Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "VP-SEM" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Monte Carlo study of the interaction volume changes by the beam skirt in VP-SEM
Autorzy:
El Azzouzi, M.
Khouchaf, L.
Achahbar, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1052582.pdf
Data publikacji:
2017-10
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
VP-SEM
skirt
interaction volume
high vacuum
low vacuum
Monte Carlo simulation
Opis:
In this work we present a new contribution for tracking the behavior of electron beam in gas and then in material placed in the chamber of a variable pressure scanning electron microscope using Monte Carlo simulation. Firstly our results for width and depth of interaction volume in high vacuum mode are compared and are consistent with those obtained by several relationships present in literature. Carbon and aluminum are considered as examples in order to establish the reliability of our approach and experimental data available from the literature. Then, we compared the evolution of width in both high (Re_{(HV)}) and low (Re_{(LV)}) vacuum modes with enlargement of skirt (R_{s}). The present work demonstrates that the best resolution conditions for energy, pressure and material, is given by R_{s}=Re_{(HV)}. Finally, the energy that must be used to get the best image resolution for given pressure and material is determined.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2017, 132, 4; 1393-1398
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies