Temat: Metrologia - Katalog OPAC zbiorów

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Miernictwo wojskowe
Autorzy:: Geisler, Bohdan.
Powiązania:: Bellona 1923, T. 11, z. 2, s. 205-209
Data publikacji:: 1923
Tematy:: Metrologia wojskowa
Dostawca treści:: Bibliografia CBW

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Metrologia wojskowa
Autorzy:: Kołacz, Arkadiusz.
Powiązania:: Przegląd Wojsk Lądowych 2002, nr 3, s. 46-50
Data publikacji:: 2002
Tematy:: Metrologia wojskowa
Opis:: Rys.
Dostawca treści:: Bibliografia CBW

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Miernictwo : teorja i praktyka. Cz. 1
Autorzy:: Jakubiszyn, Dominik.
Współwytwórcy:: Salecki, Jerzy. Recenzja
Data publikacji:: 1913
Wydawca:: Wilno
Tematy:: Metrologia wojskowa
Dostawca treści:: Bibliografia CBW

Książka

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Termowizyjne obserwacje małych elementów
Thermovision measurements of small parts
Autorzy:: Dziarski, Krzysztof
Hulewicz, Arkadiusz
Krawiecki, Zbigniew
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/376624.pdf
Data publikacji:: 2019
Wydawca:: Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Tematy:: termowizja
metrologia
elektronika
Opis:: W artykule opisano wpływ odległości pomiędzy obiektywem kamer termowizyjnych, a obserwowaną powierzchnią na ostrość uzyskanego obrazu. Pokazano zależność wielkości pola widzenia matrycy detektorów od odległości pomiędzy obiektywem i obserwowaną powierzchnią oraz zależność wielkości pola widzenia pojedynczego detektora od odległości pomiędzy obiektywem i obserwowaną powierzchnią. Wyjaśniono wpływ rozdzielczości matrycy na wielkość pola widzenia pojedynczego detektora. Zaproponowano, w jaki sposób dobrać obiektyw, by uzyskany termogram był ostry oraz możliwe było osiągnięcie takiej rozdzielczości geometrycznej, która pozwoli wystarczająco dokładnie odwzorować rozkład temperatur na obserwowanej powierzchni.
The article describes the influence of the distance between the lens and the observed surface on the sharpness of the obtained image. The relation between the size of the field of view of the detector array and the distance between the lens and the observed surface as well as the dependence of the field of view of a single detector on the distance between the lens and the observed surface is shown. The effect of matrix resolution on the field of view of a single detector was explained. It was proposed how to choose the lens, so that the obtained thermogram was sharp and it was possible to achieve such a geometric resolution that allows to accurately reproduce the temperature distribution on the observed surface.
Źródło:: Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering; 2019, 100; 39-49
1897-0737
Pojawia się w:: Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Pomiar czasu ustalenia temperatury płytki wzorcowej
Measurement of the time to determine the temperature of the reference plate
Autorzy:: Dziarski, Krzysztof
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/376111.pdf
Data publikacji:: 2019
Wydawca:: Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Tematy:: termowizja
metrologia
wzorzec
niepewność
Opis:: W niniejszym artykule zaproponowano sposób wyznaczenia czasu, w którym temperatura powierzchni bocznej płytki wzorcowej ulegnie ustaleniu. Wyjaśniono związek pomiędzy temperaturą płytki wzorcowej, jej długością i wartością niepewności pomiaru przy wzorcowaniu z użyciem tej płytki. Opisano wykorzystany układ pomiarowy. Zwrócono uwagę na problemy wynikające z zastosowanej metody pomiaru. Szczególną uwagę zwrócono na termowizyjne obserwacje powierzchni bocznej płytki wzorcowej. Opisano wpływ wybranych czynników na zarejestrowane rozkłady temperatury. Wskazano w jaki sposób zminimalizować wpływ promieniowania odbitego na wynik pomiaru.
This article proposes a method for determining the time at which the surface temperature of the reference plate will be determined. he relationship between the temperature of the reference plate, its length and the uncertainty of the measurement when calibrating using this plate was explained. The measuring system used was described. Attention was paid to problems resulting from the measurement method used. Particular attention was paid to thermovision observations of the side surface of the reference plate. The influence of selected factors on recorded temperature distributions was described. It was indicated how to minimize the effect of reflected radiation on the measurement result.
Źródło:: Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering; 2019, 100; 29-37
1897-0737
Pojawia się w:: Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Termowizyjny pomiar temperatury złącza diody półprzewodnikowej
Thermovision measurement of semiconductor diode junction temperature
Autorzy:: Dziarski, K.
Wiczyński, G.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/377736.pdf
Data publikacji:: 2017
Wydawca:: Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Tematy:: termowizja
dioda półprzewodnikowa
metrologia
Opis:: W artykule przedstawiono wyniki badań pomiarów temperatury złączą diody półprzewodnikowej zabudowanej w obudowie do montażu powierzchniowego (SOT–23), przy pomocy metody bezkontaktowej. Przedstawiono układ pomiarowy i otrzymane wyniki pomiarów oraz szczegółowe parametry diody użytej do badania. Omówiono zależność wiążącą temperaturę obudowy diody z temperaturą złącza, warunki panujące w trakcie wykonywania eksperymentu, oraz wnioski wynikające z otrzymanych wyników.
Junction temperature is one of the most important parameters of semiconductor diode. Diode operation depends on this temperature, however its correct measurement is difficult because of small size of the object. Measurements are especially complex for SMT (Surface Mount Technology) diodes of size 1 to 3 mm. Application of a contact temperature sensor is inefficient. Thus, an alternative way is the noncontact thermovision measurement which can give information on temperature of the diode case. However, in practice information about diode semiconductor junction is more significant. Experimental studies of the relation between a result of diode case thermovision measurement and temperature of junction inside the case have been undertaken. BAT54C diode with two junctions in the same case for SMT was used. One junction was temperature sensor while another one operated as heater. It was found that the temperature difference was not higher than 9°C what allows us to conclude that thermovision measurement of diode junction temperature may be useful in diagnostic testing of electronic circuits.
Źródło:: Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering; 2017, 92; 295-305
1897-0737
Pojawia się w:: Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Analiza wykorzystania materiałów nadprzewodnikowych w przyrządach optycznych
Analysis of the application superconducting materials in optical devices
Autorzy:: Sosnowski, J.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/158796.pdf
Data publikacji:: 2008
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:: promieniowanie optyczne
metrologia
nadprzewodnictwo
Opis:: W artykule zanalizowano wykorzystanie nadprzewodników wysokotemperaturowych w przyrządach optycznych. Omówiono zasadę działania przyrządów optycznych opartych na wykorzystaniu ostrego przejścia do stanu nadprzewodnictwa (bolometry), występowaniu przerwy energetycznej w materiałach nadprzewodnikowych (SQUID-ach) i związanych z tym efektów josephsonowskich oraz niskiej wartości impedancji powierzchniowej nadprzewodników (filtry). Podano genezę powstania przerwy energetycznej w nadprzewodnikach i jej związek z temperaturą krytyczną. Przedstawiono porównanie wpływu przerwy energetycznej nadprzewodników i półprzewodników na ich własności optyczne. Omówiono wykorzystanie nadprzewodników w przyrządach optycznych, czułych na promieniowanie optyczne o bardzo wysokich częstotliwościach fal elektromagnetycznych rzędu tera-hertzów (THz), o wysokiej przenikalności, co stwarza bardzo obiecujące perspektywy z punktu widzenia wykorzystania ich w urządzeniach kontrolnych i zabezpieczających np. na lotniskach. Przedstawione zostanie wykorzystanie nadprzewodników w tomografii komputerowej opartej na obrazowaniu magnetycznego rezonansu jądrowego (MRI) i w filtrach fal elektromagnetycznych.
In the paper it has been analysed application of HTc superconductors in optical devices. The principle of action of these devices is based on the sharp transition to the superconducting state (bolometers), appearance of the superconducting gap and related to this Josephson's effects (SQUID-s) and low surface impedance of superconductors (filters). It has been given the genesis of the appearance suprconducting gap and its relation to the critical temperature. It will be shown in the paper the comparison of the influence of the superconducting and semiconducting energy gap on the optical properties of these materials. It will be considered the application of the HTc materials in the optical imagers sensitive to the optical radiation of the very large frequency of the THz range. This frequency wave range is very attractive from the point of view of the security devices for instance at the airports. It will be too presented the application of superconductors in the computer tomography NMR of the human brain based on the nuclear tomography imaging MRI.
Źródło:: Prace Instytutu Elektrotechniki; 2008, 234; 273-285
0032-6216
Pojawia się w:: Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Zdolność procesu pomiarowego
Gauge and measurement system capability
Autorzy:: Jakus, B.
Kłos, R.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/366295.pdf
Data publikacji:: 2007
Wydawca:: Polskie Towarzystwo Medycyny i Techniki Hiperbarycznej
Tematy:: pomiary
metrologia
measurements
metrology
Opis:: Określenie możliwości systemów pomiarowych jest istotne zarówno z praktycznego jak i teoretycznego punktu widzenia, gdyż niejednokrotnie wyniki pomiarów1 stanowią główne przesłanki do podejmowania decyzji w sytuacjach problemowych.
Determining the capability of the measurement system is an important aspect of many quality and process improvement activities. It is important from both a theoretical and practical point of view, because measurement results serve as the main information for the decision process.
Źródło:: Polish Hyperbaric Research; 2007, 2(19); 33-45
1734-7009
2084-0535
Pojawia się w:: Polish Hyperbaric Research
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Tendencje rozwojowe i obszary zastosowań technik światłowodowych
Tendencies in Developing and Application of Fiberoptics
Autorzy:: Cysewska-Sobusiak, A.
Prokop, D.
Jukiewicz, M.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/376994.pdf
Data publikacji:: 2017
Wydawca:: Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Tematy:: światłowody
metrologia
optoelektronika
wideoendoskopia
Opis:: W artykule przedstawiono wybrane zagadnienia związane z nowoczesnymi technikami światłowodowymi. Przedstawiono wykorzystywane zjawiska fizyczne i optyczne oraz przedstawiono reprezentatywne przykłady współczesnych zastosowań różnych rodzajów światłowodów. Konwencjonalne układy światłowodowe są stosowane w nowoczesnej aparaturze pomiarowej, urządzeniach przemysłowych i medycznych oraz powszechnego użytku. Przedstawiono również specyficzne właściwości i obszary zastosowań światłowodów fotonicznych, które należą do najszybciej rozwijających się dziedzin przemysłu związanego ze współczesną fotoniką.
In the paper some selected problems concerned with modern techniques based on optical fibers are presented. Physical and optical phenomena and the selected examples of the current applications of different kinds of optical fibers are presented. Fiberoptics systems made for modern metrological, industrial, medical and common use are mentioned. Specific properties and application areas of photonic fiberoptics are also presented. Photonic crystal fibers area still develops very rapidly.
Źródło:: Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering; 2017, 89; 205-217
1897-0737
Pojawia się w:: Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Związki między podstawowymi jednostkami miar układu SI a podstawowymi stałymi fizycznymi
Linking SI base units to fundamental physical constants
Autorzy:: Dudziewicz, J.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/317440.pdf
Data publikacji:: 2001
Wydawca:: Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:: fizyka
metrologia
physics
metrology
Opis:: Podano związki (publikowane w ostatnich latach przez BIPM) między podstawowymi jednostkami miar układu SI a podstawowymi stałymi fizycznymi (wg CODATA, 1998). Zwrócono większą uwagę na następujące jednostki miar: amper, sekunda, metr i kilogram; oficjalna definicja kilograma jest dotychczas oparta na jednostce wzorca tej jednostki masy przechowywanego od 1889 r. w BIPM w Sevres. Przedstawiono również pewne ogólne informacje dotyczące kelwina, mola i kandeli.
In the paper linking relations (published by BIPM) between SI base units and fundamental physical constants (according to CODATA, 1998) are given. Special attention is given to following units of measurement: amper, second, meter and kilogram; the official definition of kilogram is based as yet on the measurement standard of this unit of mass kept at BIPM in Sevres since 1889. Some general informations about kelvin, mole and candela are given, too.
Źródło:: Telekomunikacja i Techniki Informacyjne; 2001, 1; 68-76
1640-1549
1899-8933
Pojawia się w:: Telekomunikacja i Techniki Informacyjne
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 11.

Tytuł:: Analiza modalna pękającej łopatki sprężarki
Autorzy:: Witoś, Mirosław.
Powiązania:: Prace Naukowe Instytutu Technicznego Wojsk Lotniczych 2008, nr 23, s. 5-20
Data publikacji:: 2008
Tematy:: Silniki lotnicze diagnostyka
Metrologia wojskowa
Opis:: Bibliogr.
Dostawca treści:: Bibliografia CBW