Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "AFM microscope" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-6 z 6
    Tytuł:
    The method and equipment for precision positioning of the scanner in an atomic force microscope
    Metoda i urządzenie do precyzyjnego pozycjonowania skanera w mikroskopie sił atomowych
    Autorzy:
    Zbrowski, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/256557.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
    Tematy:
    AFM microscope
    scanner
    initial approach
    harmonic drive
    eccentric mechanism
    mikroskop AFM
    skaner
    zbliżanie wstępne
    przekładnia falowa
    mechanizm mimośrodowy
    Opis:
    The article presents a method and equipment designed for an initial approach of a sample fixed at a table to a cantilever needle in the atomic force microscope. The presented solution is used in a microscope in which the scanning needle is positioned in the scanning head above the sample. Precise movement of the sample relative to the scanning needle is achieved by a piezoelectric tube. The solution described is designed for the initial approach of the piezoscanner tube with the sample attached under the cantilever needle. The final approach of the sample-needle system is done by manipulating the length of the piezotube. The solution of the initial approach uses an eccentric pushing mechanism with a harmonic drive and a stepper motor. The advantage of this solution is the quick motion of the effector while maintaining the high resolution and precision of positioning and elimination of backlash.
    W artykule przedstawiono opracowaną metodę i urządzanie do wstępnego zbliżania próbki zamocowanej na stoliku do igły cantilevera w mikroskopie sił atomowych. Prezentowane rozwiązanie jest stosowane w mikroskopie, w którym igła skanująca znajduje się w głowicy nad badaną próbką. Dokładne przemieszczanie próbki względem igły, w czasie procesu skanowania zapewnia rurka piezoelektryczna. Przedstawione rozwiązanie jest przeznaczone do wstępnego zbliżania rurki piezoskanera z zamocowaną próbką pod igłę cantilevera. Ostateczne zbliżenie układu próbka–igła jest wykonywane poprzez zmianę długości piezorurki. Opracowane rozwiązanie układu zbliżania wstępnego wykorzystuje mimośrodowy mechanizm popychaczowy z przekładnią falową i silnikiem krokowym. Zaletą rozwiązania jest bardzo szybki ruch efektora przy zachowaniu wysokiej rozdzielczości i precyzji pozycjonowania oraz wyeliminowanie luzu nawrotnego.
    Źródło:
    Problemy Eksploatacji; 2013, 3; 123-133
    1232-9312
    Pojawia się w:
    Problemy Eksploatacji
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Mikroskop STM/AFM do zastosowań badawczych w zaawansowanych technologiach w przemyśle oraz w dydaktyce szkół wyższych
    STM/AFM microscope for application in industrial advanced technologies and the high schools education
    Autorzy:
    Majcher, A.
    Mrozek, M.
    Zbrowski, A.
    Olejniczak, W.
    Pawłowski, S.
    Piskorski, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/256874.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
    Tematy:
    mikroskop STM/AFM
    magistrala VME
    konstrukcja modułowa
    microscope STM/AFM
    VME bus
    modular construction
    Opis:
    W artykule przedstawiono zagadnienia konstrukcyjne związane z budową i oprogramowaniem tunelowego mikroskopu skaningowego oraz mikroskopu sił atomowych. Opracowane urządzenie łączy obydwie funkcje, a dostosowanie do spełniania jednej z nich odbywa się przez wymianę jednej z części głowicy pomiarowej oraz uruchomienia odpowiedniego fragmentu oprogramowania. Z uwagi na przeznaczenie mikroskopu do badań przemysłowych oraz do nauczania podstaw nanotechnologii w szkołach wyższych zostały zastosowane rozwiązania ułatwiające obsługę, a zwłaszcza proces wstępnej regulacji aparatury. Dzięki zastosowaniu modularnej konstrukcji aparatury oraz oprogramowania możliwe jest przystosowanie urządzenia do dalszej rozbudowy rozszerzającej zakres aplikacji.
    Construction matters connected with software of scanning tunneling microscope and atomic force microscope have been presented in the article. Those presented devices connect both functions and adaptation of one of the functions which is held by an exchange of one of the parts of the measure heads and by setting an appropriate part of the software in motion. Taking into consideration the fact that the microscope is going to be used in industrial tests as well as to teach basis of nanotechnology at universities, some solutions that made the operation easier have been used - especially the process of initial regulation of the device. Thanks to the implementation of modular construction of the device and the software it is possible to accommodate the device to extend the range of applications.
    Źródło:
    Problemy Eksploatacji; 2011, 3; 177-188
    1232-9312
    Pojawia się w:
    Problemy Eksploatacji
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Ocena stanu powierzchni stali stosowanej na narzędzia chirurgiczne za pomocą mikroskopu sił atomowych (AFM)
    Evaluation of the surface condition of steel used for surgical instruments by means of atomic forces microscope (AFM)
    Autorzy:
    Gwoździk, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/284662.pdf
    Data publikacji:
    2009
    Wydawca:
    Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Polskie Towarzystwo Biominerałów
    Tematy:
    narzędzia chirurgiczne
    powierzchnia stali
    mikroskop sił atomowych (AFM)
    surgical instruments
    steel surface
    atomic force microscope (AFM)
    Opis:
    Prezentowana praca przedstawia wyniki badań stanu powierzchni stali X39Cr13 z gatunku stali stopowych odpornych na korozję stosowanych na narzędzia chirurgiczne. Badaną stal poddano obróbce cieplnej (hartowanie + odpuszczanie) oraz powierzchniowej (azotowanie jarzeniowe). Po zastosowanych obróbkach powierzchnię próbek analizowano za pomocą mikroskopu sił atomowych (AFM).Przeprowadzone badania pozwoliły na ocenę wpływu różnych wariantów obróbek na stan powierzchni poprzez parametr chropowatości.
    The paper presents results of surface condition examinations of X39Cr13 steel from the group of corrosion-resisting alloy steels used for surgical instruments. The tested steel was subject to heat (quenching + tempering) and surface (plasma nitriding) treatment. After the treatments applied the specimens surface was analysed by means of atomic forces microscope (AFM).The examinations carried out allowed evaluating the effect of various treatments’ variants on the surface condition through the roughness.
    Źródło:
    Engineering of Biomaterials; 2009, 12, no. 89-91; 74-76
    1429-7248
    Pojawia się w:
    Engineering of Biomaterials
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Interferometer-based scanning probe microscope for high-speed, long-range, traceable measurements
    Mikroskop z sondą skanującą na bazie interferometru do szybkich spójnych pomiarów małych przemieszczeń o dużym zakresie
    Autorzy:
    Vorbringer-Dorozhovets, N.
    Manske, E.
    Jäger, G.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/153193.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    nanopositioning and nanomeasuring machine
    metrological scanning probe microscope
    SPM
    AFM
    maszyna nanopozycjonująca i nanopomiarowa
    metrologiczny mikroskop z sondą skanującą
    Opis:
    The specialty of the metrological SPM-head is the combined deflection detection system for simultaneous acquisition of bending, torsion and position of the cantilever with one measuring beam. The deflection system comprises a beam deflection and an interferometer in such a way that measurements of the cantilever displacement are traceable to the SI unit metre. Integrated into a NPM machine scans with a resolution of 0.1 nm over a range of 25 mm × 25 mm are possible.
    W artykule przedstawiono wyniki dotyczące opracowanej i zrealizowanej w Ilmenau University of Technology (Niemcy) maszyny Nano-pozycjonującej (NPM), która zapewnia nanometrową rozdzielczość oraz niepewność 3D pozycjonowania oraz pomiaru w zakresie 25 mm × 25 mm × 5 mm. Jednym ze składowych elementów tej maszyny, od którego zależą jej własności metrologiczne, jest mikroskop z sondą skanującą (SPM) na bazie interferometru, którego koncepcję przedstawiono na (rys. 1). Wykonana według tej koncepcji głowica metrologicznego SPM została zintegrowana z NPM maszyny (rys. 2). Osobliwością głowicy SPM jest system dla jednoczesnej akwizycji ugięcia, skręcania i pozycji belki wspornikowej tylko z jednej wiązki światła (rys. 1). Zostały wykonane badania dokładności pozycjonowania i pomiaru przy różnych szybkościach skanowania obiektu badanego od 1 µm/s do 1 mm/s. Przykładowe wyniki skanowania przedstawiono na rys. 3, 4. W celu wyznaczania jakości tych wyników oraz kalibracji SPM został wykorzystany zestaw wzorców wysokości skokowych z Physikalisch-Technische Bundesanstalt – PTB (rys. 6), oraz wykonane w specjalny sposób wzorce testowych wskaźników odniesienia rozstawionych na stosunkowo dużych odległościach (rys. 7). Uzyskane z SPM wyniki pomiarów wzorców wysokości oraz niepewności tych wyników wykazały bardzo dobrą zbieżność z wartościami wielkości tych wzorców (tab. 1). Wyznaczona powtarzalność wyników jest na poziomie poniżej 0.2 nm. Bardzo dobre wyniki uzyskano przy pomiarach testowych wskaźników odniesienia, powtarzalność wyników pomiaru centrów współrzędnych wskaźników wynosi poniżej 5 nm (tab. 2).
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 2, 2; 69-72
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Analysis of the surface geometry of the orthodontic archwire and their influence on the bacterial adhesion
    Autorzy:
    Ziębowicz, B.
    Woźniak, A.
    Ziębowicz, A.
    Ziembińska-Buczyńska, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/366963.pdf
    Data publikacji:
    2019
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Komputerowej Nauki o Materiałach i Inżynierii Powierzchni w Gliwicach
    Tematy:
    archwires
    b-Ti
    AFM
    atomic force microscope
    SEM/EDS
    confocal microscopy
    pitting corrosion
    łuk ortodontyczny
    mikroskop sił atomowych
    mikroskopia konfokalna
    korozja wżerowa
    Opis:
    Purpose: The aim of this work is to characterize the surface geometry of the orthodontic archiwire and their influence of the pitting corrosion resistance and bacterial adhesion. Design/methodology/approach: In the paper, the results of the SEM/EDS analysis and microscopic observation of the samples surface and analysis of geometrical structure with the use Atomic Force Microscope (AFM) and Confocal Microscopy were presented as well as the pitting corrosion test and surface roughness and microhardness measurements were performed. Additionally the microbiological study after bacterial breeding with the use Scanning Electron Microscope was carried out. Findings: In the basis of the investigation, it can be concluded that the surface geometry of archwire has a significant impact on their pitting corrosion resistance in artificial saliva solution and on the bacterial adhesion. The obtained results show satisfactory properties and surface geometry of the tested orthodontic wires for use in the human oral environment. Research limitations/implications: In the future, it is planned to extend the research with physicochemical properties and the influence of oral hygiene products on the corrosive behaviour of the material. Limitations in the conducted tests refer to archwire design – a small diameter making measurements difficult. Practical implications: The oral environment is an extremely aggressive corrosive environment. The orthodontic elements should have very good corrosion resistance and biocompatibility. The focus should be on continuously improving orthodontic wires in terms of material quality and topography of its surface topography. Originality/value: The research is conducted in the field of biomedical engineering, which is part of material engineering and is used for the field of dentistry and microbiology.
    Źródło:
    Journal of Achievements in Materials and Manufacturing Engineering; 2019, 93, 1-2; 32-40
    1734-8412
    Pojawia się w:
    Journal of Achievements in Materials and Manufacturing Engineering
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-6 z 6

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies