Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Mikrokontrolery" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów

Dostawca treści

Podbaza

Wyrównaj
Wyświetlanie 1-15 z 29
Tytuł:
Wykorzystanie logiki rozmytej do diagnostyki uszkodzeń części analogowych w elektronicznych systemach wbudowanych
Application of fuzzy logic to fault diagnosis of analog parts in electronic embedded systems
Autorzy:
Czaja, Z.
Załęski, D.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/157610.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
diagnostyka uszkodzeń
BIST
logika rozmyta
mikrokontrolery
elektroniczne systemy wbudowane
fault diagnosis
fuzzy logic
microcontrollers
electronic embedded systems
Opis:
W pracy przedstawiono nowe podejście zastosowania modelowania rozmytego do diagnostyki uszkodzeń części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych mieszanych sygnałowo przy wykorzystaniu środków programowych i sprzętowych mikrokontrolera sterującego systemem. Zaprezentowano sposób tworzenia słownika uszkodzeń, najważniejsze parametry rozmytych modeli detekcji i lokalizacji uszkodzeń oraz opis działania programowego procesora logiki rozmytej.
This paper presents employing the fuzzy modeling for faults diagnostic in analog parts of electronic mixed-signal embedded systems utilizing soft and hardware resources of microcontrollers that control these systems. The article introduces additionally the way of creating the fault dictionary, characterizes main parameters of fuzzy faults detection and localisation models and describes the manner of operating on the fuzzy soft decision processor.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 735-738
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wielozadaniowy pojazd sterowany cyfrowo
Multi-purpose digitally controlled vehicle
Autorzy:
Górski, K.
Noga, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/268317.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
Tematy:
pojazd zdalnie sterowany
układy programowalne
mikrokontrolery
remote controlled vehicle
programmable logic devices
microcontroller
Opis:
W artykule przedstawiono pojazd zdalnie sterowany, który zbudowano w KAO w Gdyni. W pojeździe wykorzystano układ CPLD EMP7128SLC84-15N oraz 2 mikrokontrolery ATMega8-16PV, przy czym CPLD wykorzystano do sterowania silnikami i światłami, natomiast mikrokontroler do obsługi modemów radiowych i dokonywania pomiarów. Pojazd wyposażono w światła, czujnik mierzący temperaturę otoczenia oraz w zbliżeniowy czujnik ultradźwiękowy. Ponadto pojazd zawiera kamerę z nadajnikiem TV.
The digitally controlled vehicle, which was built in Department of Ship Automation of Gdynia Maritime University, has been presented in this article. The design of the vehicle consists of the integrated circuit type CPLD EMP7128SLC84-15N and two microcontrollers ATMega8-16PV. The CPLD is used for controlling of motors and lights; however, the microcontroller attends the wireless modem and performs measurements. The vehicle is fitted out with lights, a sensor gauging ambient temperature, a camera with a RF transmitter and a proximity ultrasonic detector.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2009, 26; 49-52
1425-5766
2353-1290
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The use of a microcontrollers in hygrometric measurements application
Wykorzystanie mikrokontrolera w budowie higrometru aspiracyjnego
Autorzy:
Bogdanowicz, Artur.
Powiązania:
Scientific Journal of Polish Naval Academy 2020, nr 1/2, s. 47-57
Współwytwórcy:
Zacharewicz, Marcin. Autor
Król, Jakub (budowa i eksploatacja maszyn). Autor
Data publikacji:
2020
Tematy:
Higrometr
Mikrokontrolery
Pomoce dydaktyczne
Artykuł z czasopisma naukowego
Artykuł z czasopisma wojskowego
Raport z badań
Opis:
W artykule przedstawiono możliwość wykorzystania systemów mikrokontrolerów jako jednego z elementów stanowiska dydaktycznego do badania poziomu wilgotności powietrza. Do budowy tego systemu mikrokontrolerów wykorzystano moduł Arduino Mega oparty na mikrokontrolerze ATMega 2560 z rodziny AVR. Prototyp ten, początkowo opracowano za pomocą komputerowego programu do projektowania 2D i 3D AutoCAD, a następnie wydrukowano na drukarce 3D oraz zamontowano higrometr. Następnie porównano działanie nowo stworzonego systemu i higrometru do urządzeń starszego typu, będących na stanie laboratorium.
Bibliografia, netografia na stronie 56.
Dostawca treści:
Bibliografia CBW
Artykuł
Tytuł:
Symulacja błędów przemijających w mikrokontrolerze satelitarnym
Transient fault simulation in a satellite microcontroller
Autorzy:
Iwiński, M.
Sosnowski, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/155157.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
systemy wbudowane
mikrokontrolery
symulacja błędów
niezawodność
embedded systems
microcontrollers
fault simulation
reliability
Opis:
W wielu zastosowaniach mikrokontrolerów należy brać pod uwagę wpływ na ich pracę błędów przemijających (zakłócenia elektromagnetyczne, promieniowanie kosmiczne itp.). Artykuł przedstawia metodę badania odporności na błędy przemijające w mikrokontrolerach. Bazuje ona na opracowanej platformie symulatora sprzężonego z obiektem badanym poprzez interfejs RS232C. Technika ta została zweryfikowana w badaniu mikrokon-trolera przeznaczonego do sterowania zasilaniem pokładowym satelity. W artykule przedstawiono wyniki eksperymentów oraz wskazano możliwości programowego zwiększania odporności na błędy.
In many microcontroller applications the impact of transient faults (electromagnetic disturbances, cosmic radiation, etc.) on their operation has to be taken into account. The paper presents a new methodology of testing transient fault robustness in microcontrollers. It is based on the developed fault injection platform which is coupled to the tested object via RS 232C interface. A tested object (microcontroller) cooperates with real or modelled environment (partially controlled by a simulator). This technique has been successfully applied to testing a microcontroller used for managing the satellite on-board power subsystem (solar cells, batteries, power accumulation and distribution), Many transient fault simulation experiments have been performed and their results interpreted. In particular, there has been analysed the impact of faults on correct control flow of the program. Some simple fault detection and error recovery mechanisms have been included in the considerations. The presented methodology can be easily extended for other microcontrollers and communication interfaces. Time and code overheads are negligible so the simulation results are quite realistic.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 8, 8; 822-824
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Rodzina MSP - energooszczędne, 16-bitowe mikrokontrolery RISC do zastosowań przemysłowych
MSP family - power-saving, 16-bits RISC microcontrollers for industrial use
Autorzy:
Gurbiel, M.
Penczek, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/320293.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydawnictwo AGH
Tematy:
sterowanie cyfrowe
mikrokontrolery o niskim zużyciu energii elektrycznej
digital control
Iow power microcontrollers
Opis:
Ze wzglądu na zalew rynku przez wszelkiego rodzaju bateryjnie zasilane urządzenia przenośne, w ostatnich kilku latach pojawiło się zapotrzebowanie na układy mikroprocesorowe, które, przy zachowaniu dużej wydajności obliczeniowej, cechuje niskie zużycie energii elektrycznej. Kryteria te spełniają 16-bitowe, stałoprzecinkowe mikrokontrolery RISC z rodziny MSP (Teras Instruments). W artykule przedstawiono opis rodziny mikrokontrolerów MSP, kładąc szczególny nacisk na mechanizmy pozwalające na ograniczenie zużycia energii oraz na moduły peryferyjne (przetworniki A/C, C/A, układy zegarowo-licznikowe, układy komunikacji I/O, moduł DMA). Ponadto zaprezentowano narzędzia pozwalające na programowanie, testowanie i uruchamianie aplikacji z procesorami MSP. W ostatniej części artykułu przedstawiono opis stanowiska laboratoryjnego " Układ do pozyskiwania energii elektrycznej z ogniw fotowoltaicznych" ze sterownikiem cyfrowym zrealizowanym na bazie mikrokontrolera MSP430F1232IDW.
In the recent years a demand for highly efficient and energy-saving microprocessor devices has risen because of rising popularity of mobile devices and other battery-operated devices. These reąuirements are fulfilled by 16-bit, fixed-point RISC microcontrollers of MSP Texas Instruments family. MSP family is described in the article and a method for limiting of power consumption and a description of peripheral modules are taken into special consideration. Additionally programming, debugging and testing tools for program development are shown. At the end of the article the device for gaining electrical energy from solar cells with microcontroller MSP430F1232IDW is presented.
Źródło:
Elektrotechnika i Elektronika; 2007, 26, 1--2; 30-36
1640-7202
Pojawia się w:
Elektrotechnika i Elektronika
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Realizacja samo-testowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A
Realization of self-testing of analog parts of electronic embedded systems based on XMEGA A family microcontrollers
Autorzy:
Czaja, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/157716.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
mikrokontrolery
przetworniki A/C
samotestowanie
układy BIST
microcontrollers
ADCs
self-testing
measurement
BISTs
Opis:
Przedstawiono mikrosystem pomiarowy zbudowany z zasobów sprzętowych mikrokontrolera ATXmega32A4 pełniący funkcję układu testera wbudowanego przeznaczonego do samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych. Samotestowanie opiera się na metodzie diagnostycznej, w której układ badany pobudzany jest impulsem prostokątnym, a jego odpowiedź czasowa próbkowana przez przetwornik A/C mikrokontrolera. Licznik mikrokontrolera ustala czas trwania impulsu oraz momenty próbkowania.
A measurement microsystem based on hardware resources of the ATXmega32A4 microcontroller working as a BIST (Built-in Self Tester) used for self-testing of analog parts of embedded electronic systems is presented in the paper. Self-testing is based on the fault method [5], in which a tested analog part is stimulated by a single square pulse and its time response is sampled K times (K = 3) by the ADC (Analog to Digital Converter) (Fig. 1). A microcontroller timer determines the duration time of the square pulse and sets the sample moments of the ADC. The self-testing approach consists of: the pre-testing stage of fault dictionary creation (the fault dictionary has the form of a family of identification curves (Fig. 2)), the measurement procedure and the fault classification procedure. The proposed BIST consists of one timer working in the Compare Mode, an event system and a 12-bit ADC of the microcontroller (Fig. 3). The events generated by channels CHA, CHB and CHC compare matches of the timer are routed via the event system to the ADC (Fig. 7). They trigger measurements on three ADC channels CH0, CH1 and CH2 adequately (Fig. 4). The channel CHD compare match event is used to set up the duration time of the stimulant pulse. The BIST works according to the measurement procedure whose timing is shown in Fig. 5 and the algorithm in Fig. 6. The main advantages of the presented solution are better BIST parameters and the simpler measurement algorithm in comparison to the previous solutions [5-7].
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2013, R. 59, nr 4, 4; 368-371
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Przegląd rozwiązań stanowisk laboratoryjnych stosowanych podczas nauki zdalnej
Overview of the Laboratory Workstation Solutions Used during Remote Learning
Autorzy:
Raczyński, Michał
Biedka, Andrzej
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2203476.pdf
Data publikacji:
2023
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
Tematy:
nauka zdalna
układy elektroniczne
systemy wbudowane
mikrokontrolery
remote teaching
electronic circuits
embedded systems
microcontrollers
Opis:
W artykule zaprezentowano szereg praktycznych rozwiązań, które zastosowano by przekształcić stacjonarne stanowiska laboratoryjne (stosowane w ramach dydaktyki szeroko rozumianej elektroniki analogowej, cyfrowej oraz techniki mikroprocesorowej i systemów wbudowanych) do nauki zdalnej. Zastosowane rozwiązania umożliwiły pracę w warunkach możliwie najbardziej zbliżonych do standardowych zajęć stacjonarnych - z wykorzystaniem rzeczywistych układów i przyrządów pomiarowych, a nie jedynie symulacji komputerowej. Przykłady uruchomionych stanowisk laboratoryjnych to: obsługa silnika krokowego, generowanie sygnału PWM, obsługa elementów stykowych, obsługa magistral SPI i I2C, badanie parametrów dynamicznych bramek logicznych, badanie filtrów aktywnych, badanie parametrów dynamicznych klucza tranzystorowego. Cechą charakterystyczną opisanych rozwiązań jest niski nakład kosztów oraz możliwość szybkiego dostosowania stanowiska stacjonarnego do pracy zdalnej i odwrotnie, co było szczególnie istotne w warunkach pandemii koronawirusa w ostatnich latach i dynamicznych zmian formy zajęć (czasami z tygodnia na tydzień). Zaprezentowany zbiór opisów stanowisk laboratoryjnych może być szczególnie przydatny dla pracowników prowadzących zajęcia na uczelniach technicznych, gdzie kwestia przekazania studentom praktycznych umiejętności jest kluczowa.
The paper presents some practical solutions that have been used to convert stationary laboratory workstations (used in the teaching of analog and digital electronics, microcontroller programming and embedded systems) to remote learning. The presented solutions enabled students to work in conditions similar to standard teaching in classroom - using real circuits and measuring instruments. Examples of the laboratory workstations are: stepper motor control, generation of a PWM signal, reading information from switches, using SPI and I2C buses, measuring of dynamic parameters of logic gates, measuring of active filters, measuring of dynamic parameters of a transistor switch. A characteristic feature of the described solutions is the low cost and the possibility of quickly adapting the stationary workstation to remote work (and vice-versa), which was particularly important under the conditions of the coronavirus pandemic in recent years and dynamic changes in the form of teaching method. The presented ideas can be useful for teachers working at technical universities, where the issue of providing practical skills to students is crucial.
Źródło:
Pomiary Automatyka Robotyka; 2023, 27, 1; 99--110
1427-9126
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Robotyka
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Porównanie wydajności wysokopoziomowych języków programowania w systemach mikroprocesorowych
Comparison of high-level programming languages efficiency in embedded systems
Autorzy:
Choroszucho, Agnieszka
Golonko, Piotr
Sumorek, Mateusz
Żukowski, Jakub
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/376280.pdf
Data publikacji:
2019
Wydawca:
Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Tematy:
mikrokontrolery
C/C++
Python
Arduino
ESP32
ESP8266
Opis:
Prowadzenie prac naukowych, zwłaszcza z dziedzin technicznych często związane jest z koniecznością wykonania prototypu urządzenia lub potrzebnych przyrządów. W takich przypadkach często wykorzystuje się rozwiązania oparte na mikrokontrolerach. Wybór samej platformy sprzętowej, jak również programistycznej decyduje o sukcesie projektu oraz pozwala zaoszczędzić czas. W artykule przedstawiono wyniki badań dotyczące trzech platform opartych o różne modele mikrokontrolerów oraz zastosowane dwa języki programowania (C/C++ oraz nowe rozwiązanie bazujące na języku Python). Do analizy wydajności języków programowania wybrano zagadnienia bazujące na procedurach matematycznych mających zastosowanie w sterowaniu, analizie i automatyce. Wyniki badań pozwolą wpłynąć na właściwy dobór optymalnej platformy sprzętowej oraz języka programowania przy uwzględnieniu planowanego zastosowania i zapotrzebowania na moc obliczeniową.
Conducting research, especially in technical field often binds with necessity of making device prototype or specialized tools. In such situations microcontroller-based solutions are often used. Choice of development platform and software environment decides about success of project or allows saving significant amount of time. In article have been tested 3 common development platforms based on different microcontrollers and two high-level programming languages, C/C++ and new solution based on Python. Chosen testing process is based on mathematical procedures used in control, analysis and automation. Results of research should allow to selection of optimal hardware platform as well programming language according to planned use and requested computing power.
Źródło:
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering; 2019, 99; 157-165
1897-0737
Pojawia się w:
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Odbiornik radiowy sterowany komputerowo
Computer controlled radio receiver
Autorzy:
Szymenderski, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/376951.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Tematy:
radio definiowane programowo
mikrokontrolery
programowanie
projektowanie układów elektronicznych
Opis:
W pracy omówiono układ fizyczny odbiornika radiowego, którego zadaniem jest dopasowanie częstotliwości radiowych z zakresu od 0 do 30 MHz do możliwości przetworzenia ich na sygnał dyskretny przez przetwornik analogowo-cyfrowy będący standardowym wyposażeniem każdej karty dźwiękowej komputera klasy PC lub laptop. Przekształcenie częstotliwości pozwala na odbiór sygnałów radiowych modulowanych w różnych standardach przy pomocy komputera oraz odpowiedniej aplikacji przetwarzającej sygnały radiowe.
The paper discusses the physical system radio receiver, whose task is to adjust radio frequencies range from 0 to 30 MHz for the possibility of processing them into discrete signal by the analog-digital converter which is standard equipment on every sound card of a PC or laptop. The transformation frequency allows the reception of radio signals modulated in various standards using a computer and the appropriate application processing radio signals.
Źródło:
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering; 2014, 80; 55-62
1897-0737
Pojawia się w:
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Nowe zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania elektronicznych systemów wbudowanych
The new application of shape-designed complementary signals for diagnostic of electronic embedded systems
Autorzy:
Załęski, D.
Bartosiński, B.
Zielonko, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/151489.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
testowanie
elektroniczne systemy wbudowane
sygnały komplementarne
projektowanie kształtu sygnału
mikrokontrolery
testing
electronic embedded systems
complementary signals
shape design of signals
microcontrollers
Opis:
W pracy przedstawiono koncepcję zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych, za pomocą BISTów wykorzystujących ograniczone środki mikrokontrolera sterującego. Istotą metody jest pobudzanie układu testowanego sygnałem komplementarnym o specjalnie zaprojektowanym kształcie, którego parametry są dopasowane do nominalnych położeń biegunów transmitancji układu. Wyzerowanie sygnału odpowiedzi w określonym przedziale czasu po zakończeniu pobudzenia świadczy o sprawności układu. Zaprezentowano wyniki badań symulacyjnych oraz weryfikacji praktycznej metody na przykładzie dolnoprzepustowego filtru 2 i 4 rzędu.
The article presents the idea of using the shape-designed complementary signals for testing analog parts of electronic mixed-signal embedded systems employing limited resources of microcontroller that controls the system. The essence of the proposed method is stimulation of Circuit Under Test (CUT) with particular shape-designed complementary signal which parameters are matched to the nominal position of circuit transmittance poles. Vanishing the CUT response in time and after the moment of finishing the stimulation indicates absence of faults. The paper presents results of simulation researches and practical verification of the method on examples of 2nd and 4th order low-pass filters.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 739-742
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Niestandardowy sposób wymiany danych w hierarchicznym systemie sterowania dla orientowanych ogniw słonecznych
Non-standard method for data exchange in the hierarchical control system for oriented PV
Autorzy:
Oprzędkiewicz, K.
Szumlański, K.
Szejki, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/276218.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
Tematy:
systemy SCADA
mikrokontrolery
orientowane ogniwa słoneczne
SCADA systems
microcontrollers
oriented PV systems
Opis:
W pracy zaprezentowano system wymiany danych między aplikacją SCADA i mikrokontrolerowym sterownikiem zespołu orientowanych ogniw słonecznych. Aplikacja SCADA została przygotowana w środowisku Wonderware InTouch, sterownik został zbudowany na mikrokontrolerze STM-32L. Opracowany system wymiany danych zawiera dedykowany driver komunikacyjny oraz bazę danych. Wykonane testy wykazały poprawność zaproponowanych rozwiązań. Zaproponowane rozwiązania mogą znaleźć zastosowanie w każdej sytuacji, gdy korzystne jest połączenie aplikacji SCADA z mikrokontrolerem.
In the paper a data exchange system between SCADA application and microcontroller-based controller for oriented PV system is presented. The SCADA application was built with the use of Wonderware InTouch, the controller was constructed with the use of STM-32L microcontroller. The data exchange system contains dedicated communication driver and a database. After tests it turn out, that all proposed solutions were proper and the system runs correctly. The proposed solutions can be applied in each situation, when a microcontroller-based control unit is applied.
Źródło:
Pomiary Automatyka Robotyka; 2013, 17, 2; 66-70
1427-9126
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Robotyka
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
Fault localization in analog parts of embedded electronic systems taking into account tolerances of elements
Autorzy:
Czaja, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/153112.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
detekcja i lokalizacja uszkodzeń
samotestowanie
BIST
elektroniczne systemy wbudowane
mikrokontrolery
fault detection and localization
self-testing
electronic embedded systems
microcontrollers
Opis:
W artykule przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń parametrycznych elementów pasywnych w częściach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację uszkodzeń w układach z tolerancjami. W części pomiarowej metody badany układ pobudzany jest impulsem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny przetwornik A/C mikrokontrolera. Następnie mikrokontroler wykonuje detekcję i lokalizację uszkodzeń opierając się na algorytmie bazującym na słowniku uszkodzeń, wygenerowanym na podstawie rodziny pasów lokalizacyjnych opisującej właściwości układu badanego.
In the paper the new method of soft fault detection and localisation of passive elements in analog parts of electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. The method enables to detect and to localize faults in circuits with tolerances. In the measurement part of the method the tested circuit is stimulated by a square impulse generated by the microcontroller, and its response is sampled by the internal ADC of the microcontroller. Next, the microcontroller realizes the fault detection and localisation according to the algorithm, which bases on the fault dictionary. The fault dictionary was generated from the family of localisation belts, which describes proprieties of the tested circuit.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 731-734
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Wyświetlanie 1-15 z 29

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies