Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Fresnel zone plates" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Extraordinary optical transmission and vortex excitation by periodic arrays of Fresnel zone plates
Autorzy:
Roszkiewicz, A.
Nasalski, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/202304.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
Fresnel zone plates
focusing
cross-polarisation coupling
optical vortices
Opis:
Extraordinary optical transmission and good focusing properties of a two-dimensional scattering structure is presented. The structure is made of Fresnel zone plates periodically arranged along two orthogonal directions. Each plate consists of two ring-shaped waveguides supporting modes that match the symmetry of a circularly polarized incident plane wave. High field concentration at the focal plane is obtained with the short transverse and long longitudinal foci diameters. Optical vortex excitation in a paraxial region of the transmitted field is also observed and analysed in terms of cross-polarisation coupling. The structure presented may appear useful in visualization, trapping and precise manipulations of nanoparticles.
Źródło:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2013, 61, 4; 855-861
0239-7528
Pojawia się w:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Nanoimaging Using Soft X-Ray and EUV Sources Based on Double Stream Gas Puff Targets
Autorzy:
Wachulak, P.
Torrisi, A.
Ayele, M.
Bartnik, A.
Węgrzyński, Ł.
Fok, T.
Czwartos, J.
Fiedorowicz, H.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1030619.pdf
Data publikacji:
2018-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
gas puff target
Fresnel zone plates
EUV/SXR microscopy
contact microscopy
imaging
nanometer resolution
Opis:
In this work we present recent results on nanoscale imaging in the extreme ultraviolet and soft X-ray spectral ranges, describing three novel imaging systems dedicated for high spatial resolution imaging of nanoscale objects with the extreme ultraviolet and soft X-ray radiations. The extreme ultraviolet and soft X-ray full field microscopes operate at 13.8 nm and 2.88 nm wavelengths and are capable of imaging of nanostructures with a sub-50 nm spatial resolution. A soft X-ray contact microscope operates in the "water-window" spectral range from 2.3 to 4.4 nm wavelength, to obtain images of an internal structure of the investigated object in a thin surface layer of soft X-ray light sensitive photoresist. The development of such compact imaging systems may, in the near future, be important from the point of view of new research related to biological, material science, and nanotechnology applications. Such preliminary applications are also shown in the studies of biological samples, including carcinoma cells, diatoms, and neurons.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2018, 133, 2; 271-276
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Elementy optyczne pracujące w widmowym zakresie obejmującym ultrafiolet próżniowy i miękkie promieniowanie rentgenowskie
Optical elements for the extreme ultraviolet and soft X-ray range
Autorzy:
Wardzińska, Martyna
Wachulak, Przemysław
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2203159.pdf
Data publikacji:
2022
Wydawca:
Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
Tematy:
automatyka
elektronika i elektrotechnika
optyka rentgenowska
filtry optyczne
zwierciadła wielowarstwowe
siatki dyfrakcyjne
płytki strefowe Fresnela
ultrafiolet próżniowy
miękkie promieniowanie rentgenowskie
automation
electronic and electrical engineering
soft X-ray
extreme ultraviolet
optical elements
optical filters
multilayer mirrors
diffraction gratings
Fresnel zone plates
Opis:
W artykule zawarto podstawy fizyczne i przegląd elementów optycznych do pracy w zakresie obejmującym ultrafiolet próżniowy (eUV) oraz miękkie promieniowanie rentgenowskie (SXr). Pierwszy rozdział obejmuje wprowadzenie do analizowanej tematyki i podstawy fizyczne. W drugim rozdziale przedstawione zostały podstawy działania optyki związanej z zakresem eUV/SXr wraz z wyróżnieniem jej wad oraz zalet. W trzecim rozdziale szczegółowo omówiono elementy optyczne, takie jak: filtry optyczne, zwierciadła (m.in. wielowarstwowe), siatki dyfrakcyjne, płytki strefowe Fresnela oraz rozwiązania hybrydowe. rozdział czwarty przedstawia szeroki obszar zastosowań optyki eUV/SXr. W ostatnim rozdziale znajduje się podsumowanie przedstawionych wcześniej informacji.
The article presents the physical basis and overview of optical elements for the range including extreme ultraviolet (eUV) and soft X-ray (SXr). The first chapter contains an introduction to the subject under review and physical fundamentals. The second chapter presents the basics of optics for the eUV/SXr range, along with highlighting its advantages and disadvantages. The third chapter discusses in detail optical components such as optical filters, mirrors (including multilayers), diffraction gratings, Fresnel zone plates, and hybrid solutions. The fourth chapter presents a wide range of applications of eUV/SXr optics. The final chapter summarises the information presented earlier.
Źródło:
Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej; 2022, 71, 2; 49--83
1234-5865
Pojawia się w:
Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies