Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "UV detectors" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-4 z 4
    Tytuł:
    Pomiary charakterystyk szumowych jako narzędzie diagnostyczne detektorów UV
    Noise characteristic measurement as a tool for UV detectors diagnostic
    Autorzy:
    Ćwirko, J.
    Ćwirko, R.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/327504.pdf
    Data publikacji:
    2006
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej PAN
    Tematy:
    detektor UV
    GaN
    AlGaN
    szumy niskoczęstotliwościowe
    UV detectors
    low-frequency noise
    Opis:
    W artykule przedstawiono zastosowanie analizy niskoczęstotliwościowych charakterystyk szumowych do diagnostyki detektorów UV. Ze względu na zakres widmowy detektory UV są wykonywane z materiałów o szerokiej przerwie zabronionej, głównie z GaN, AlN, SiC. Detektory UV są głównie stosowane w automatyce przemysłowej, robotyce, medycynie, systemach ochrony środowiska i technologiach militarnych. Charakterystyki szumowe detektorów były mierzone w szerokim zakresie temperatury (80 K - 350 K) oraz w funkcji napięcia polaryzacji. Analiza charakterystyk szumowych umożliwia wybranie optymalnego punktu pracy detektora ze względu na stosunek sygnału użytecznego do szumu oraz pozwala prognozować jego niezawodność.
    The work is aimed on analyze the low frequency noise characteristics of UV detectors. UV detectors are manufactured from wide band gap materials as GaN, AlGaN, SiC. The most important fields of UV detectors applications are industrial automation, robotics, space technology, medicine, military technology and solar ultraviolet measurements. The noise characteristics of UV detectors were measurement in wide temperature range (from 80 K to 350 K) and as function of polarization. The investigation results should be allowed to optimize the UV detection system providing maximal value of signal-to-noise ratio, selection of the optimal working point and estimate reliability of detectors UV.
    Źródło:
    Diagnostyka; 2006, 4(40); 199-202
    1641-6414
    2449-5220
    Pojawia się w:
    Diagnostyka
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Rozszerzona diagnostyka półprzewodnikowych detektorów UV
    Extended diagnostics of semiconductor UV detectors
    Autorzy:
    Ćwirko, J.
    Ćwirko, R.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/210354.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
    Tematy:
    optoelektronika
    półprzewodnikowe detektory UV
    charakterystyki widmowe
    optoelectronic
    semiconductors UV detectors
    spectral characteristics
    Opis:
    Artykuł przedstawia wybrane zagadnienia diagnostyki detektorów UV. Przy wyborze detektorów UV do konkretnej aplikacji należy uwzględnić, że ich parametry optyczne i elektryczne mogą się zmieniać w znacznym stopniu podczas eksploatacji. Najczęstszymi źródłami tych procesów jest długoczasowe narażenie struktury półprzewodnikowej detektora UV na wpływ silnego promie¬niowania termicznego lub/i optycznego. Na podstawie przeprowadzonych eksperymentalnych badań różnych typów detektorów półprzewodnikowych opracowano metodykę ich diagnostyki. Pierwszym etapem jest pomiar charakterystyk widmowych i szumowych detektorów w temperaturze otoczenia. Pomiary mają na celu sprawdzenie i ewentualne odrzucenie detektorów, które nie spełniają wymagań danej aplikacji. Kolejnym etapem jest pomiar charakterystyk widmowych w szerokim zakresie temperatur dodatnich, a następnie w zakresie kriogenicznych zmian temperatury. Detektory, które są przewidywane do zastosowań w sprzęcie eksploatowanym w ekstremalnych warunkach (np. wysoka temperatura, duże natężenie naturalnego promieniowania ultrafioletowego), powinny podlegać w ramach diagnostyki badaniom długoczasowym. Badania te obejmują wygrzewanie w podwyższonej temperaturze oraz badanie wpływu długotrwałych pobudzeń optycznych. Opracowane procedury diagnostyki umożliwiają uzyskanie dodatkowych, pozakatalogowych informacji w aspekcie eksploatacji detektorów UV w ekstremalnych warunkach.
    The article presents selected issues of UV detectors’ diagnostics. When choosing the UV detector to a specific application, one should take into account that their optical and electrical parameters can vary significantly during operation. The most common sources of these processes are long term exposure of semiconductor structure of UV detector to the impact of thermal and/ or optical radiation. On the basis of experimental studies of different types of semiconductor UV detectors, the methodology of their characterization has been developed. The first step is to measure spectral characteristics of the noise detector at ambient temperature. Measurements are aimed at checking and possible rejection of detectors that do not meet the requirements of the application. The next step is to measure spectral characteristics in a wide temperature range of positive and cryogenic temperatures’ changes. Detectors that are expected to be used in equipment operated in extreme conditions (eg. high temperature, high levels of natural ultraviolet), should be examined in the context of long-time diagnostics. These tests include annealing at elevated temperatures and long-term study of the effects of optical excitation. The developed diagnostic procedures allow us to obtain additional data, beyond the catalogue data, in terms of UV detectors operating in extreme conditions. On the other hand, studies on long term forecast ensure long-term reliability of detectors.
    Źródło:
    Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej; 2016, 65, 2; 53-65
    1234-5865
    Pojawia się w:
    Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    System do pomiarów charakterystyk widmowych detektorów promieniowania optycznego w szerokim zakresie temperatury
    A system for measurement spectral characteristics in wide temperature range
    Autorzy:
    Ćwirko, R.
    Ćwirko, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/210569.pdf
    Data publikacji:
    2009
    Wydawca:
    Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
    Tematy:
    system pomiarowy
    detektory UV
    detektory VIS
    detektory IR
    pomiary fazoczułe
    pomiary kriogeniczne
    charakterystyki widmowe fotodetektorów
    measurement system
    UV detectors
    VIS detectors
    IR detectors
    lock-in detection
    cryogenic mesurements
    spectral response of photodetectors
    Opis:
    W artykule przedstawiono zaprojektowany i wykonany w Wojskowej Akademii Technicznej (WAT) system do pomiarów charakterystyk widmowych detektorów promieniowania optycznego UV, VIS i IR w szerokim zakresie temperatury od 10 K do 450 K. System pomiarowy umożliwia także badanie wpływu temperatury na charakterystyki szumowe detektorów.
    The paper presents an integrated system, developed at the Military University of Technology (MUT), used for measurements of spectral characteristic of UV, VIS, and IR detectors. The setup provides also the possibility of noise measurements in a wide temperature range - from 10 K to 450 K.
    Źródło:
    Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej; 2009, 58, 2; 407-417
    1234-5865
    Pojawia się w:
    Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Comparative Tests of Temperature Effects on the Performance of Gan and Sic Photodiodes
    Autorzy:
    Ćwirko, J.
    Ćwirko, R.
    Mikołajczyk, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/221315.pdf
    Data publikacji:
    2015
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    optical detectors
    UV radiation
    photodiode
    GaN detector
    SiC detector
    Opis:
    The paper presents a study of the performance of some selected UV detectors. Unlike many similar works, the obtained data refer to commercial photodiodes (not only to detector materials). The main task of the research was to determine the influence of the operating temperature and annealing on the detector spectral responsiveness. A comparison of the results obtained for the photodiodes made of GaN and SiC was also performed. Although both kinds of detectors can work at high temperatures for a long time, some modification of their properties was observed. However, for GaN and SiC photodiodes, this modification has a substantially different nature. It is very important for some applications, e.g. fire alarms and a military equipment.
    Źródło:
    Metrology and Measurement Systems; 2015, 22, 1; 119-126
    0860-8229
    Pojawia się w:
    Metrology and Measurement Systems
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-4 z 4

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies