Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "LFSR" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-7 z 7
Tytuł:
Sygnaturowy słownik diagnostyczny o niewielkich rozmiarach wykorzystywany w testowaniu połączeń
Small-size signature-based diagnostic dictionary for testing of interconnections
Autorzy:
Garbolino, T.
Gucwa, K.
Hławiczka, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/156683.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
testowanie połączeń
liniowy rejestr pierścieniowy R-LFSR
słownik diagnostyczny
interconnect test
ring LFSR
diagnostic dictionary
Opis:
Przedstawiono nowy sposób redukcji rozmiaru sygnaturowego słownika diagnostycznego (SSD) służącego do detekcji i diagnostyki uszkodzeń statycznych i opóźnieniowych w połączeniach. Testowana magistrala złożona z n linii jest dzielona na b k bitowych fragmentów. Każdy z ww. fragmentów magistrali jest testowany przy użyciu oddzielnego 2k bitowego rejestru pierścieniowego R-LFSR. Procedura testująca obejmuje cztery fazy, w których na przemian pracują parzyste oraz nieparzyste rejestry. Zaproponowane tutaj rozwiązanie pozwala znacznie zmniejszyć wielkość SSD.
The paper is devoted to a new technique enabling the substantial reduction of the size of a diagnostic dictionary used for detection, localization and identification of static and delay faults in interconnections that are tested with use of ring linear feedback shift registers (R-LFSR). The proposed method assumes that the bus under test comprises n lines and is structured into b fragments of the size of k lines per each fragment. The method also assumes that each of the aforementioned fragments is tested by means of a separate R-LFSR with its length of 2k bits. The example of such a solution is presented in Fig. 1. Moreover, the test procedure is subdivided into four phases in which odd and even R-LFSRs work alternately. Operation modes for individual registers during subsequent phases and their seeds are summarized in Table 1. The proposed way of subdivision of the test procedure makes it possible to get rid of the mutual interference between two adjacent R LFSRs in case of occurring a short-circuit between the feedback lines of these neighbouring registers. Such interactions were the drawback of the previous methods and presented the impediment that prevented the fault dictionary from having its size reduced [2]. The solution that is suggested in this study enables substantially diminishing the dictionary, where its actual size is determined by the multiplicity of r defects within each k-bit part of the connecting bus, even when the bus width n >> k [3, 4].
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 1, 1; 52-54
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
A random signal generation method for microcontrollers with DACs
Autorzy:
Czaja, Z.
Kowalewski, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/220983.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
noise generators
LFSR
microcontrollers
ADC
DAC
Opis:
A new method of noise generation based on software implementation of a 7-bit LFSR based on a common polynomial PRBS7 using microcontrollers equipped with internal ADCs and DACs and a microcontroller noise generator structure are proposed in the paper. Two software applications implementing the method: written in ANSI C and based on the LUT technique and written in AVR Assembler are also proposed. In the method the ADC results are used to reseed the LFSR after its each full work cycle, what improves randomness of generated data, which results in a greater similarity of the generated random signal to white noise, what was confirmed by the results of experimental research. The noise generator uses only the internal devices of the microcontroller, hence the proposed solution does not introduce hardware redundancy to the system.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2018, 25, 4; 675-687
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Analiza właściwości statystycznych sygnałów pseudolosowych generatorów zbudowanych na rejestrach przesuwnych
Statistical properties analysis of the shift registers pseudo random signal generators
Autorzy:
Stępień, R.
Walczak, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/377928.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Tematy:
generator pseudolosowy
generator LFSR
testy statystyczne
pakiet DIEHARD
Opis:
W artykule opisano wyniki testów statystycznych sekwencji wyjściowej generatora pseudolosowego zrealizowanego na rejestrze przesuwnym i liniowym sprzężeniu zwrotnym (ang. Linear Feedback Shift Register). Przedstawiono budowę generatorów LFSR oraz opisano wykorzystane testy statystyczne. Do analizy sekwencji wyjściowej generatora wykorzystano pakiet testów statystycznych DIEHARD. Omówiono sposób interpretacji danych uzyskiwanych z pakietu DIEHARD i wyniki analizy testowej sekwencji pseudolosowej.
The following article provides a description of a statistical tests results of the linear feedback shift register pseudo random signal generator (LFSR). It shows the structure of LFSR generators and it describes statistical tests which were used. Analysis of the generator output sequence was preformed in the DIEHARD statistical tests battery. The DIEHARD output data interpretation and the statistical tests of the sample pseudo random sequence were described in this article.
Źródło:
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering; 2013, 73; 65-70
1897-0737
Pojawia się w:
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Testowanie dynamicznych uszkodzeń typu przesłuchy w sieciach połączeń przy użyciu rejestrów pierścieniowych R-LFSR
On the use of a ring LFSR for testing crosstalk faults in interconnect networks
Autorzy:
Hławiczka, A.
Gucwa, K.
Garbolino, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/151798.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
rejestr liniowy
rejestr pierścieniowy
generator testów
przesłuchy
samotestowanie
sieć połączeń
test pattern generator
crosstalks
BIST
LFSR
R LFSR
interconnect net
Opis:
W pracy przedstawiono nową metodę wykrywania przesłuchów w połączeniach. Testowaniu poddaje się tylko te połączenia FPGA, które będą wykorzystywane przez docelową aplikację. Zaproponowana struktura testera wbudowanego (BIST) wykorzystuje rejestr pierścieniowy 3n R LFSR, który w swojej części odpowiedzialnej za generowanie par testowych ma podwojoną liczbę przerzutników. Do testowanej sieci n połączeń jest podłączony tylko co drugi przerzutnik. Taka struktura generuje wszystkie pary niezbędne do pobudzenia przesłuchów co jest niemożliwe w klasycznej strukturze R-LFSR. Eksperymenty potwierdziły skuteczność testera BIST w pobudzaniu określonych przesłuchów.
A new method of detection of crosstalk faults is presented in the paper. An interconnect network employed by a target application is a sole subject of the test. The detection of crosstalk fault requires stimulation of the interconnect network under test (INUT) with two consecutive test patterns. The test patterns have to be applied to inputs of the INUT at a nominal clock frequency. So using the Built In Self Test (BIST) is a must. The proposed BIST structure is based on a ring register called 3n R LFSR (Fig.1). In contrast to a typical ring register, the 3n R LFSR contains a double number 2n of flip flops in its part that is responsible for two test pattern generation. The n lines of the INUT are fed from the outputs of every second flip flop of that part of the register. Such structure of the BIST is capable of generating all two test patterns that are required to stimulate crosstalk faults in the INUT, which is impossible in the case of a classical R LFSR. At the beginning of a test session the 3n-R-LFSR is seeded with a chosen value. After g clock cycles the final state (signature) is read. In more complex cases crosstalk can be observed only if a number k of lines being aggressors change their state simultaneously. The experiments proved that for k << n it is possible to find the initial seed being the beginning of a test sequence, that stimulate all required crosstalks. The length of the test sequence and simulation time ? necessary for finding initial seed is acceptable (Tab. 3).
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2009, R. 55, nr 8, 8; 572-574
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Estimation of the pseudorandom signal length with the use of the FFT algorithm
Autorzy:
Walczak, J.
Stępień, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/97736.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Tematy:
FFT algorithm
DLFSR generator
pseudorandom signals
linear feedback shift register
LFSR generator
Opis:
This paper describes effective estimation method for pseudorandom signal length with the use of FFT algorithm. Proposed method was used in order to calculate the length of sequence of DLFSR generators’ output. The construction of DLFSR generators is described in the following paper. As it is shown on the examples the application of proposed method was implemented on PC computer, which was equipped with a soundcard.
Źródło:
Computer Applications in Electrical Engineering; 2012, 10; 41-49
1508-4248
Pojawia się w:
Computer Applications in Electrical Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Skuteczny generator testów dla przesłuchów w połączeniach
Effective BIST for Crosstalk Faults in Inter-connects
Autorzy:
Rudnicki, T.
Garbolino, T.
Gucwa, K.
Hławiczka, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/154381.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
rejestr liniowy
generator testów
przesłuchy
samotestowanie
system jednoukładowy
sieć połączeń
test pattern generator
crosstalks
BIST
LFSR
SoC
interconnect net
Opis:
W pracy zasygnalizowano konieczność testowania przesłuchów metodą test-per-clock przy pełnej szybkości zegara w sieciach długich połączeń między modułami w jednoukładowych systemach typu SoC. Do generacji testów zaproponowano rejestr LFSR (ang. Linear Feedback Shift Register) z wielomianem pierwotnym oraz z podwojoną liczbą przerzutników, w którym tylko co drugi przerzutnik jest podłączony do testowanej sieci połączeń. Przeprowadzono eksperymenty symulacyjne sprawdzające skuteczność ich wykorzystania do testowania przesłuchów objawiających się albo chwilowym zakłóceniem (szpilką) albo opóźnieniem zbocza.
The paper is devoted to a test-per-clock method of an at-speed testing of crosstalk faults in long interconnects between cores in a System-on-a-Chip. A LFSR composed of 2n flip-flops and implementing primitive polynomial was used as a Test Pattern Generator (TPG) for an interconnect network comprised of n nets. In our approach every second output of the LFSR is connected to the Interconnect Network Under Test. Simulation-based experiments were carried out to verify effectiveness of vector sequences produced by the proposed TPG in detection of crosstalk faults provoked at victim net by simultaneous occurrence of rising (falling) edges 01(10) at k aggressor lines. Crosstalk faults causing occurrence of a positive (negative) glitch at a victim line having constant value 00(11) as well as ones that lead to delaying an edge with an opposite direction 10(01) at a victim line were taken into consideration. The experimental results show that for n ? {8,12,16,20,24,28,32} and k << n all above-mentioned crosstalk faults can be detected by a test sequence having an acceptable length.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2009, R. 55, nr 7, 7; 432-434
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Statistical analysis of the LFSR generators in the NIST STS test suite
Autorzy:
Stępień, R.
Walczak, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/97455.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Tematy:
pseudorandom signal generators
LFSR
pseudo random signal testing
statistical test suit
NIST STS 2.1.1 test suite
Opis:
In this article the statistical tests results of the pseudo random sequences generated by the Linear Feedback Shift Registers (LFSR) generators were described. LFSR generators' structures were shown and used statistical tests were described. The generator output sequence was analyzed in the NIST Statistical Test Suite STS 2.1.1. Interpretation of data obtained from the NIST STS 2.1.1 and the analysis' results of the pseudo random test sequences were discussed.
Źródło:
Computer Applications in Electrical Engineering; 2013, 11; 356-362
1508-4248
Pojawia się w:
Computer Applications in Electrical Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-7 z 7

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies