Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "FIB" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-10 z 10
    Tytuł:
    Zastosowanie metody STEM oraz FIB w badaniach struktury warstwy wierzchniej żarowytrzymałego monokrystalicznego nadstopu niklu po utlenianiu wysokotemperaturowym
    Application of STEM and FIB methods in the studies of surface layer structure of heat resistant single crystal nickel superalloy after high temperature oxidation
    Autorzy:
    Swadźba, R.
    Wiedermann, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/181681.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Metalurgii Żelaza im. Stanisława Staszica
    Tematy:
    żarowytrzymałe nadstopy niklu
    utlenianie wysokotemperaturowe
    FIB
    STEM
    heat resistant nickel superalloys
    high temperature oxidation
    Opis:
    W artykule przedstawiono wyniki analizy procesu wzrostu warstwy tlenkowej powstającej na żarowytrzymałym monokrystalicznym nadstopie niklu drugiej generacji podczas utleniania w temperaturze 1050oC przez 100 godzin oraz zachodzące w niej zmiany składu chemicznego i fazowego. Ponadto, analizie poddano procesy segregacji pierwiastków na granicach ziarn warstwy tlenkowej Al2O3 z wykorzystaniem wysokorozdzielczej mikroskopii elektronowej skaningowo transmisyjnej S/TEM. Przedstawiono szczegóły metodyczne przygotowania próbek z warstw tlenkowych metodą Focused Ion Beam (FIB) przeznaczonych do analizy z wykorzystaniem wysokorozdzielczej mikroskopii skaningowo transmisyjnej S/TEM.
    The article presents the results of oxide scale growth analysis on a heat-resistant second generation single crystal nickel superalloy during oxidation at the temperature of 1050oC for 100 hours as well as chemical and phase composition changes occurring in it. Moreover, elemental segregation processes on the grain boundaries of Al2O3 oxide scale were analyzed using high resolution scanning transmission electron microscopy S/TEM. Methodological details of sample preparation for high resolution scanning transmission electron microscopy S/TEM analysis using Focused Ion Beam (FIB) method are presented.
    Źródło:
    Prace Instytutu Metalurgii Żelaza; 2013, T. 65, nr 2, 2; 15-20
    0137-9941
    Pojawia się w:
    Prace Instytutu Metalurgii Żelaza
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Classification of internal damages of the sample with a layer based on acoustic emission and microscopic observations
    Klasyfikacja uszkodzeń wewnętrznych próbki z warstwą za pomocą metody emisji akustycznej i obserwacji mikroskopowych
    Autorzy:
    Piątkowska, A.
    Kucharski, S.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/329430.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej PAN
    Tematy:
    emisja akustyczna
    indentacja
    pękanie
    dekohezja
    FIB
    acoustic emission
    indentation
    cracks
    decohesion
    Opis:
    An acoustic emission (AE) method was used to detect internal damages of diamond-likecarbon (DLC) thin layer deposited on silicon substrate. The AE signals were recorded during the entire indentation test using a broadband piezoelectric microsensor with measuring range 80Hz-1950kHz. Depending on the indenter's load, observations of surface by scanning electron microscopy (SEM) did not reveal any damage or showed single small cracks in the Vickers impression area. Therefore, it was assumed that the majority of the AE pulses originate from internal damages. Using the method of Focused Ion Beam (FIB) ion milling, indenter impression cross sections were performed. In this way, internal damages caused by indentation, such as decohesion of DLC-layer, DLC-layer cracking and the Si-substrate cracking, were revealed. As a result of microscopic and AE signal data comparison, it was possible to identify the type of failure and to describe the progress of damage during indentation. The results will be helpful in the selection of parameters during hardness tests of layered materials and in the analysis of the strength properties of the samples with layers.
    W niniejszej pracy metoda pomiarów emisji akustycznej (EA) została zastosowana do detektowania wewnętrznych uszkodzeń cienkiej warstwy DLC nałożonej na krzemowe podłoże. Uszkodzenia realizowane były w teście indentacji, a rejestracji sygnałów EA dokonywano podczas całego procesu obciążania i odciążania wgłębnika Vickersa. W zależności od wielkości maksymalnego obciążenia na powierzchni odcisków obserwowano za pomocą mikroskopu skaningowego brak bądź występowanie małych pęknięć warstwy DLC. Zarejestrowane sygnały EA pochodziły głównie z uszkodzeń wewnętrznych, które były ujawnianie za pomocą trawienia wiązką jonów. Zaobserwowano uszkodzenia różnego rodzaju, takie jak dekohezja i pęknięcia lateralne warstwy i/lub podłoża. Za pomocą parametrów sygnału EA możliwe było określenie rodzaju oraz zasięgu wewnętrznych uszkodzeń.
    Źródło:
    Diagnostyka; 2012, 4(64); 49-53
    1641-6414
    2449-5220
    Pojawia się w:
    Diagnostyka
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Detekcja uszkodzeń pomiarem EA oraz metodami mikroskopowymi
    Study of damages detection and identification by the measurements of AE signals and microscopic methods
    Autorzy:
    Piątkowska, A.
    Kucharski, S.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/256437.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
    Tematy:
    emisja akustyczna
    badanie twardości
    uszkodzenie
    warstwa węglowa RF PACVD
    FIB
    acoustic emission
    hardness test
    damage
    RF PACVD layer of carbon
    Opis:
    W pracy opisane zostały pomiary emisji akustycznej EA generowanych podczas badania mikrotwardości wgłębnikiem Vickersa, na próbkach krzemowej i stalowej 316L z warstwą węglową. Otrzymane wyniki w postaci wykresów w dziedzinie czasu są porównywane z obserwacjami mikroskopowymi. Za pomocą analitycznego elektronowego mikroskopu skaningowego SEM zobrazowano powierzchnie odcisków, z uwidocznieniem powierzchniowych pęknięć i uszkodzeń. Odcisk mikrotwardości został przecięty z użyciem systemu FIB, zapewniającego odsłonięcie rzeczywistej struktury wewnętrznej materiału w otoczeniu odcisku. Wykonanie sekwencji przekrojów pozwoliło na zobrazowanie SEM przestrzenne uszkodzeń, zwłaszcza typu pęknięcia i rozwarstwienia, a także usytuowanie elementów warstwy wierzchniej i podłoża oraz zasięg odkształceń plastycznych. Zastosowanie obu metod pomiarowych: emisji akustycznej oraz obrazowania mikroskopowego, wzajemnie uzupełniających się, daje wnikliwą diagnostykę do analizy właściwości mechanicznych materiału.
    The paper describes the measurements of acoustic emission generated during the microhardness Vickers indentation of RF PACVD carbon layer on Si and 316L substrates. The results obtained in the form of graphs in the time domain are compared with microscopic observations. An analytical scanning electron microscope SEM was used to visualize the surface cracks and damages on the indentation print. Cross-section through microhardness indents was made using the FIB system that revealed the real internal structure of the material in the environment of the indent. Execution of a sequence of sections allowed the visualization of spatial defects, especially cracks and delamination, and also the location of the components of the surface layer and the substrate as well as the determination of plastic deformation range. Application of two complementary measurement methods: acoustic emission and detailed microscopic imagining provides a comprehensive diagnostic analysis of the mechanical properties of material.
    Źródło:
    Problemy Eksploatacji; 2012, 1; 17-26
    1232-9312
    Pojawia się w:
    Problemy Eksploatacji
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Wpływ grubości warstwy DLC na właściwości tribologiczne w tarciu ślizgowym
    The effect of the DLC layer thickness on the tribological properties in sliding friction
    Autorzy:
    Piątkowska, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/189230.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    warstwy DLC
    tarcie ślizgowe
    zużycie
    FIB
    DLC layers
    sliding friction
    wear
    Opis:
    W pracy przedstawione są wyniki badań tribologicznych wykonanych na próbkach z warstwami o grubości 50 nm, 500 nm i 1300 nm nałożonymi na podłoże ze stali narzędziowej 316L. Warstwy nakładane były metodą RF PACVD. Testy tribologiczne realizowano w węźle tarcia typu kula–powierzchnia płaska z postępowo-zwrotnym ruchem ślizgowym kulki. Grubsze warstwy DLC wykazały stabilny i niski współczynnik tarcia. Ślady tarcia analizowano za pomocą elektronowego mikroskopu skaningowego oraz mikroskopu interferencyjnego. Najmniejsze zużycie zaobserwowano dla próbki z warstwą DLC o grubości 500 nm. Nawet w przypadku intensywnego uszkodzenia, warstwy DLC pełniły funkcję zabezpieczającą i zmniejszały zakres i zmieniały rodzaj zniszczeń.
    This paper presents the results of tribological tests made on the samples with a layer thickness of 50 nm, 500 nm and 1300 nm deposited on the surface of 316L tool steel. The DLC layers were made by the RF PACVD method. Tribological tests were carried out on the ball-flat surface friction node, with the reciprocating sliding movement of the ball. The thicker DLC layers showed a stable and low friction coefficient. Friction traces were analysed by scanning electron microscopy and interference microscopy. The lowest wear was observed for the DLC layer with thickness of 500 nm. Even in the case of heavy damage, the DLC layer acted as a protection and reduced the extend and changed the type of damage.
    Źródło:
    Tribologia; 2012, 3; 137-144
    0208-7774
    Pojawia się w:
    Tribologia
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Fabrication of electrochemical nanoelectrode for sensor application Rusing focused ion beam technology
    Autorzy:
    Łaszcz, A.
    Nogala, W.
    Czerwinski, A.
    Ratajczak, J.
    Kątcki, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/778764.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie. Wydawnictwo Uczelniane ZUT w Szczecinie
    Tematy:
    FIB nanotechnology
    nanosensor
    electrochemistry
    Opis:
    The capabilities and applications of the focused ion beam (FIB) technology for detection of an electrochemical signal in nanoscale area are shown. The FIB system, enabling continuous micro- and nanofabrication within only one equipment unit, was used to produce a prototype of electrochemical nanometer-sized electrode for sensor application. Voltammetric study of electrochemically active compound (ferrocenemethanol) revealed the diffusion limiting current (12 pA), corresponding to a disc (planar) nanoelectrode with about 70 nm diameter of contact area. This size is in a good accordance with the designed contact-area (50 nm × 100 nm for width × thickness) of the FIB-produced nanoelectrode. It confi rms that produced nanoelectrode is working properly in liquid solution and may enable correct measurements in nanometer-sized regions.
    Źródło:
    Polish Journal of Chemical Technology; 2014, 16, 3; 40-44
    1509-8117
    1899-4741
    Pojawia się w:
    Polish Journal of Chemical Technology
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Contribution of electron tomography to development of innovative materials for clean energy systems and aeronautics
    Wkład tomografii elektronowej do rozwoju innowacyjnych materiałów dla niskoemisyjnych systemów energetycznych i lotnictwa
    Autorzy:
    Kruk, A.
    Czyrska-Filemonowicz, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/352236.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    TEM
    STEM-HAADF
    EFTEM
    FIB-SEM
    tomography
    tomografia
    Opis:
    The development of innovative materials for clean energy systems and aeronautics requires use of modern research methods to characterize the structure on the level from micro- to nanoscale. Modern two-dimensional imaging techniques recently available in electron microscopes allow use of tomographic methods to characterize the structure of materials. Application of modern three dimensional imaging techniques such as electron tomography allows accurate qualitative and quantitative measurement of the structure elements in the micro- and nanoscale. The electron tomography studies have been carried out for three-dimensional visualization and metrology of different materials for clean energy systems and aeronautics. Electron tomography results provided quantitative data about shape, size and distribution of the particles, complementary to those obtained by means of quantitative TEM metallography.
    Rozwój innowacyjnych materiałów dla niskoemisyjnych systemów energetycznych i lotnictwa wymaga zastosowania nowoczesnych metod badawczych w celu scharakteryzowania struktury na poziomie od mikro- do nanoskali. Nowoczesne dwuwymiarowe techniki obrazowania od niedawna dostępne w mikroskopach elektronowych, umożliwiają zastosowanie metod tomograficznych do scharakteryzowania struktury materiałów. Zastosowanie nowoczesnych technik trójwymiarowego obrazowania, takich jak tomografia elektronowa umożliwia dokładny jakościowy i ilościowy pomiar elementów mikrostruktury w mikro- i nanoskali. Badania metodami tomografii elektronowej przeprowadzone zostały w celu trójwymiarowej wizualizacji i metrologii elementów mikrostruktury róznych materiałów konstrukcyjnych dla systemów niskoemisyjnej energetyki i lotnictwa. Badania metodami tomografii elektronowej dostarczaja danych ilościowych dotyczacych kształtów, wielkości i rozkładu przestrzennego cząstek i są one uzupełnieniem do danych uzyskiwanych za pomocą metod ilościowej analizy metalograficznej przy wykorzystaniu transmisyjnej mikroskopii elektronowej.
    Źródło:
    Archives of Metallurgy and Materials; 2013, 58, 2; 387-392
    1733-3490
    Pojawia się w:
    Archives of Metallurgy and Materials
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    STEM-EDX and FIB-SEM Tomography of ALLVAC 718Plus Superalloy
    Autorzy:
    Kruk, A.
    Cempura, G.
    Lech, S.
    Czyrska-Filemonowicz, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/354670.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    TEM
    SEM
    STEM-EDX tomography
    FIB-SEM tomography
    Allvac 718Plus
    Opis:
    Allvac 718Plus (718Plus) is a high strength, corrosion resistant nickel- based superalloy used for application in power generation, aeronautics and aerospace industry. The 718Plus microstructure consists of a γ matrix with γ’-Ni3(Al,Ti) and some δ- Ni3Nb phases as well as lamellar particles (η-Ni3Ti, η*-Ni6AlNb or Ni6(Al,Ti)Nb) precipitated at the grain boundaries. The primary strengthening mechanism for this alloy is a precipitation hardening, therefore size and distribution of precipitates are critical for the performance of the alloy. The aim of this study was to characterize precipitates in the 718Plus superalloy using Scanning Transmission Electron Microscope combined with Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (STEM-EDX) and Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM). The STEM-EDX and FIB-SEM tomography techniques were used for 3D imaging and metrology of the precipitates. Transmission electron microscopy and EDX spectroscopy were used to reveal details of the 718Plus microstructure and allow determine chemical composition of the phases. The study showed that electron tomography techniques permit to obtain complementary information about microstructural features (precipitates size, shape and their 3D distribution) in the reconstructed volume with comparison to conventional particle analysis methods, e.g. quantitative TEM and SEM metallography.
    Źródło:
    Archives of Metallurgy and Materials; 2016, 61, 2A; 535-542
    1733-3490
    Pojawia się w:
    Archives of Metallurgy and Materials
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    FIB Method of Sectioning of III-V Core-Multi-Shell Nanowires for Analysis of Core/Sell Interfaces by High Resolution TEM
    Autorzy:
    Kret, S.
    Kaleta, A.
    Bilska, M.
    Kurowska, B.
    Siusys, A.
    Dąbrowski, J.
    Sadowski, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1033031.pdf
    Data publikacji:
    2017-05
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    nanowires
    HRTEM
    STEM
    EDS
    FIB
    GaAs
    GaAlAs
    Opis:
    The core-multishell wurtzite structure (In,Ga)As-(Ga,Al)As-(Ga,Mn)As semiconductor nanowires have been successfully grown on GaAs(111)B substrates using MBE technique. The nanowires cores were grown with gold eutectic catalyser in vapour-liquid-solid growth mode. The double shell overgrowth, on the side facets of nanowires, was performed using lower substrate temperature (about 400°C, and 230°C, for (Ga,Al)As, and (Ga,Mn)As shell growth, respectively). The polytypic ordering, defects, chemistry and geometric perfection of the core and the shells have been analysed at atomic level by advanced transmission electron microscope techniques with the use of axial and longitudinal section of individual nanowires prepared by focused ion beam. High quality cross-sections suitable for quantitative transmission electron microscope analysis have been obtained and enabled analysis of interfaces between the core and the shells with near atomic resolution. All investigated shells are epitaxial without misfit dislocations at the interface. Some of the shells thicknesses are not symmetric, which is due to the shadowing effects of neighbouring nanowires and directional character of the elemental fluxes in the MBE growth process.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2017, 131, 5; 1332-1335
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Observation of spheroidal graphite in ductile cast iron by TEM
    Charakterystyka grafitu w żeliwie sferoidalnym techniką transmisyjnej mikroskopii elektronowej
    Autorzy:
    Hara, T.
    Maekawa, T
    Terayama, K
    Kawabata, T.
    Ikeno, S.
    Matsuda, K.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/354792.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    ductile cast iron
    spheroidal graphite
    TEM
    FIB method GRAPHITE
    grafit sferoidalny
    technika FIB
    transmisyjna mikroskopia elektronowa
    Opis:
    The microstructure of spheroidal graphites in ductile cast iron (FCD450) was investigated by TEM using cross sectional TEM samples prepared by FIB method. The spheroidal graphite consisted of many small areas, and all of these areas were indexed as the graphite structure and just carbon peak was detected from there.
    Mikrostruktura sferoidalnych wydzieleń grafitu w żeliwie sferoidalnym (FCD450) badana była przy użyciu transmisyjnej mikroskopii elektronowej i cienkich folii przygotowanych technika FIB. Grafit sferoidalny składał się z wielu małych obszarów i stwierdzono, że wszystkie te obszary mają strukturę grafitu i wykryto tylko pik od wegla.
    Źródło:
    Archives of Metallurgy and Materials; 2013, 58, 2; 431-432
    1733-3490
    Pojawia się w:
    Archives of Metallurgy and Materials
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Mikroskopia dwuwiązkowa w badaniach właściwości materiałów ceramicznych od 3D EBSD do FIB-DIC
    Autorzy:
    Faryna, Marek
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/36077419.pdf
    Data publikacji:
    2020
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Ceramiki i Materiałów Budowlanych
    Tematy:
    3D EBSD
    FIB-DIC
    mikroskopia dwuwiązkowa
    materiały ceramiczne
    double beam microscopy
    ceramic materials
    Źródło:
    Szkło i Ceramika; 2020, 71, 1; 20-21
    0039-8144
    Pojawia się w:
    Szkło i Ceramika
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-10 z 10

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies