Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Atomic Force Microscopy" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
Wyświetlanie 1-15 z 63
Tytuł:
Wybrane techniki obrazowania stosowane w kryminalistyce.
Selected imaging techniques applied in forensic science
Autorzy:
Łasińska, Anna
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/501703.pdf
Data publikacji:
2018-03-15
Wydawca:
Agencja Bezpieczeństwa Wewnętrznego
Tematy:
techniki obrazowania
mikroskopia
SEM
mikroanaliza rentgenowska
EDS
spektroskopia Ramana
mikroskopia sił atomowych
AFM
imaging techniques
microscopy
X-ray microanalysis
Raman spectroscopy
atomic force microscopy
Opis:
W artykule przedstawiono zagadnienia obejmujące różne techniki obrazowania wykorzystywane w kryminalistyce. Rozwój technologii obserwowany we współczesnym świecie pociąga za sobą zmiany we wszystkich dziedzinach życia, usprawniając, przyspieszając oraz otwierając je na nowe możliwości badawcze. Wykorzystanie zaawansowanej technologii pozwala na precyzyjną analizę materiału dowodowego. Możliwość obserwacji różnych próbek w dużych powiększeniach jest niezbędna przy wykonywaniu ich dokumentacji (badanie morfologii powierzchni, ustalanie cech diagnostycznych). Zastosowanie mikroskopii optycznej, elektronowej lub sił atomowych, a także zintegrowanych z nimi systemów spektroskopowych jest podstawowym, a zarazem potężnym narzędziem służącym wykonywaniu obserwacji różnorodnych materiałów.
The article presents issues that include various imaging techniques used in forensics. Technology development observed in the modern world, implies changes in all areas of life, improving, speeding up and opening them to new research capabilities. The use of advanced technology allows precise analysis of the evidence. The opportunity to observe different samples at high magnification is necessary in the performance of their documentation (examination of the morphology of the surface, setting the diagnostic characteristics). The application of optical microscopy, electron microscopy or atomic force microscopy, and integrated spectroscopic systems is an essential and powerful tool for implementation observations of a variety of materials.
Źródło:
Przegląd Bezpieczeństwa Wewnętrznego; 2018, 10, 18; 89-119
2080-1335
2720-0841
Pojawia się w:
Przegląd Bezpieczeństwa Wewnętrznego
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Właściwości powierzchniowe matryc otrzymanych z poli(L-laktydo-ko-glikolidu) z rysperydonem i ich zmiany po dwóch tygodniach degradacji
Surface properties of poly(L-lactide-co-glycolide) matrices with risperidone and their changes after two weeks of degradation
Autorzy:
Turek, A.
Jelonek, K.
Wójcik, A.
Dzierżewicz, Z.
Kasperczyk, J.
Dobrzyński, P.
Marcinkowski, A.
Trzebicka, B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/285548.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Polskie Towarzystwo Biominerałów
Tematy:
rysperydon
nośniki leków
matryce polimerowe
degradacja
poli(L-laktyd-ko-glikolid)
mikroskopia sił atomowych
risperidone
drug carries
polymeric matrices
degradation
poly(L-lactide-co-glycolide)
atomic force microscopy
Opis:
W celu optymalizacji leczenia schizofrenii proponowanych jest wiele rozwiązań. Do jednego z nich należy zastosowanie biodegradowalnych, implantowanych systemów uwalniających leki. W niniejszej pracy badano za pomocą mikroskopii sił atomowych zmiany powierzchni matryc otrzymanych z poli(L-laktydo-koglikolidu) (PLAGA) i rysperydonu przed i po dwóch tygodniach degradacji. Analizowano także wpływ degradacji na zmiany ubytku masy matryc polimerowych. Wyniki wskazują na duże możliwości matryc PLAGA do inkorporowania i pułapkowania rysperydonu. Po dwóch tygodniach stwierdzono stabilność matryc (nie uległy one gwałtownej i niekontrolowanej degradacji). Matryce otrzymane z PLAGA posiadają właściwości powierzchniowe odpowiednie dla zastosowania jako biodegradowalne systemy o kontrolowanym uwalnianiu rysperydonu.
Various solutions are proposed to optimize the therapy of schizophrenia. One of them is the application of biodegradable implantable drug delivery systems. In this work, surface changes of matrices composed of poly(L-lactide-co-glycolide) (PLAGA) and risperidone before and after two weeks of degradation were determined by atomic force microscopy. The influence of degradation on weight loss of matrices was also observed. The results suggest that PLAGA matrices present great potential for incorporation and trapping of risperidone. After two weeks of the studies, the matrices were stable and were not subjected to rapid and uncontrolled degradation. PLAGA matrices have surface properties useful for designing of biodegradable system of controlled risperidone release.
Źródło:
Engineering of Biomaterials; 2010, 13, no. 96-98; 117-120
1429-7248
Pojawia się w:
Engineering of Biomaterials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Utilization of AFM mapping of surfaces mechanical properties in diagnostics of the materials for electrotechnics
Wykorzystanie mapowania właściwości mechanicznych powierzchni technikami AFM w diagnostyce materiałów stosowanych w elektrotechnice
Autorzy:
Sikora, A.
Bednarz, Ł.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/158826.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:
mikroskopia sił atomowych
tryb NanoSwing
elektrotechnika
atomic force microscopy (AFM)
time-resolved tapping mode
mechanical properties mapping
nanomaterials
material science
Opis:
Atomic force microscopy (AFM) is one of the most powerful diagnostic methods used in micro- and nanoscale imaging of the topography and various physical properties of the surface. As this method involves the scanning tip/sample interaction, it is possible to observe the response of the surface on periodically changing load causing by the scanning tip. By utilizing so called time-resolved tapping mode, we could perform the mapping of the surface's mechanical properties: stiffness, adhesion, energy dissipation and others. In this paper we present the idea of the NanoSwing imaging technique developed at Electrotechnical Institute, Division of Electrotechnology and Materials Science in Wrocław as well as the examples of the measurement results.
Mikroskopia sił atomowych (AFM) jest jedną z najbardziej zaawansowanych technik diagnostycznych w mikro- i nanoskali, stosowaną w procesie obrazowania topografii oraz różnych właściwości fizycznych powierzchni. Wykorzystanie oddziaływania ostrze skanujące-próbka umożliwia obserwację odpowiedzi materiału na okresowe zmiany nacisku wywoływane przez ostrze, dzięki czemu możliwa jest ocena właściwości mechanicznych próbki. Zastosowanie trybu dynamicznego z analizą oscylacji skrętnych belki skanującej w domenie czasu, umożliwiło wykonywanie mapowania takich parametrów jak: sztywność, adhezja, rozpraszanie energii i inne. W niniejszej pracy zaprezentowano koncepcję działania trybu NanoSwing opracowanego we wrocławskim oddziale Instytutu Elektrotechniki. Przedstawiono także przykładowe wyniki pomiarów wykonanych z wykorzystaniem tego trybu.
Źródło:
Prace Instytutu Elektrotechniki; 2011, 253; 15-25
0032-6216
Pojawia się w:
Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The study of harmonic imaging by AFM
Badania harmonicznych w obrazowaniu AFM
Autorzy:
Babicz, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/156072.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
mikroskop sił atomowych
powierzchnia
harmoniczne
atomic force microscopy (AFM)
surface
harmonics
Opis:
Atomic Force Microscopy (AFM) is a powerful tool for the analysis of surface samples with accuracy of single atoms. The existing methods include surface roughness, porosity and hardness of the test portion of the sample. The article presents the preliminary studyof a new AFM method of surface analysis. The study indicates that there may be a correlation between intensity of a harmonic resonance frequency of the needle and the system response. The suggested correlation can characterize elasticity of the analyzed surface.
Mikroskop sił atomowych (ang. Atomic Force Microscope - AFM) został wynaleziony w 1986 roku [1] jako alternatywa dla skaningowego mikroskopu tunelowego (ang. Scanning Tunneling Microscope - STM), którego nie można użyć do badań nad materiałami nieprzewodzącymi. AFM umożliwia pomiary materiałów zanurzonych w cieczach, co pozwala badać żywe preparaty biologiczne w warunkach zbliżonych do ich naturalnego środowiska [2]. W artykule przedstawiono zasadę pracy mikroskopu (rys. 1) oddziaływującego siłami van der Waalsa (opisanymi funkcją Lennarda - Jonesa) między ostrzem skanującym a próbką (1) (rys. 2) [3]. Opisano trzy podstawowe tryby pracy mikroskopu: kontaktowy, przerywany [4-6] oraz bezkontaktowy (2). Opierając się na dotychczasowych badaniach [7] wyznaczających różne właściwości materiału w zależności od ich budowy (rys. 3, rys. 4) przebadano próbkę warystora (rys. 5) pod kątem obecności i poziomu kolejnych harmonicznych pobudzającej częstotliwości rezonansowej w odpowiedzi układu. Przeprowadzone pomiary wskazują, że może istnieć związek między intensywnością kolejnych harmonicznych, a właściwościami badanej powierzchni.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 12, 12; 1508-1510
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The MFM studies of the surface domain structure of Sm–Fe–Co–Zr–Cu thin ribbons
Autorzy:
Dośpiał, M
Nabiałek, M.
Szota, M
Michta, Ł
Wieczorek, P
Błoch, K
Pietrusiewicz, P
Oźga, K
Michalczyk, J
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/173524.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
atomic/magnetic force microscopy (AFM/MFM)
surface domain structure
melt spinning method
Sm–Co alloys
hard magnetic magnets
Opis:
The article contains studies of micro- and domain structures obtained using atomic/magnetic force microscopy (AFM/MFM) of melt-spun Sm12.5Fe8Co65.5Zr1Cu13 thin ribbons in the as-cast state. In order to obtain the SmCo8.5 type of structure in the Sm–Fe–Co–Zr–Cu alloy, thin ribbons were manufactured using the melt-spinning method with large linear velocity of a copper wheel and proper selection of alloying elements. The obtained samples in the as-cast state were magnetized. The microscopic results were also supported by magnetic measurements performed on a vibrating sample magnetometer as well as by a quantitative analysis of phase composition obtained using the Rietveld refinement method.
Źródło:
Optica Applicata; 2013, 43, 1; 195-200
0078-5466
1899-7015
Pojawia się w:
Optica Applicata
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The method to study inner cell wall surface using AFM
Autorzy:
Grelowski, M.
Natonik, S.
Kwiatkowska, D.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/79821.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
conference
cellulose microfibril
polysaccharide
protein
atomic force microscopy
cell wall
epidermis
sodium hypochlorite
sodium hydroxide
epidermal cell
Źródło:
BioTechnologia. Journal of Biotechnology Computational Biology and Bionanotechnology; 2013, 94, 3
0860-7796
Pojawia się w:
BioTechnologia. Journal of Biotechnology Computational Biology and Bionanotechnology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The implementation and the performance analysis of the multi-channel software-based lock-in amplifier for the stiffness mapping with atomic force microscope (AFM)
Autorzy:
Sikora, A.
Bednarz, Ł.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/201101.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
atomic force microscopy (AFM)
stiffness mapping
lock-in amplifier
software development
torsional oscilators
Opis:
In this paper the implementation of the surface stiffness mapping method with the dynamic measurement mode of atomic force microscopy (AFM) is presented. As the measurement of the higher harmonics of the cantilever’s torsional bending signal is performed, we are able to visualize non-homogeneities of the surface stiffness. In order to provide signal processing with the desired sensitivity and selectivity, the lock-in amplifier-based solution is necessary. Due to the presence of several useful frequencies in the signal, the utilization of several simultaneously processing channels is required. Therefore the eight-channel software-based device was implemented. As the developed solution must be synchronized with the AFM controller during the scanning procedure, the real-time processing regime of the software is essential. We present the results of mapping the surface stiffness and the performance tests results for different working conditions of the developed setup.
Źródło:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2012, 60, 1; 83-88
0239-7528
Pojawia się w:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The impact of the light exposure on the morphological properties of selected photoresists
Autorzy:
Sikora, Andrzej
Janus, Paweł
Sierakowski, Andrzej
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/174640.pdf
Data publikacji:
2019
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
photolitography
polymer degradation
atomic force microscopy
Opis:
In this paper we present the investigation aimed at the photoresist roughness change determination as a reliable estimator of the exposition rate in the processing verification in semiconductor industry. By employing atomic force microscopy as the 3D high resolution surface imaging tool, we tested twelve popular photoresists in terms of the morphological properties changes, while the following radiation doses were applied. Basing on high precision, and repetitive sample positioning, it was possible to perform the tests with high degree of confidence and observe the roughness change dynamics. Various profiles of roughness changes were observed, showing the need for individual study of each material. Moreover, it was possible to select the photoresists which due to poor homogeneity and small roughness changes are not suitable to such a verification. According to our knowledge, no such study was performed so far.
Źródło:
Optica Applicata; 2019, 49, 1; 177-185
0078-5466
1899-7015
Pojawia się w:
Optica Applicata
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The effect of Galleria mellonella hemolymph polypeptides on Legionella gormanii
Autorzy:
Chmiel, Elżbieta
Palusinska-Szysz, Marta
Zdybicka-Barabas, Agnieszka
Cytryńska, Małgorzata
Mak, Paweł
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1039350.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Polskie Towarzystwo Biochemiczne
Tematy:
Legionella gormanii
Galleria mellonella
apolipophorin III
Atomic Force Microscopy
Opis:
Among Legionella species, which are recognized to be pathogenic for humans, L. gormanii is the second prevalent causative agent of community-acquired pneumonia after L. pneumophila. Anti-L. gormanii activity of Galleria mellonella hemolymph extract and apolipophorin III (apoLp-III) was examined. The extract and apoLp-III at the concentration 0.025 mg/ml caused 75% and 10% decrease of the bacteria survival rate, respectively. The apoLp-III-induced changes of the bacteria cell surface were analyzed for the first time by atomic force microscopy. Our studies demonstrated the powerful anti-Legionella effects of the insect defence polypeptides, which could be exploited in drugs design against these pathogens.
Źródło:
Acta Biochimica Polonica; 2014, 61, 1; 123-127
0001-527X
Pojawia się w:
Acta Biochimica Polonica
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
TEM & AFM - Complementary Techniques for Structural Characterization of Nanobainitic Steel
TEM & AFM – komplementarne techniki charakteryzacji struktury nanobainitycznej
Autorzy:
Dworecka, J.
Jezierska, E.
Rębiś, J.
Rożniatowski, K.
Świątnicki, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/353216.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
transmission electron microscopy TEM
atomic force microscopy (AFM)
nanobainite
bearing steel
elektronowy mikroskop transmisyjny (TEM)
mikroskopia sił atomowych (AFM)
struktura nanobainityczna
stalowe łożyska
Opis:
The aim of this study was to analyse and to identify the phases which formed in 100CrMnSi6-4 bearing steel after the nanostructuring heat treatment. Especially designed thermal treatment parameters were applied in order to obtain a nanobainitic structure. Two different microscopic techniques were used for the precise examination of the microstructures obtained: transmission electron microscopy (TEM) and atomic force microscopy (AFM). Both analyses confirm that the examined steel has a nanocrystalline structure. However, it was discovered that the selected analysis methods affected the results of the plate thickness measurements.
Celem pracy była analiza struktury i identyfikacja faz powstałych podczas procesu nanostrukturyzacji stali łożyskowej 100CrMnSi6-4. Chcąc wytworzyć strukturę nanobainityczną przeprowadzono obróbkę cieplną o specjalnie dobranych parametrach. Następnie wykonano precyzyjną analizę otrzymanej mikrostruktury wykorzystując w tym celu dwie zaawansowane techniki mikroskopowe: transmisyjną mikroskopię elektronową (TEM) oraz mikroskopię sił atomowych (AFM). Badania wykonane obiema technikami potwierdziły, że badano stal o strukturze nanobainitycznej. Wykazano też, że zależnie od zastosowanej techniki badawczej otrzymano różnice w wartościach zmierzonych grubościach elementów struktury.
Źródło:
Archives of Metallurgy and Materials; 2015, 60, 3A; 1591-1593
1733-3490
Pojawia się w:
Archives of Metallurgy and Materials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Surface forces in chemical mechanical planarization and semiconductor wafer cleaning systems
Autorzy:
Hupka, Lukasz
Nalaskowski, Jakub
Miller, Jan D.
Hupka, Jan
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1853722.pdf
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Polskie Towarzystwo Chemiczne
Tematy:
chemical mechanical planarization
CMP
surface chemistry phenomena
colloidal probe
atomic force microscopy
AFM
Opis:
Superior uniformity and local planarity of semiconductor wafers in the chemical mechanical planarization (CMP) process as well as efficient post-CMP cleaning is controlled by surface chemistry phenomena. The AFM colloidal probe technique was used to demonstrate surface forces which are of special significance to CMP and post-CMP cleaning. Examples of ways to manipulate those interactions are provided, and the benefits to CMP processes and post-CMP cleaning are discussed.
Źródło:
Wiadomości Chemiczne; 2021, 75, 9-10; 1229-1240
0043-5104
2300-0295
Pojawia się w:
Wiadomości Chemiczne
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Surface analysis of long-term hemodialysis catheters made of carbothane (poly(carbonate)urethane) before and after implantation in the patients’ bodies
Autorzy:
Nycz, M.
Paradowska, E.
Arkusz, K.
Kudliński, B.
Krasicka-Cydzik, E.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/306579.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
chropowatość powierzchni
mikroskopia sił atomowych
mikroskopia skaningowa
surface roughness
atomic force microscopy
scanning electron microscopy
Catheter-tissue contact
film
Opis:
The vascular cannulation is associated with a number of complications. The aim of this work was to study the composition and distribution of the film covering the surfaces of Mahurkar Maxid and Palindrome catheters, which were removed from the body of long-term hemodialysis patients. Moreover, the roughness and contact angle of the catheters were evaluated. Methods: Two brand new (as a reference) and thirty used catheters were the subject of the study. Their implantation period lasted from 4 months to a year and the reason for removal was the production of another vascular access or obstruction. Surfaces were analyzed by scanning electron microscope, atomic force microscope and goniometer. Results: The inner surfaces of the used catheters were covered with a film of various complexity which includes a plurality of protein, blood cell counts and the crystals. The closer to the distal part the film becomes more complex and multi-layered. Even the surfaces of brand new catheter were not completely smooth. The only significant difference between analyzed models was the presence of thrombus in the distal part of Mahurkar Maxid catheters, not in the Palindrome. Conclusions: The distal part of the catheters is the place most exposed to obstruction and infection, which may be due to not reaching the anticoagulant agent into this part. Not only the occurrence of side holes affects the formation of thrombus, but also their quantity, geometry and distribution which effect on fluid mechanics. The surface of the catheters needs to improvement to minimize the occurrence of defects and cracks.
Źródło:
Acta of Bioengineering and Biomechanics; 2018, 20, 2; 47-53
1509-409X
2450-6303
Pojawia się w:
Acta of Bioengineering and Biomechanics
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Structural Aging and Degradation of Human Fingernail Plates Upon Cosmetic Agents
Autorzy:
Kulesza, S.
Bramowicz, M.
Gwoździk, M.
Wilczyński, S.
Goździejewska, A. M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/354662.pdf
Data publikacji:
2019
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
Atomic Force Microscopy
Scanning Electron Microscopy
fractal characterization
nanoscale property mapping
Opis:
The knowledge whether and how chemical species react with tissues is important because of protection against harmful factors, diagnose of dermatological diseases, validation of dermatological procedures as well as effectiveness of topical therapies. In presented work the effects of chemical agents on plates of human fingernails were studied using Atomic Force Microscopy and Scanning Electron Microscopy. Apart from that, mapping of the elastic properties of the nails was also carried out. To obtain reliable measures of spatial evolution of the surface variations, recorded images were analyzed in terms of scaling invariance brought by fractal geometry, instead of common though not unique statistical measures.
Źródło:
Archives of Metallurgy and Materials; 2019, 64, 1; 181-184
1733-3490
Pojawia się w:
Archives of Metallurgy and Materials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Simulation and measurements for the substance identification by AFM
Symulacja i pomiary substancji w identyfikacji za pomocą AFM
Autorzy:
Babicz, S.
Zieliński, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/266794.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
Tematy:
mikroskop sił atomowych
identyfikacja substancji
funkcja Leonarda-Jonesa
atomic force microscopy (AFM)
chemicals identification
Opis:
Due to nanotechnology development, there is a strong pressure on research in nanoscale in various environments. An Atomic Force Microscope (AFM) allows to investigate topography of the sample and give some information about it’s chemical composition. During the last two decades, the number of possible applications of AFM increased considerably. The AFM investigates the forces between the applied tip and the sample atoms. These forces are described by Lennard-Jones function. The paper presents a theoretical framework that explains a use of the AFM and presents the recorded signals, applied for substance characterization. Moreover, the preliminary results of the quartz surface measurements are enclosed. The presented way of the collected data analysis shows how to get parameters of the Lennard-Jones function, characteristic for the investigated sample.
W związku z rozwojem nanotechnologii, znacząco wzrosła potrzeba badań mikroskopijnych obiektów. Do takich celów służy mikroskop sił atomowych (AFM), który umożliwia badania topografii próbki oraz dostarcza informacji o jej składzie chemicznym. W ciągu ostatnich dwóch dekad liczba możliwych zastosowań AFM znacznie wzrosła. Mikroskop AFM bada siły oddziałujące między atomami igły skanującej a powierzchnią próbki. Siły te opisuje funkcja Lennard-Jonesa. W pracy przedstawiono teoretyczne podstawy działania mikroskopu sił atomowych oraz rejestrowane sygnały, służące do identyfikacji badanej substancji. Przykładowe badania wykonano na próbce kwarcu. Przyjęty sposób analizy danych pokazuje, jak uzyskać parametry funkcji Lennard-Jonesa, charakterystycznych dla badanej próbki.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2011, 30; 17-20
1425-5766
2353-1290
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Short Review : Probing Mechanical Properties of Individual Molecules with Atomic Force Spectroscopy
Krótki artykuł przeglądowy : badania mechanicznych właściwości pojedynczych cząsteczek przy pomocy spektroskopii sił atomowych
Autorzy:
Marszałek, P. E.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/159965.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:
Mikroskopia Sił Atomowych
Spektroskopia siłowa pojedynczych cząsteczek
biopolimery
nanomechanika
Atomic Force Microscopy
Single Molecule Force Spectroscopy
Nanomechanics
Polymer elasticity
Biopolymers
Opis:
W niniejszym krótkim artykule przeglądowym, na początku zwięźle opiszę zasady spektroskopii siłowej do badania mechanicznych właściwości pojedynczych cząsteczek przy użyciu mikroskopu sił atomowych. Następnie, omówię najważniejsze, moim zdaniem, odkrycia i obserwacje w tej tematyce, która rozwija się niezwykle dynamicznie przez ostatnie ponad 25 lat. W tej krótkiej pracy skupię się wyłącznie na omówieniu zastosowania spektroskopii siłowej do analizy właściwości elastycznych biopolimerów, takich jak DNA i polisacharydy, których badaniom poświęciłem istotną część mojej pracy naukowej w ostatnich dwóch dekadach. Omówienie mechaniki pojedynczych cząsteczek białek czytelnik może znaleźć w innych oryginalnych lub przeglądowych pracach autora jak również innych badaczy, które dostępne są w literaturze światowej.
In this short review I will first concisely describe the principles of single-molecule force spectroscopy (SMFS) for measuring the mechanical properties of individual polymeric molecules, as implemented on an Atomic Force Microscope (AFM) platform. Next, I will review a selected number of the most striking, in my opinion, discoveries and observations accumulated in this field of research that now spans over 25 years of dynamic growth. This selection will be limited to biomolecular systems such as DNA and polysaccharides (sugars) that for the last two decades were an important part of my own research. The mechanical properties of single protein molecules are described by the author or other researchers in numerous original or review papers that can be found in the world literature.
Źródło:
Prace Instytutu Elektrotechniki; 2018, 280; 7-24
0032-6216
Pojawia się w:
Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Wyświetlanie 1-15 z 63

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies