Temat: Atomic low - Katalog OPAC zbiorów

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: NORM legislation in Poland
Problematyka NORM w Polsce
Autorzy:: Skowronek, J.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/340813.pdf
Data publikacji:: 2004
Wydawca:: Główny Instytut Górnictwa
Tematy:: ochrona radiologiczna w Polsce
prawo ochrony radiologicznej
ochrona środowiska
Prawo atomowe
radiological protection in Poland
radiological defense low
environmental protection
Atomic low
Źródło:: Prace Naukowe GIG. Górnictwo i Środowisko / Główny Instytut Górnictwa; 2004, 1; 132-133
1643-7608
Pojawia się w:: Prace Naukowe GIG. Górnictwo i Środowisko / Główny Instytut Górnictwa
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Structural, Electrical, and Optical Properties of ZnO Films Grown by Atomic Layer Deposition at Low Temperature
Autorzy:: Park, Ji-Young
Weon, Ye Bin
Jung, Myeong Jun
Choi, Byung Joon
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/2174578.pdf
Data publikacji:: 2022
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: zinc oxide
ZnO
atomic layer deposition
low temperature growth
optoelectronic properties
Opis:: Zinc oxide (ZnO) is a prominent n-type semiconductor material used in optoelectronic devices owing to the wide bandgap and transparency. The low-temperature growth of ZnO thin films expands diverse applications, such as growth on glass and organic materials, and it is also cost effective. However, the optical and electrical properties of ZnO films grown at low temperatures may be inferior owing to their low crystallinity and impurities. In this study, ZnO thin films were prepared by atomic layer deposition on SiO2 and glass substrates in the temperature range of 46-141℃. All films had a hexagonal würtzite structure. The carrier concentration and electrical conductivity were also investigated. The low-temperature grown films showed similar carrier concentration (a few 1019 cm-3 at 141°C), but possessed lower electrical conductivity compared to high-temperature (>200°C) grown films. The optical transmittance of 20 nm thin ZnO film reached approximately 90% under visible light irradiation. Additionally, bandgap energies in the range of 3.23-3.28 eV were determined from the Tauc plot. Overall, the optical properties were comparable to those of ZnO films grown at high temperature.
Źródło:: Archives of Metallurgy and Materials; 2022, 67, 4; 1503--1506
1733-3490
Pojawia się w:: Archives of Metallurgy and Materials
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Application of international safety standards to work involving exposure to natural radiation
Zastosowanie międzynarodowych standardów bezpieczeństwa w działalności związanej z narażeniem na naturalne źródła jonizującego promieniowania
Autorzy:: Wymer, D.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/340343.pdf
Data publikacji:: 2004
Wydawca:: Główny Instytut Górnictwa
Tematy:: naturalne źródła promieniowania jonizującego
ochrona radiologiczna
prawo ochrony radiologicznej
Międzynarodowa Agencja Energii Jądrowej
naturally occuring radioactive materials
radiological protection
radiological defense low
International Atomic Energy Agency
Źródło:: Prace Naukowe GIG. Górnictwo i Środowisko / Główny Instytut Górnictwa; 2004, 1; 73-74
1643-7608
Pojawia się w:: Prace Naukowe GIG. Górnictwo i Środowisko / Główny Instytut Górnictwa
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Atomic force microscopy with fractal studies of temperature induced changes in the surface topography of polymeric materials
Zastosowanie mikroskopii sił atomowych i analizy fraktalnej do badania wpływu temperatury na topografię powierzchni materiałów polimerowych
Autorzy:: Rydzkowski, Tomasz
Kulesza, Sławomir
Bramowicz, Mirosław
Michalska-Pożoga, Iwona
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/946973.pdf
Data publikacji:: 2020
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Chemii Przemysłowej
Tematy:: temperature
surface topography
polymeric materials
atomic force microscopy
fractal analysis
differential scanning calorimetry
low density polyethylene
recirculation
temperatura
topografia powierzchni
materiały polimerowe
mikroskopia sił atomowych
analiza fraktalna
różnicowa kalorymetria skaningowa
polietylen małej gęstości
recyrkulacja
Opis:: Changes in the surface topography of polymeric materials can be analyzed to find the correspondence between observed surface features and specific external factors that might also influence physical and functional properties of the investigated material. In this work, atomic force microscopy (AFM) measurements were carried out to investigate the thermal changes in the surface topography as well as in the inner structure of the low density polyethylene (LDPE) samples subjected to 10 recirculations (rLDPE). For better assessment, fractal analysis and AFM results were additionally compared to DSC tests results.
Analiza zmian topografii powierzchni materiałów polimerowych pozwala wyznaczyć zależności między obserwowanymi cechami powierzchni a określonymi czynnikami zewnętrznymi, które mogą wpływać na właściwości fizyczne i funkcjonalne badanego materiału. W niniejszej pracy metodą mikroskopii sił atomowych (AFM) oceniano zmiany termiczne topografii powierzchni, a także wewnętrznej struktury próbek polietylenu małej gęstości (LDPE) poddanych 10-krotnej recyrkulacji (rLDPE). Wyniki AFM i analizy fraktalnej porównywano z wynikami badań metodą różnicowej kalorymetrii skaningowej (DSC).
Źródło:: Polimery; 2020, 65, 1; 25-32
0032-2725
Pojawia się w:: Polimery
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Informacja

Wyszukujesz frazę "Atomic low" wg kryterium: Temat

Źródło danych

Dostawca treści

Kolekcja

Rok wydania

Wydawca

Temat

Autor

Typ dokumentu

Język