation error is determined analytically as a function of the sinusoidal stimulus signal amplitude and the noise standard deviation. We derive an exact but computationally difficult expression as well as a simpler closed form approximation that provides an upper bound of the bias of the terminal based gain. The estimators are validated numerically using a Monte Carlo procedure with simulated and experimental data.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2011, 18, 1; 3-12
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Sampling Jitter in Audio A/D Converters
Autorzy:
Kulka, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/177046.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
analog-to-digital converter
ADC
successive approximation register (SAR)
sigma-delta ADC
sample-and-hold circuit
DT sigma delta modulator
CT sigma delta modulator
time jitter
aperture jitter
clock jitter
periodic clock jitter
signal-to-noise ratio (SNR)
Opis:
This paper provides an overview of the effects of timing jitter in audio sampling analog-to-digital converters (ADCs), i.e. PCM (conventional or Nyquist sampling) ADCs and sigma-delta (ΣΔ) ADCs. Jitter in a digital audio is often defined as short- term fluctuations of the sampling instants of a digital signal from their ideal positions in time. The influence of the jitter increases particularly with the improvements in both resolution and sampling rate of today’s audio ADCs. At higher frequencies of the input signals the sampling jitter becomes a dominant factor in limiting the ADCs performance in terms of signal-to-noise ratio (SNR) and dynamic range (DR).
Źródło:
Archives of Acoustics; 2011, 36, 4; 831-849
0137-5075
Pojawia się w:
Archives of Acoustics
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Prawdopodobieństwo przejścia i efektywna liczba próbek cyfrowego sygnału z multipleksacją OFDM
Transition probability and effective number of samples of a digital OFDM signal
Autorzy:
Rudziński, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/317404.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
przetwornik cyfrowo-analogowy
multipleksacja OFDM
prawdopodobieństwo przejścia
efektywna liczba próbek
digital-to-analog converter
OFDM
transition probability
effective number of samples
Opis:
W artykule przedstawiono wyprowadzenie wyrażenia opisującego efektywną liczbę próbek sygnału cyfrowego z multipleksacją OFDM. Wyprowadzenie oparte jest na obliczeniu prawdopodobieństwa przejścia dla tego sygnału. Otrzymane wyrażenie wskazuje wprost zależności między efektywną liczbą próbek a parametrami sygnału i stanowi uzupełnienie modelu teoretycznego.
This paper presents a derivation of the expression for the effective number of samples of a digital signal with OFDM coding. The derivation is based on the calculation of transition probability for the signal. The obtained expression explicitly reveals dependencies of the effective number of samples on parameters of the signal and supplements the theoretical model discussed previously.
Źródło:
Telekomunikacja i Techniki Informacyjne; 2012, 1-2; 58-66
1640-1549
1899-8933
Pojawia się w:
Telekomunikacja i Techniki Informacyjne
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Estimation and correction of gain mismatch and timing error in time-interleaved ADCs based on DFT
Autorzy:
Guo, L.
Tian, S.
Wang, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221135.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
correction
estimation
gain mismatch
time-interleaved analog-to-digital converter
timing error
Opis:
Time-interleaved analog-to-digital converter (ADC) architecture is crucial to increase the maximum sample rate. However, offset mismatch, gain mismatch, and timing error between time-interleaved channels degrade the performance of time-interleaved ADCs. This paper focuses on the gain mismatch and timing error. Techniques based on Discrete Fourier Transform (DFT) for estimating and correcting gain mismatch and timing error in an M-channel ADC are depicted. Numerical simulations are used to verify the proposed estimation and correction algorithm.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2014, 21, 3; 535-544
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
A Novel Design Of An NTC Thermistor Linearization Circuit
Autorzy:
Lukić, J.
Denić, D.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221560.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
linearization
NTC thermistor
piecewise linear flash analog-to-digital converter
serial-parallel resistive voltage divider
Opis:
A novel design of a circuit used for NTC thermistor linearization is proposed. The novelty of the proposed design consists in a specific combination of two linearization circuits, a serial-parallel resistive voltage divider and a two-stage piecewise linear analog-to-digital converter. At the output of the first linearization circuit the quasi-linear voltage is obtained. To remove the residual voltage nonlinearity, the second linearization circuit, i.e., a two-stage piecewise linear analog-to-digital converter is employed. This circuit is composed of two flash analog-to-digital converters. The first analog-to-digital converter is piecewise linear and it is actually performing the linearization, while the second analog-to-digital converter is linear and it is performing the reduction of the quantization error introduced by the first converter. After the linearization is performed, the maximal absolute value of a difference between the measured and real temperatures is 0.014°C for the temperature range between - 25 and 75°C, and 0.001°C for the temperature range between 10 and 40°C.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2015, 22, 3; 351-362
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
VHDL-Ams Model of the Integrated Membrane Micro-Accelerometer with Delta-Sigma (Δσ) Analog-To-Digital Converter for Schematic Design Level
Autorzy:
Golovatyj, А.
Teslyuk, V.
Kryvyy, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/411400.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Oddział w Lublinie PAN
Tematy:
Micro-Electro-Mechanical Systems (MEMS)
micromechanical sensitive element
integrated membrane micro-accelerometer
delta-sigma modulation
pulse width modulation (PWM)
delta-sigma analog-todigital converter (ADC)
one bit digital-to-analog converter (DAC)
VHDL-AMS hardware description language
hAMSter software
schemotechnical design level
Opis:
VHDL-Ams model of integrated membrane type micro-accelerometer with delta-sigma (ΔΣ) analog-to-digital converter for schematic design level was developed. It allows simulating movement of the sensitive element working weigh from the applied acceleration, differential capacitor and original signal capacity change, signal digitizing with the help of DeltaSigma ADC with defined micro-accelerometer structural parameters, and analyzze an integrated device at the schemotechnical design level.
Źródło:
ECONTECHMOD : An International Quarterly Journal on Economics of Technology and Modelling Processes; 2015, 4, 2; 65-70
2084-5715
Pojawia się w:
ECONTECHMOD : An International Quarterly Journal on Economics of Technology and Modelling Processes
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Input signal conditioning circuits for precision SAR analog to digital converters
Autorzy:
Barwinek, W.
Kampik, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/114260.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
SAR analog to digital converter
signal conditioning
amplifier
Opis:
The paper presents a review of the known signal conditioning circuits that may be used as a front-end of precision high-resolution successive-approximation register (SAR) analog to digital converters (ADC). The review was created while searching for the optimal signal conditioning circuit to be used with a high-resolution SAR ADC applied in a precise sampler for voltage, power, energy and impedance metrology applications.
Źródło:
Measurement Automation Monitoring; 2016, 62, 4; 129-131
2450-2855
Pojawia się w:
Measurement Automation Monitoring
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Wyświetlanie 1-15 z 21

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies