Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Völlmeke, S." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Initial Roughness and Relaxation behaviour of MBE Grown ZnSe/GaAs
Autorzy:
Buda, B.
Leifeld, O.
Völlmeke, S.
Schmilgus, F.
As, D. J.
Schikora, D.
Lischka, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1952466.pdf
Data publikacji:
1996-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.55.-a
Opis:
We investigated the GaAs/ZnSe interface and the influence of the Ga$\text{}_{2}$Se$\text{}_{3}$ formation at the GaAs/ZnSe interface on the relaxation of the ZnSe epilayer using reflection high-energy electron diffraction, atomic force microscope, photoluminescence, and X-ray diffraction techniques. An improvement of the surface roughness due to the cleaning of the GaAs substrate with hydrogen excited in a plasma source and a higher critical thickness of GaAs(001)/ZnSe due to the suppression of Ga$\text{}_{2}$Se$\text{}_{3}$ at the surface was observed.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1996, 90, 5; 997-1001
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies