Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "analog to digital converter" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
Wyświetlanie 1-10 z 21
Tytuł:
Input signal conditioning circuits for precision SAR analog to digital converters
Autorzy:
Barwinek, W.
Kampik, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/114260.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
SAR analog to digital converter
signal conditioning
amplifier
Opis:
The paper presents a review of the known signal conditioning circuits that may be used as a front-end of precision high-resolution successive-approximation register (SAR) analog to digital converters (ADC). The review was created while searching for the optimal signal conditioning circuit to be used with a high-resolution SAR ADC applied in a precise sampler for voltage, power, energy and impedance metrology applications.
Źródło:
Measurement Automation Monitoring; 2016, 62, 4; 129-131
2450-2855
Pojawia się w:
Measurement Automation Monitoring
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Logarithmic ADC with Accumulation of Charge and Impulse Feedback : Construction, Principle of Operation and Dynamic Properties
Autorzy:
Mychuda, Zynoviy
Mychuda, Lesya
Antoniv, Uliana
Szcześniak, Adam
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2055218.pdf
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
analog-to-digital converter
analysis
construction
charge accumulation
logarithm
modeling
impulse feedback
Opis:
This article is a presentation of the analysis of new class of logarithmic analog-to-digital converter (LADC) with accumulation of charge and impulse feedback. LADC construction, principle of operation and dynamic properties were presented. They can also be part of more complex converters and systems based on LADC. LADC of this class is perspective for implementation in the form of integrated circuit, as the number of switched capacitors needed to conversion is minimized to one capacitor. (Logarithmic ADC with accumulation of charge and impulse feedback – construction, principle of operation and dynamic properties).
Źródło:
International Journal of Electronics and Telecommunications; 2021, 67, 4; 699--704
2300-1933
Pojawia się w:
International Journal of Electronics and Telecommunications
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Logarithmic ADC with Accumulation of Charge and Impulse Feedback : Analysis and Modeling
Autorzy:
Mychuda, Zynoviy
Mychuda, Lesya
Antoniv, Uliana
Szcześniak, Adam
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2055223.pdf
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
analog-to-digital converter
analysis
construction
charge accumulation
logarithm
modeling
impulse feedback
Opis:
This article is a presentation of the analysis of new class of logarithmic analog-to-digital converter (LADC) with accumulation of charge and impulse feedback. Development of mathematical models of errors, quantitative assessment of these errors taking into account modern components and assessing the accuracy of logarithmic analog-to-digital converter (LADC) with accumulation of charge and impulse feedback were presented. (Logarithmic ADC with accumulation of charge and impulse feedback – analysis and modeling).
Źródło:
International Journal of Electronics and Telecommunications; 2021, 67, 4; 705--710
2300-1933
Pojawia się w:
International Journal of Electronics and Telecommunications
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Estimation and correction of gain mismatch and timing error in time-interleaved ADCs based on DFT
Autorzy:
Guo, L.
Tian, S.
Wang, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221135.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
correction
estimation
gain mismatch
time-interleaved analog-to-digital converter
timing error
Opis:
Time-interleaved analog-to-digital converter (ADC) architecture is crucial to increase the maximum sample rate. However, offset mismatch, gain mismatch, and timing error between time-interleaved channels degrade the performance of time-interleaved ADCs. This paper focuses on the gain mismatch and timing error. Techniques based on Discrete Fourier Transform (DFT) for estimating and correcting gain mismatch and timing error in an M-channel ADC are depicted. Numerical simulations are used to verify the proposed estimation and correction algorithm.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2014, 21, 3; 535-544
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
On the bias of terminal based gain and offset estimation using the ADC histogram test method
Autorzy:
Correa Alegria, F.
Tiglao, N. M. C.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221033.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
analog to digital converter
histogram test method
estimator bias
terminal based
gain
offset
Opis:
The Histogram Test method is a popular technique in analog-to-digital converter (ADC) testing. The presence of additive noise in the test setup or in the ADC itself can potentially affect the accuracy of the test results. In this study, we demonstrate that additive noise causes a bias in the terminal based estimation of the gain but not in the estimation of the offset. The estimation error is determined analytically as a function of the sinusoidal stimulus signal amplitude and the noise standard deviation. We derive an exact but computationally difficult expression as well as a simpler closed form approximation that provides an upper bound of the bias of the terminal based gain. The estimators are validated numerically using a Monte Carlo procedure with simulated and experimental data.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2011, 18, 1; 3-12
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
A Novel Design Of An NTC Thermistor Linearization Circuit
Autorzy:
Lukić, J.
Denić, D.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221560.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
linearization
NTC thermistor
piecewise linear flash analog-to-digital converter
serial-parallel resistive voltage divider
Opis:
A novel design of a circuit used for NTC thermistor linearization is proposed. The novelty of the proposed design consists in a specific combination of two linearization circuits, a serial-parallel resistive voltage divider and a two-stage piecewise linear analog-to-digital converter. At the output of the first linearization circuit the quasi-linear voltage is obtained. To remove the residual voltage nonlinearity, the second linearization circuit, i.e., a two-stage piecewise linear analog-to-digital converter is employed. This circuit is composed of two flash analog-to-digital converters. The first analog-to-digital converter is piecewise linear and it is actually performing the linearization, while the second analog-to-digital converter is linear and it is performing the reduction of the quantization error introduced by the first converter. After the linearization is performed, the maximal absolute value of a difference between the measured and real temperatures is 0.014°C for the temperature range between - 25 and 75°C, and 0.001°C for the temperature range between 10 and 40°C.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2015, 22, 3; 351-362
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Software for data acquisition AMC module with PCI express interface
Autorzy:
Szachowałow, S.
Jabłoński, G.
Sakowicz, B.
Makowski, D.
Butkowski, Ł.
Koprek, W.
Simrock, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/397909.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
akcelerator liniowy
przetwornik analogowo-cyfrowy
linear accelerator
advanced mezzanine card
analog to digital converter
PCI express
Opis:
Free Electron Laser in Hamburg (FLASH) and X-Ray Free Electron Laser (XFEL) are linear accelerators that require a complex and accurate Low Level Radio Frequency (LLRF) control system. Currently working systems are based on aged Versa Module Eurocard (VME) architecture. One of the alternatives for the VME bus is the Advanced Telecommunications and Computing Architecture (ATCA) standard. The ATCA based LLRF controller mainly consists of a few ATCA carrier boards and several Advanced Mezzanine Cards (AMC). AMC modules are available in variety of functions such as: ADC, DAC, data storage, data links and even CPU cards. This paper focuses on the software that allows user to collect and plot the data from commercially available TAMC900 board.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2010, 1, 1; 95-98
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Analiza logarytmicznego analogowo-cyfrowego przetwornika z sukcesywną aproksymacją z uwzględnieniem pasożytniczych pojemności
Analysis of logarithmic analog-to-digital converter with successive approximation taking into account parasitic capacitances
Autorzy:
Szcześniak, A.
Myczuda, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/408621.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
Tematy:
przetwornik analogowo-cyfrowy
logarytm
aproksymacja
podział
ładunek
dokładność
analog-to-digital converter
logarithm
approximation
division
charge
accuracy
Opis:
W artykule przedstawiono analizę logarytmicznego analogowo-cyfrowego przetwornika (LPAC) z sukcesywną aproksymacją z uwzględnieniem pasożytniczych pojemności przetwornika. Dla założonych parametrów struktury przetwornika przeprowadzono analizę matematyczną przy wybranych pojemnościach kondensatorów akumulujących. Określono kryterium, jakie powinno się stosować przy doborze pojemności kondensatorów akumulujących.
This article is a presentation of analysis of logarithmic analog-to-digital converter (LADC) with successive approximation taking into account parasitic capacitances of the converter. For the assumed parameters of converter structure, mathematical analysis with chosen capacitances of accumulative capacitors has been conducted. A criterion for choosing capacitances of accumulative capacitors has been determined.
Źródło:
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2017, 7, 2; 110-114
2083-0157
2391-6761
Pojawia się w:
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Projekt kompensacyjnego przetwornika analogowo-cyfrowego dla potrzeb wielokanałowych układów w technologii submikronowej
Project of successive approximation analog-to-digital converter for multichannel circuits in submicron technology
Autorzy:
Otfinowski, P.
Zaziąbł, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/158172.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
przetwornik analogowo-cyfrowy z równoważeniem ładunku
klucze CMOS
analog-to-digital converter
charge redistribution
successive approximation
CMOS switch
Opis:
W pracy zaprezentowano projekt scalonego przetwornika analogowo-cyfrowego wykonany w technologii UMC CMOS 180nm. Przedstawiono rozwiązanie pozwalające na znaczące zmniejszenie powierzchni zajmowanej przez układ poprzez dodanie pomocniczego przetwornika C/A. Zostało przybliżone także zagadnienie odpowiedniego doboru kluczy w układach z przełączanymi pojemnościami. Ostatecznie zaprezentowany układ cechuje się szybkością konwersji wynoszącą 3 MS/s przy poborze mocy 225 žW oraz bardzo niską nieliniowością.
The dynamic progress in the domain of applications involving X rays demands more sophisticated circuits for acquisition and processing of signals from the silicon detectors. This paper presents a design of an integrated analog-to-digital converter dedicated to multichannel silicon detector readout circuits. The successive approximation with charge redistribution architecture was proposed. In order to reduce the total chip area, the DAC was split into two blocks. The capacitor array used as a primary DAC and also as a sampling circuit. As a secondary DAC, the resistive voltage divider was introduced. This solution allowed reducing the total DAC area by the factor of 6, maintaining the same output voltage accuracy. The CMOS switches are described in detail, as they play important role in the switch capacitor circuits, affecting both the speed and accuracy of the primary capacitive DAC. A synchronous regenerative latch is used as a comparator. The ADC is implemented in UMC CMOS 180nm technology. The designed ADC is able to achieve conversion rates of 3 MS/s at 225 žW. The final simulation results show also low nonlinearity of the presented circuit.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 10, 10; 1209-1212
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Disassembly-free metrological control of analog-to-digital converter parameters
Autorzy:
Bubela, Tetiana
Kochan, Roman
Więcław, Łukasz
Yatsuk, Vasyl
Kuts, Victor
Yatsuk, Jurij
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2173896.pdf
Data publikacji:
2022
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
metrological support
analog-to-digital converter
non-disassembly control
cyber-physical system
nonlinearity
additive component of error
ACE
multiplicative component of error
Opis:
The authors update the issue disassembly-free control and correction of all components of the error of measuring channels with multi-bit analog-to-digital converters (ADCs). The main disadvantages of existing methods for automatic control of the parameters of multi-bit ADCs, in particular their nonlinearity, are identified. Methods for minimizing instrumental errors and errors caused by limited internal resistances of closed switches, input and output resistances of active elements are investigated. The structures of devices for determining the multiplicative and nonlinear components of the error of multi-bit ADCs based on resistive dividers built on single-nominal resistors are proposed and analyzed. The authors propose a method for the correction of additive, multiplicative and nonlinear components of the error at each of the specified points of the conversion range during non-disassembly control of the ADC with both types of inputs. The possibility of non-disassembly control, as well as correction of multiplicative and nonlinear components of the error of multi-bit ADCs in the entire range of conversion during their on-site control is proven. ADC error correction procedures are proposed. These procedures are practically invariant to the non-informative parameters of active structures with resistive dividers composed of single-nominal resistors. In the article the prospects of practical implementation of the method of error correction during non-dismantling control of ADC parameters using the possibilities provided by modern microelectronic components are shown. The ways to minimize errors are proposed and the requirements to the choice of element parameters for the implementation of the proposed technical solutions are given. It is proved that the proposed structure can be used for non-disassembly control of multiplicative and nonlinear components of the error of precision instrumentation amplifiers.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2022, 29, 4; 669--684
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Wyświetlanie 1-10 z 21

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies