Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Cienkie warstwy TiO2" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-2 z 2
    Tytuł:
    Influence of calcination temperature on optical and structural properties of TiO2 thin films prepared by means of sol-gel and spin coating
    Autorzy:
    Tański, T.
    Matysiak, W.
    Kosmalska, D.
    Lubos, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/201456.pdf
    Data publikacji:
    2018
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    TiO2 thin films
    spin coating
    optical properties
    structural properties
    calcination
    sol-gel
    titanium dioxide
    Cienkie warstwy TiO2
    właściwości optyczne
    właściwości strukturalne
    kalcynacja
    zol-żel
    dwutlenek tytanu
    Opis:
    In this study, ceramic TiO2 thin films were prepared on glass substrates using sol-gel and spin-coating methods from the TNBT/ AcOH/ EtOH/ H2O solution. The obtained coatings were subjected to drying at room temperature and were then calcined in the air at different temperatures in a range of 400–600°C in order to obtain clean TiO2   layers. The surface morphology and chemical composition were characterized with the use of a scanning electron microscope (SEM) and an energy dispersive spectrometer (EDX). Research has shown the presence of elements in the TiO2   and the influence of temperatures on layer thickness. Analysis of optical properties and energy gap width of the prepared coatings was determined by means of spectra analysis of absorbance as a function of radiation energy obtained with the use of the UV-VIS spectrophotometer. The obtained spectra of the layers are characterized by a shift of absorption lines towards the visible light wavelengths and the obtained values of band gaps decrease as the calcination temperature rises. The obtained and developed results of TiO2   thin films testify to the wide application possibilities of the layers in elements which use photocatalytic processes such as self-cleaning surfaces, solar cells, pollution removing membranes and optoelectronic components.
    Źródło:
    Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2018, 66, 2; 151-156
    0239-7528
    Pojawia się w:
    Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Study of structural and optical properties of TiO2:(Eu, Pd) thin films deposited by magnetron sputtering
    Badanie właściwości strukturalnych i optycznych cienkich warstw TiO2:(Eu, Pd) wytwarzanych metodą rozpylania magnetronowego
    Autorzy:
    Kaczmarek, D.
    Domaradzki, J.
    Prociow, E. L.
    Wojcieszak, D.
    Michalec, B.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/192413.pdf
    Data publikacji:
    2008
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
    Tematy:
    TiO2
    cienkie warstwy
    warstwa cienka
    rozpylanie magnetronowe
    thin films
    magnetron sputteing
    Opis:
    In this study the results on TiO2 thin films doped with europium and palladium at the amount of 0.9 at. % and 5.8 at. % respectively have been presented. For thin films deposition the high energy (HE) magnetron sputtering method was used. Some samples were subjected to the post-processed annealing. X-Ray Diffraction (XRD) results have shown that after deposition nanocrystalline TiO2 - rutile structure was obtained. After additional annealing at 800°C average crystallites sizes increased about twofold (from 9 to 16 nm). The XRD results were confirmed using atomic force microscope. Optical properties of thin films were examined using optical transmission method. They have shown that doping with Eu and Pd has decreased the transmission level by about 15% and shifted absorption edge to the longer wavelength range (from 330 to 450 nm) compared to pure TiO2. The width of optical bandgap of TiO2:(Eu, Pd) thin film decreased to ca. 1.7 eV, i.e. twofold, when compared to 3.35 eV of undoped-TiO2. The photoluminescence results have shown that examined thin film has strong red luminescence from standard Eu3+ emission lines.
    W pracy przedstawiono wyniki badań cienkich warstw TiO2 domieszkowanych europem i palladem, w ilości odpowiednio 0,9 % at. i 5,8 % at. Do nanoszenia cienkich warstw zastosowano wysokoenergetyczny proces (High Energy) rozpylania magnetronowego. Wybrane próbki poddano dodatkowemu poprocesowemu wygrzewaniu. Wyniki dyfrakcji rentgenowskiej (X-Ray Difrraction - XRD) wykazały, że bezpośrednio po naniesieniu otrzymano nanokrystaliczną warstwę TiO2 o strukturze rutylu. Po dodatkowym wygrzewaniu w temperaturze 800°C średnia wielkość krystalitów wzrosła około dwukrotnie (z 9 do 16 nm). Wyniki badań XRD zostały potwierdzone za pomocą badań wykonanych za pomocą mikroskopu sił atomowych. Właściwości optyczne cienkich warstw określono na podstawie wyników badań metodą transmisji światła. Uzyskane wyniki wykazały, że domieszkowanie Eu i Pd spowodowało spadek przezroczystości warstwy o ~ 15% i przesunięcie krawędzi absorpcji optycznej w stronę dłuższych fal (z 330 do 450 nm) w porównaniu do warstwy niedomieszkowanego TiO2. Szerokość optycznej przerwy zabronionej dla cienkiej warstwy TiO2:(Eu, Pd) po naniesieniu wynosiła 1,7 eV i była około dwukrotnie mniejsza w porównaniu do 3,35 eV dla warstwy TiO2. Wyniki badań foto-luminescencji pokazały, że badana warstwa wykazuje silną czerwoną luminescencję odpowiadającą standardowym linią emisyjnym Eu3+.
    Źródło:
    Materiały Elektroniczne; 2008, T. 36, nr 3, 3; 117-127
    0209-0058
    Pojawia się w:
    Materiały Elektroniczne
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-2 z 2

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies